《電子技術(shù)應(yīng)用》
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DDS信號源在掃頻測試的應(yīng)用
普源精電
章榮成
摘要: 電子設(shè)計中經(jīng)常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試,這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等,而最常見的就是DUT的幅頻特性。
Abstract:
Key words :
</a><DUT" title="DUT">DUT" title="DUT">DUT)傳輸特性的測試,這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等,而最常見的就是DUT的幅頻特性。

  最初,對于DUT的幅頻特性的測試是在固定頻率點上逐點進(jìn)行。這種測試方法繁瑣、費時,且不直觀,有時還會得出片面的結(jié)果。例如,測量點之間的諧振現(xiàn)象和網(wǎng)絡(luò)特性的突變點常常被漏掉。

  DDS(DirectDigitalSynthesis)技術(shù)是1971年3月由美國學(xué)者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出,這是一種從相位概念出發(fā)直接合成所需要波形的全數(shù)字頻率合成技術(shù),原理框圖如下:

圖表1DDS技術(shù)原理框圖

圖表1DDS技術(shù)原理框圖

  DDS技術(shù)的出現(xiàn)使得我們對于幅頻特性的測試變得異常簡單。我們只需要按照某種規(guī)律不斷的配置“頻率碼K”,就能夠得到一個頻率隨時間按照此規(guī)律在一定頻率范圍內(nèi)掃動的信號,如此即可對DUT進(jìn)行快速、定性或定量的動態(tài)測試。因此,對DUT的調(diào)整、校準(zhǔn)及故障排除提供了極大的便利。
北京普源精電(RIGOL)最新推出的DG5000系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS直接數(shù)字合成技術(shù),可生成穩(wěn)定、精確、純凈和低失真的輸出信號。本文僅以DG5000為例來詳細(xì)說明DDS信號源掃頻測試中的具體應(yīng)用。

1.DG5000提供1uHz~250MHz的掃頻范圍;
2.掃頻類型支持“線性掃頻”、“對數(shù)掃頻”和“步進(jìn)掃頻”;
3.掃頻時間1ms~300s,同時支持“返回時間”、“起始保持”和“終止保持”的設(shè)置;
4.觸發(fā)方式包括“自動觸發(fā)”、“外部觸發(fā)”和“手動觸發(fā)”;
5.支持“標(biāo)記頻率”的設(shè)置,可以輕易表示出掃頻信號任意點的頻率值。

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