《電子技術應用》
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电容网络对射频SOI开关功率承受能力影响研究
电子技术应用
刘张李
上海华虹宏力半导体制造有限公司
摘要: 通过比较分析研究电容网络对射频SOI开关功率承受能力的影响,主要包括射频开关晶体管源极与漏极之间的横向耦合电容Cdsn和射频开关源极与漏极节点到GND的纵向耦合电容Cgndn。研究内容包括射频开关堆叠结构Cdsn/Cgndn逐步变化,前两级Cdsn/Cgndn电容值大小,前N级Cdsn/Cgndn电容网络对射频开关插入损耗、隔离度和功率承受能力的影响,研究结果为射频开关电路设计提供参考。
中圖分類號:TN432 文獻標志碼:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.246217
中文引用格式: 劉張李. 電容網絡對射頻SOI開關功率承受能力影響研究[J]. 電子技術應用,2025,51(7):36-40.
英文引用格式: Liu Zhangli. Effects of capacitor network on power handling capability of RF SOI switch[J]. Application of Electronic Technique,2025,51(7):36-40.
Effects of capacitor network on power handling capability of RF SOI switch
Liu Zhangli
Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corporation
Abstract: The effects of capacitor network on power handling capability of Radio-Frequency Silicon-On-Insulator (RF SOI) switch were comprehensively investigated in this work, including the horizontal coupling capacitor Cdsn between the RF Switch Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor (MOSFET) drain-to-source, and the vertical coupling capacitor Cgndn between the RF Switch MOSFET drain/source-to-gnd. The impacts of stack structure with gradual change Cdsn/Cgndn, larger 1st/2nd stage Cdsn/Cgndn and larger N stage Cdsn/Cgndn capacitor network on RF switch insertion loss, isolation and power handling capability was discussed in detail. The result can be reference as RF switch circuit design.
Key words : RF switch;power handling capability;capacitor network

引言

射頻SOI(Silicon-On-Insulator)開關具有低插入損耗、高隔離度、高線性度和高功率處理能力,基本上已完全替代GaAs,成為射頻開關主流產品。文獻[1-7]研究了不同設計SOI射頻開關性能。文獻[8]研究大功率模式下襯底網絡模型對大信號建模的影響,并給出了SOI襯底橫向電阻電容網絡和縱向電阻電容網絡的建模方法,文章主要研究對象為SOI襯底。文獻[9]研究了首兩級在柵極與漏極增加電容對射頻開關處理能力的影響。文獻[10]研究了不同設計參數(shù)對SOI射頻開關小信號的影響。從已有參考文獻來看,系統(tǒng)分析射頻開關源極與漏極之間的橫向耦合電容Cdsn和射頻開關源極/漏極節(jié)點到GND的縱向耦合電容Cgndn對射頻開關功率承受能力影響鮮有報道。


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作者信息:

劉張李

(上海華虹宏力半導體制造有限公司,上海 201203)


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