《電子技術應用》
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一種安全可控的SoC可測性設計

2007-08-28
作者:王新成,孫宏,蔡吉仁,楊義先

摘要:提出了一種安全可控的可測性設計" title="可測性設計">可測性設計DFT(Design For Test)。DFT既能夠完成對SoC的測試,又能保障SoC自身敏感信息和關鍵技術的安全。

關鍵詞:可測性設計 集成電路 微系統(tǒng)芯片

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一種安全可控的SoC 可測性設計.pdf

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