《電子技術(shù)應(yīng)用》
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集成運算放大器參數(shù)測試儀校準裝置
摘要: 集成運算放大器(以下簡稱集成運放)以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點廣泛應(yīng)用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng),是構(gòu)成智能武器裝備電子系統(tǒng)的關(guān)鍵器件之一。近年來,隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成運放無論在技術(shù)性能上還是在可靠性上都日趨完善,并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用,其質(zhì)量的好壞,關(guān)系到具體工程乃至國家的安危。
Abstract:
Key words :

       集成" title="集成">集成運算放大器(以下簡稱集成運放)以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點廣泛應(yīng)用于眾多軍用和民用電子系統(tǒng),是構(gòu)成智能武器裝備電子系統(tǒng)的關(guān)鍵器件之一。近年來,隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成運放無論在技術(shù)性能上還是在可靠性上都日趨完善,并在我國軍用系統(tǒng)中被大量使用,其質(zhì)量的好壞,關(guān)系到具體工程乃至國家的安危。

  隨著集成運算放大器參數(shù)測試儀" title="參數(shù)測試儀">參數(shù)測試儀(以下簡稱運放測試儀)在國防軍工和民用領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,其質(zhì)量問題顯得尤為重要。傳統(tǒng)的運放測試儀校準方案已不能滿足國防軍工的要求,運放測試儀的校準問題面臨嚴峻的挑戰(zhàn)。因此,如何規(guī)范和提高運放測試儀的測試精度,保證軍用運放器件的準確性是目前應(yīng)該解決的關(guān)鍵問題。

  目前,國內(nèi)外運放測試儀(或者模擬器件測試系統(tǒng))主要存在以下幾種校準方案:校準板法、標準樣片法和標準參數(shù)模擬法。

  比較以上三種方案可知,前兩種方法只是校準儀器內(nèi)部使用的PMU單元、電流源、電壓源等,并不涉及到儀器本身閉環(huán)測試電路部分,局限性很大,很難保證運放測試儀的集成運放器件參數(shù)測試精度。而標準參數(shù)模擬法直接面向測試夾具,其校準方法具有一定可行性,只是在校準精度、通用性、測試自動化程度等方面需要進一步的研究。因此,通過對標準參數(shù)模擬法加以改進,對運放測試儀進行校準,開發(fā)出集成運放參數(shù)測試儀校準裝置,在參數(shù)精度和校準范圍上,能滿足國內(nèi)大多數(shù)運放測試儀;在通用性上,能夠校準使用“閉環(huán)測試原理”的儀器。

  系統(tǒng)性能要求

  本課題的主要任務(wù)是通過研究國內(nèi)外運放測試儀的校準方法,改進實用性較強的標準參數(shù)模擬法,用指標更高的參數(shù)標準來校準運放測試儀,實現(xiàn)運放測試儀的自動化校準以及校準原始記錄、校準證書的自動生成等。

  校準裝置的硬件設(shè)計方案

  校準方案覆蓋了市場上運放測試儀給出的大部分參數(shù),其中包括輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等10個參數(shù)。通過研究集成運放參數(shù)“閉環(huán)測試原理”可知:有的參數(shù)校準要用到“閉環(huán)測試回路”,有的直接接上相應(yīng)的標準儀器進行測量即可實現(xiàn)對儀器的校準。對于用到“閉環(huán)測試回路”的幾個參數(shù)而言,主要通過補償電源裝置和模擬電源裝置來校準。

  1 校準電路設(shè)計

  輸入失調(diào)電壓VIO的定義為使輸出電壓為零(或者規(guī)定值)時,兩輸入端所加的直流補償電壓。集成運放可模擬等效為輸入端有一電壓存在的理想集成運算放大器。通過調(diào)節(jié)補償電源裝置給輸入一個與VIO電壓等量相反的電壓V補,輸入就可等效為V=VIO+V補=0,則被測集成運放與接口電路等效為一輸入失調(diào)電壓為零的理想運算放大器。然后,調(diào)節(jié)模擬電源裝置,給定模擬標準運放輸入失調(diào)電壓參數(shù)值。通過數(shù)字多用表讀數(shù)與被校運放測試儀測試值比較,計算出誤差值,完成VIO參數(shù)校準。

  2 單片機控制電路設(shè)計

  單片機采用AT89S51,這是一個低功耗、高性能CMOS 8位單片機,片內(nèi)含可反復(fù)擦寫1000次的4kB ISP(In-system programmable) Flash ROM。其采用ATMEL公司的高密度、非易失性存儲技術(shù)制造,兼容標準MCS-51指令系統(tǒng)及80C51引腳結(jié)構(gòu),集成了通用8位中央處理器和ISP Flash存儲單元。

  本設(shè)計中,采用單片機控制信號繼電器來實現(xiàn)電路測試狀態(tài)轉(zhuǎn)換,信號繼電器選用的是HKE公司的HRS2H-S-DC5V,能夠快速完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換,只需單片機5V供電電源即可,便于完成參數(shù)的校準。此外,繼電器跳變由PNP三極管S8550來驅(qū)動完成。

  3 液晶顯示電路設(shè)計

  智能彩色液晶顯示器VK56B是上海廣電集團北京分公司的產(chǎn)品,具有體積小、功耗低、無輔射、壽命長、超薄、防振及防爆等特點。該LCD采用工業(yè)級的CPU,機內(nèi)配置有二級字庫,可通過串口或三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口接收控制命令數(shù)據(jù),并自行對接收的命令和數(shù)據(jù)進行處理,以實時顯示用戶所要顯示的各種曲線、圖形和中西文字體。AT89S51與智能化液晶VK56B的接口電路如圖3所示。單片機與LCD采用并行通信設(shè)計,LCD自身具有一個三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口(并口為CMOS電平),可以同主機進行通信。它外部有12條線同單片機相連,即D0~D7、WRCS、BUSY、INT和GND。其中,WRCS為片選信號和寫信號的邏輯或非,上升沿有效;BUSY信號為高(CMOS電平)表示忙;INT為中斷申請信號,低電平有效。

  集成運放參數(shù)測試儀校準裝置軟件設(shè)計

  軟件部分包括上位機軟件和下位機軟件設(shè)計。上位機軟件完成PC與單片機的通信以及校準數(shù)據(jù)處理等工作;下位機軟件即單片機源程序。本設(shè)計使用Keil C完成測試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換、與上位機串行通信以及測試參數(shù)的實時顯示等。
 

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