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光腔衰蕩法CRD高反射率測量系統(tǒng)

2022-12-19
來源:昊然偉業(yè)

德國IPHT

2345截圖20221219220227.png

CRD高反射率測量系統(tǒng)

  一、 CRD光腔衰蕩測量高反射率原理

  1. 高反射率測量現(xiàn)狀

精確檢測激光腔鏡的反射率是研制高反射率腔鏡的前提, 而現(xiàn)有的反射率檢測方法, 如光透射法,多次反射法等,對于高反射率(R>99.7%)已經(jīng)不能給出準(zhǔn)確的測量結(jié)果。光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)測量高反鏡反射率是近年來興起的新技術(shù), 它通過對指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號的檢測, 消除了傳統(tǒng)檢測方法中激光能量起伏所引起的誤差, 測量精度大為提高, 尤其對于反射率大于99.9%的腔鏡測量具有更好的效果。

2. CRD高反射率測量原理

當(dāng)一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi),忽略衍射及散射損耗,單色脈沖光在兩個腔鏡之間往返振蕩,每經(jīng)過一次循環(huán)透射出部分光,探測器通過接收光脈沖信號得到其以單指數(shù)形式衰減。

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τ為衰蕩時間,指光子出射脈沖光強(qiáng)衰減為初始光強(qiáng)的1/e時經(jīng)歷的時間。C代表光速,L是代表腔長,RM是兩個腔鏡的幾何平均反射率,散射V和吸收系數(shù)α忽略不計(jì)。則,衰蕩時間τ表示為:

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從公式上可知,腔內(nèi)損耗越小,反射率越高,衰蕩時間越長。

要計(jì)算待測樣品的反射率R,需要知道參考片的反射率Rref (詳見參考片說明部分),則

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   二、 德國IPHT CRD高反射率測量系統(tǒng)

    1. 德國IPHT介紹

IPHT Jena 成立于 2002 年,總部位于德國 Jena 。該研究院在醫(yī)療、環(huán)境、安全、生產(chǎn)和能量的改進(jìn)方面提 出了多種光學(xué)方法。大約有 250 名科研人員致力于系統(tǒng)方案的研究,并形成了多種應(yīng)用方案 IPHT 獨(dú)有的科學(xué)技術(shù),同時,為耶拿及周邊城市的發(fā)展起到了不可或缺的作用。

IPHT 中大多數(shù)科學(xué)家也是圖林根大學(xué)的教育者和學(xué)者。 IPHT 的各學(xué)科、知名人士及綜合科研能力共同促進(jìn)了其教育機(jī)構(gòu)和學(xué)術(shù)交流的發(fā)展,如生物診斷學(xué)、薄膜光電等。

2. CRD系統(tǒng)介紹

36.jpg

系統(tǒng)包含:

1. 激光光源

2. 光學(xué)零部件

3. A/D轉(zhuǎn)換器

4. 探測系統(tǒng)

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