中國北京，2023年5月6日——為持續(xù)推進我國半導體與集成電路產(chǎn)業(yè)的前沿探索和核心技術攻關，探討行業(yè)最新創(chuàng)新進展和發(fā)展趨勢，2023中國電子學會【全國電子信息青年科學家論壇之第四屆半導體青年學術會議】于2023年5月4日至7日在上海市召開。會議以“半導體前沿技術與集成電路設計”為主題，會議內(nèi)容包括主論壇、青年學者沙龍和專題論壇三大板塊，其中專題論壇將圍繞半導體領域十四個關鍵研究方向分專題進行學術交流。

　　作為一家全球領先的測試、測量和監(jiān)測解決方案知名品牌，泰克近年來與客戶、合作伙伴聯(lián)手一道解決前沿探索過程中的種種難題，助力半導體與集成電路行業(yè)的技術發(fā)展和革新。在【第四屆半導體青年學術會議】期間，泰克將集中展示最新測試方案，為神經(jīng)形態(tài)器件與腦類計算、低維半導體材料測試、半導體量子器件測試等前沿研究提供全面領先解決方案。

　　為神經(jīng)元網(wǎng)絡測試提供定制化開發(fā)和集成

　　類腦計算是借鑒神經(jīng)科學處理信息的基本原理，面向人工智能，發(fā)展新的非馮諾依曼計算的新技術，類腦計算的基礎是人工神經(jīng)元網(wǎng)絡。 人工神經(jīng)元網(wǎng)絡是由大量處理單元互聯(lián)組成的非線性、自適應信息處理系統(tǒng)，它通常是由新型高速非易失存儲 器組成的陣列構成，新一代高速存儲 器包括阻變存儲器、相變存儲器、鐵電存儲器等兩端器件和半浮柵晶體管，電解質柵晶體管等三端器件。

　　神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列維數(shù)越高，拓撲越復雜，所需的測試通道就越多，測試成本也越高，測試流程也會變得更復雜。最新的研究成果顯示，神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列研究已經(jīng)達到 32x32 三端器件節(jié)點組成的陣列，并在短期內(nèi)有向更高的維度發(fā)展的趨勢。 由于神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列測試系統(tǒng)價格昂貴，連接及流程控制復雜，通常的解決方法是用 FPGA 搭建測試裝置，但測試精度以及權威性都無法與由專業(yè)的高精度測試儀器組成的測試系統(tǒng)相提并論。

　　對適當維數(shù)的神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列，如 32x32 兩端節(jié)點或 16x16 三端節(jié)點陣列，用高精度測試儀器搭建測試系統(tǒng)的價格還是可以接受的。測試系統(tǒng)的優(yōu)點在于它不僅能夠進行功能性測試，還能以極高的測試精度完成神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列的訓練，深度學習等方面的研究探索。

　　神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列測試，首先需要根據(jù)被測節(jié)點的表征參數(shù)選擇合適的測試儀器，其次還要根據(jù)被測陣列的芯片管教布局定制探卡，最后要根據(jù)測試項目定制軟件，實現(xiàn)自動化測試。泰克憶阻器/神經(jīng)元網(wǎng)絡測試系統(tǒng)包含單元測試及陣列測試兩大類，每一大類又包含不同的配置以滿足不同研究階段的測試需求。泰克公司中國研發(fā)中心可以為這一領域的客戶提供定制開發(fā)及系統(tǒng)集成。

　　泰克神經(jīng)元網(wǎng)絡陣列測試系統(tǒng) S500，可以被定制為以下三種配置：

　　1.兩端器件陣列通用測試方案：a. 全定制化；b. 基于 26 系列源表；c. 最高 32x32。

　　2. 三端器件陣列通用測試方案：a. 全定制化；b. 基于 26 系列源表；c. 最高 16x16。

　　3. 極端化表征陣列測試方案：a. 全定制化；b. 適用于兩端及三端器件陣列；c. 最高 8x8；d. 基于 26 系列源表、AWG5208 和 MSO68B。

　　應對二維/石墨烯材料及電子器件測試挑戰(zhàn)

　　電阻率及霍爾效應測試均是加流測壓的過程，需要設備能輸出電流并且測試電壓，這意味著同時需要電流源和電壓表，并且電流源和電壓表精度要高，保證測試的準確性。

　　電阻率及電子遷移率通常范圍較大，需要電流電壓范圍都很大的設備。 同時，還需與探針臺配合，測試設備需方便連接，需易用的軟件。另外，霍爾效應測試時，通常要準備霍爾條 （Hall Bar）。

　　電輸運測試方案助力半導體量子器件測試

　　除了低電平測試儀器，通常電輸運測試還要配置 SMU 作為直流激勵源。特殊情況下還需要 AFG 作為交流激勵源，采集卡或示波器用于采集鎖放輸出信號。如果測試介電常數(shù)，還需配置靜電計。 高頻輸運特性的研究是電輸運特性測試的發(fā)展方向，研究高頻輸運特性時，需配置帶寬達 GHz 的任意波形發(fā)生器。

　　單一被測樣品測試方案 —— 6221/2182A 一套 ，24XX 或 26XX 一臺 ，選配 （ 各一臺 ） ：AFG31252、2002 八位半數(shù)字萬用表、6514 或 6517 或 6430（ 測試介電常數(shù)）。

　　高頻輸運特性測試方案 —— 高頻輸運特性測試， 在一般輸運特性配置基礎上，需增配 AWG 系列任意波形發(fā)生器。泰克提供 AWG5200 及 AWG70000 系列任意波形發(fā)生器。

　　除此之外，泰克還為半導體自旋電子器件與物理測試、半導體光電子材料與器件測試、化合物半導體器件與集成測試、柔性電子器件與應用測試、半導體傳感器與微納機電系統(tǒng)測試、集成電路設計與EDA測試、集成芯片與先進封裝、半導體邏輯/存儲器件與集成測試等提供更多半導體測試解決方案。

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