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【熱門活動】2025年基礎電子測試測量方案培訓

【熱門活動】2025年基礎電子測試測量方案培訓

2025年基礎電子測試測量方案培訓，第一課：數(shù)字萬用表實操基礎；第二課：直流電源與信號源操作；第三課：示波器基礎操作；第四課：示波器進階與儀器聯(lián)動

ARM核心板在溯源秤中的應用

摘要：食品安全日益被人們重視，采用ARM核心板設計的溯源秤，則可實現(xiàn)日常消費的肉菜溯源追蹤，了解其產(chǎn)地、生長過程、流通環(huán)節(jié)、檢驗檢疫等信息。

發(fā)表于：2015/7/2

雙劍合璧，矢量網(wǎng)絡分析儀+頻譜分析功能

2015 年 7 月 1 日，北京――是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布推出新的功能選件，旨在為 PNA 和 PNA-X 系列微波矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）添加高性能頻譜分析儀功能。作為業(yè)界首創(chuàng)，此功能選件可以將測試速度加快 10 到 500 倍。VNA 綜合此功能后，即可在表征衛(wèi)星設備、國防電子器件和商用無線器件中的 S 參數(shù)、壓縮和失真之余，還執(zhí)行高速雜散測量，從而簡化系統(tǒng)連接，節(jié)省測量時間。

發(fā)表于：2015/7/1

新唐推出業(yè)界領先內(nèi)建2組獨立模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC) 及運算放大器(OPA)之NuMicro® M0519系列

臺灣新竹 –2015/6/29 –新唐科技強勢推出業(yè)界領先內(nèi)建2組獨立模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)及運算放大器(OPA)之NuMicro® M0519系列。新唐科技本次推出之M0519系列微控制器內(nèi)建2組獨立16信道模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-Digital Converter, DAC)，讓研發(fā)者實現(xiàn)高速同步采樣，快速量測電流及電壓，以獲得實時且極精準之信息；此內(nèi)建設計相較于市面上外掛模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器方案，除為客戶帶來迅速與精準量測之功能優(yōu)勢，并可進一步節(jié)省系統(tǒng)成本。另M0519系列內(nèi)嵌2組運算放大器，于濾除噪聲與放大信號上有絕佳表現(xiàn)。基于上述特點，NuMicro® M0519系列將協(xié)助客戶搶攻電力電機相關(guān)、數(shù)字與工業(yè)控制、工業(yè)自動化及掃地機器人等應用市場。

發(fā)表于：2015/6/30

具有 EEPROM 的通用型溫度傳感器 IC 面向模塊化及定制傳感器系統(tǒng)

加利福尼亞州米爾皮塔斯 (MILPITAS, CA) – 2015 年 6 月 29 日 – 凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出一款高性能數(shù)字溫度測量 IC LTC2984，該器件可直接對電阻式溫度檢測器 (RTD)、熱電偶、熱敏電阻和外部二極管進行數(shù)字化處理，并具有 0.1°C 的準確度和 0.001°C 的分辨率。 LTC2984 以凌力爾特的 LTC2983 為基礎，增加了用于存儲用戶配置數(shù)據(jù)和定制傳感器系數(shù)的 EEPROM (電可擦除可編程只讀存儲器)。通過增添 EEPROM 免除了借助一個主機處理器進行任何 IC 或傳感器編程的需要，而且有利于使用自含式溫度檢測電路板或模塊。LTC2984 與 LTC2983 具有引腳和軟件兼容性。LTC2984 中的非易失性存儲器可簡化設計，并提高模塊化及定制傳感器系統(tǒng)的可靠性。

發(fā)表于：2015/6/30

2015年中國電子展展商巡禮：虹威科技

2015年中國(成都)電子展將于7月16日-18日在成都世紀城新國際會展中心舉行。屆時，成都虹威科技有限公司(簡稱虹威科技)將攜帶其最新ICT在線測試儀等產(chǎn)品亮相本屆展會。

發(fā)表于：2015/6/30

2015年中國電子展展商巡禮：同惠電子

2015年中國(成都)電子展將于7月16日-18日在成都世紀城新國際會展中心舉行。屆時，常州同惠電子股份有限公司將亮相本屆展會，并推出高速精密電容測試儀、直流偏置電流源等新產(chǎn)品及科研成果。

發(fā)表于：2015/6/30

“互聯(lián)網(wǎng)+”重塑產(chǎn)業(yè)格局元器件新產(chǎn)品亮相成都電子展

當前， “互聯(lián)網(wǎng)+”正代表一種新的經(jīng)濟形態(tài)，將互聯(lián)網(wǎng)與傳統(tǒng)行業(yè)相結(jié)合，不斷創(chuàng)造出新產(chǎn)品、新業(yè)務與新模式。在這樣的產(chǎn)業(yè)背景之下，業(yè)界對電子元器件的發(fā)展更加關(guān)注。專家指出，電子元器件處于電子信息產(chǎn)業(yè)鏈上游，是通信、計算機及網(wǎng)絡、數(shù)字音視頻等系統(tǒng)和終端產(chǎn)品發(fā)展的基礎，對電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起著至關(guān)重要的作用。

發(fā)表于：2015/6/30

愛德萬測試發(fā)布首個光收發(fā)器整體測試解決方案，推動數(shù)據(jù)中心和網(wǎng)絡市場的增長

全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試近日發(fā)布了首個為光收發(fā)芯片測試研發(fā)的解決方案——新型28G OPM（光纖端口測試模塊）。光收發(fā)芯片是一種通過光纖實現(xiàn)接收和發(fā)送數(shù)據(jù)的高端半導體芯片。和傳統(tǒng)線纜傳輸相比，光收發(fā)芯片在遠距離傳輸中能實現(xiàn)更高的速度和更小的功率損耗。這種技術(shù)具有廣闊的應用前景，比如可應用在移動通信和云計算領域等需要管理大量數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)中心。

發(fā)表于：2015/6/29

愛德萬測試發(fā)表全新多功能存儲器測試系統(tǒng)T5833 同時支持Mobile DRAM與NAND閃存測試

2015年6月16日，全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833，新系統(tǒng)同時支持DRAM與NAND閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試，可滿足低成本大規(guī)模量產(chǎn)測試需求。T5833預定本月開始出貨。

發(fā)表于：2015/6/29

示波器實操視頻之35：第N邊沿觸發(fā)

N，不僅僅是個英文字母，我們更多地是把它當成代表某個值的數(shù)字，今天，我們將N賦值，在ZDS2022示波器上實現(xiàn)一個強大的功能！

發(fā)表于：2015/6/29