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日本電產(chǎn)理德推出半導體高速檢測裝置“NATS-1000”

2022-12-26
來源:電子產(chǎn)品世界

日本電產(chǎn)理德株式會社推出了全自動在線半導體檢測裝置“NATS-1000”,用于汽車級IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor :絕緣柵雙極晶體管)/SiC(Silicon Carbide:碳化硅)模塊的功能測試。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/202212/442056.htm

 

1.  開發(fā)的背景及特征

近年來,對車用功率器件(半導體元件)的需求迅速增長。日本電產(chǎn)理德的“NATS-1000”最初是在母公司日本電產(chǎn)株式會社(以下簡稱“日本電產(chǎn)”)的集團公司進行自制化,從重視可追溯性的汽車廠商的角度出發(fā),為了優(yōu)化成本、品質和檢測速度而開發(fā)的產(chǎn)品。該裝置目前被用于以驅動電機系統(tǒng)“E-Axle”為代表的、日本電產(chǎn)的半導體檢測,為集團公司的產(chǎn)品生產(chǎn)提供支持?!癗ATS-1000”在全球同類檢測裝置中具有高速級的檢測速度,具有車用模塊高低溫溫度試驗及在線檢測所需的高速檢測速度。

由于汽車免不了要在炎熱的惡劣環(huán)境中使用,因此在高溫環(huán)境下進行檢測也是對于車用IGBT/SiC模塊的一項標準,溫度控制、溫度管理是必須具備的重要功能?!癗ATS-1000”配備了可在150℃~175℃的高溫環(huán)境下實現(xiàn)靜態(tài)特性和動態(tài)特性試驗的升溫槽和常溫冷卻槽,可根據(jù)不同模塊型號的熱容量維持檢測速度。

“NATS-1000”將每次檢測分為室溫絕緣、高溫靜態(tài)、高溫動態(tài)和室溫靜態(tài)這四種狀態(tài),通過分散檢測及并行檢測,確保檢測的高速性,從而有助于提高生產(chǎn)率。此外,經(jīng)換算,每臺檢測裝置每年可供80萬臺6in1*1IGBT 模塊檢測使用,具有出色的性價比,還可靈活應對因汽車行業(yè)對功率半導體的需求增加而不斷擴大的檢測能力。  

2.  今后的計劃

目前,該檢測裝置主要支持汽車級6in1*1IGBT的形狀,今后將根據(jù)EV定制化、多品種的要求,不斷擴充可在短時間內對應機型變更的套件。由此,在汽車級產(chǎn)品中,能更加靈活地支持SiC-MOSFET(Silicon Carbide:碳化硅 Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor:金屬-氧化物半導體場效應管)等小型模塊。由此,使該檢測裝置可支持如電機、EV用變頻器、高速電動車充電器、空調以及不間斷電源(UPS)等更多的應用,通過有效利用裝置來滿足降低成本的需求。

未來,日本電產(chǎn)集團將通過各種關聯(lián)產(chǎn)品的自制化,不斷提供創(chuàng)新型解決方案,通過電機產(chǎn)品的節(jié)能化抑制電力消費,從而為減輕地球環(huán)境負荷做出貢獻。 

*1 6 in 1:IGBT 和 FWD(Free Wheel Diode) 各內置6個



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