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CTO專訪:合見工軟深化產(chǎn)品布局 加速國產(chǎn)EDA技術革新

2022-06-29
來源:合見工軟
關鍵詞: 合見工軟 EDA

作為貫穿于集成電路設計、制造、封測等環(huán)節(jié)的戰(zhàn)略基礎支柱之一,EDA已成為國內(nèi)無法繞開的“卡脖子”環(huán)節(jié),也是國內(nèi)半導體業(yè)必須攻克的環(huán)節(jié)。

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近年來,隨著國家政策、資本以及生態(tài)的多重利好助力,國內(nèi)EDA產(chǎn)業(yè)步入快車道,國產(chǎn)EDA工具在設計、制造和封裝領域多點開花。作為自主創(chuàng)新的高性能工業(yè)軟件及解決方案提供商,上海合見工業(yè)軟件集團有限公司(以下簡稱“合見工軟”)正式運營一年多,已經(jīng)發(fā)布了多款EDA產(chǎn)品和解決方案,包括數(shù)字仿真器、FPGA原型驗證系統(tǒng)、仿真調(diào)試工具、驗證效率提升平臺、系統(tǒng)級IP驗證方案、先進封裝協(xié)同設計環(huán)境、電子設計數(shù)據(jù)管理平臺等,在高難度的數(shù)字驗證、協(xié)同設計等領域率先實現(xiàn)了突圍。


應對設計新需求 深化產(chǎn)品布局

后摩爾時代諸多新興應用的興起,如AI、GPGPU、HPC等芯片開發(fā)已成為市場熱點,這對芯片的規(guī)模、性能的要求日益走高。合見工軟CTO賀培鑫表示:“為了滿足對復雜功能的需求,我們可以看到市場上的大部分芯片采用多核結(jié)構(gòu);同時隨著工藝節(jié)點已趨近極限,晶圓廠已經(jīng)在探索是否能突破2納米甚至1納米的標線。為了追求PPA和成本的最優(yōu)解,采用多Die的Chiplet成為芯片設計的主流結(jié)構(gòu)。因此,多核多Die是時下芯片設計的趨勢?!?/p>

賀培鑫指出,合見工軟選擇驗證作為EDA工具的首先突破點,也是綜合考量了芯片設計公司在這一趨勢下面臨的諸多復雜難題。

第一,驗證復雜度呈幾何倍數(shù)的增長?!芭e個例子,我們可以看到業(yè)內(nèi)的大規(guī)模SoC已從過去的8核、16核發(fā)展到現(xiàn)在的64核,規(guī)模一直在翻倍。由于多核復用,設計復雜度并不會隨著規(guī)模的增長而翻倍;然而多核之間的互連使得驗證的復雜度隨著規(guī)模成比例增長?!?/p>

第二,驗證的成本(時間、人力)高速增長?!斑^去開發(fā)一款芯片,一般2個設計工程師需要配1個驗證工程師;現(xiàn)在開發(fā)一款大規(guī)模芯片,1個設計工程師要配2-3個驗證工程師,同時驗證的時間也更長?!?/p>

第三,驗證工具越來越多樣化?!氨热缭谛酒O計初期,采用數(shù)字仿真器一秒鐘跑一個時鐘周期,隨著設計推進到下一階段,我們需要更高的頻率來覆蓋更大的設計規(guī)模,這時我們需要采用不同的驗證工具,原型驗證系統(tǒng)一秒鐘可以跑一百萬個時鐘周期,這樣就快了一百萬倍。再如,設計中的某個區(qū)塊在很多測試用例下出現(xiàn)的bug特別多,此時就需要形式驗證工具窮盡所有可能性去修復這些bug。因而一個設計在不同的場景下是需要多款驗證工具來支撐的?!?/p>

只有解決驗證上的復雜難題才能幫助國內(nèi)芯片公司設計出具有國際競爭力的產(chǎn)品。此外,僅考慮多核是不夠的,為了對芯片開發(fā)實現(xiàn)完整的EDA工具支撐,對于采用多Die結(jié)構(gòu)的Chiplet,合見工軟也在先進封裝設計、板級設計領域進行了相應的布局。


實現(xiàn)新突破 彰顯新價值

要實現(xiàn)國產(chǎn)EDA驗證工具的突破,賀培鑫認為,最重要的是要在規(guī)模、性能和自動化層面全面提升。合見工軟去年推出了FPGA原型驗證系統(tǒng),今年6月發(fā)布了UV APS全新功能升級版。

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從規(guī)模上看,相比業(yè)界同類工具支持8-48顆FPGA容量,UV APS能夠支持高達100顆VU19P FPGA的級聯(lián)。

從性能上看,APS Compiler采用全路徑的時序驅(qū)動(Timing Driven)分割技術,相比一般只考慮切面大小(Cut-size Driven)的分割技術,APS Compiler可以充分考慮到FPGA間的連線和時序路徑之間的關系,通過采用TDM(時分復用)技術,識別并考慮每一根穿過FPGA的信號所在時鐘域的頻率,選擇最佳的時分復用比例,優(yōu)化FPGA之間的跳數(shù),實現(xiàn)邏輯電路運行速度最快的結(jié)果,TDM的范圍可以做到1-1024。

從自動化程度來看,對于FPGA不能支持的設計單元,比如多端口存儲(Multi-port Memory)、多維數(shù)組、跨模塊引用(XMR)、三態(tài)門(Tri-state)等,業(yè)界一些主流工具會要求用戶修改RTL代碼,而UV APS則可實現(xiàn)自動化轉(zhuǎn)換。

賀培鑫談到:“除此之外,還有很多值得探索的技術點。我們熟知的硬件仿真技術有基于FPGA和ASIC兩種,后者的編譯時間相對較快,因為ASIC只需要把RTL設計轉(zhuǎn)換成處理器的指令;而前者的仿真運行速度更快,因為FPGA可以迅速啟動Linux,且功耗?。籄SIC通常需要采用水冷卻的辦法,價格昂貴,約為FPGA的四倍。因此,在設計不夠成熟、規(guī)模較小的階段,需要頻繁迭代,ASIC原型驗證技術由于其編譯時間短,優(yōu)勢會更突出;在設計達到一定成熟度、規(guī)模較大的階段,F(xiàn)PGA原型驗證技術由于其仿真運行速度快,會更具優(yōu)勢。所以說沒有哪一種技術具有全面的絕對性優(yōu)勢,我們需要繼續(xù)探索更優(yōu)化的方法,打磨更好的工具,以支持客戶開發(fā)更高性能的產(chǎn)品?!?/p>

另外,要應對Chiplet在先進封裝的挑戰(zhàn),打破在復雜多維空間系統(tǒng)級設計互連,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的一致性和信號、電源、熱、應力的完整性,合見工軟在去年發(fā)布了先進封裝協(xié)同設計環(huán)境之后,今年6月又推出了UVI功能增強版。

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賀培鑫指出,此次發(fā)布的增強版首次真正意義上實現(xiàn)了系統(tǒng)級Sign-off功能,可在同一設計環(huán)境中導入多種格式的IC、Interposer、Package和PCB數(shù)據(jù),支持全面的系統(tǒng)互連一致性檢查(System-Level LVS),同時在檢查效率、圖形顯示、靈活度與精度上都有大幅提升。

UVI能夠基于物理、圖形和數(shù)據(jù)等信息,根據(jù)不同應用需求,自動產(chǎn)生系統(tǒng)級互連關系網(wǎng)表、互連錯誤信息、網(wǎng)絡斷開類型及互連疊層信息等關鍵報告。這也使得其在處理大規(guī)模互連管腳數(shù)據(jù)時十分迅速,無論是命名一致性檢查、鏈路通斷檢查還是管腳缺失互連檢查,對于60萬Pin的規(guī)模都可以在5秒內(nèi)完成,并且可以支持一對多Pin的基于面積算法的互連檢查?!伴_發(fā)人員利用UVI可以簡化設計流程、提升工作效率、提高設計質(zhì)量、精準定位設計錯誤,并覆蓋所有節(jié)點和網(wǎng)絡的檢查?!?/p>


夯實產(chǎn)品技術 培養(yǎng)EDA人才

賀培鑫認為:“一款工具要獲得市場認可是需要時間的,用戶希望獲得性能穩(wěn)定的產(chǎn)品,因此我們在推出新工具的同時,還會在已發(fā)布的產(chǎn)品上做持續(xù)優(yōu)化升級,和國內(nèi)用戶成為緊密的共贏伙伴,打造世界級芯片。業(yè)界主流的工具雖然相對比較成熟,但有一定的歷史包袱,經(jīng)過二三十年的迭代相當于是疊床架屋負重前行。合見工軟可以基于最新的方法論從頭打造產(chǎn)品,在這樣的基礎上做優(yōu)化會更快,因此我們有信心趕上并超過業(yè)界成熟工具?!?/p>

圍繞EDA產(chǎn)品路線,合見工軟將在驗證全流程領域持續(xù)發(fā)力,F(xiàn)PGA原型驗證系統(tǒng)預計在年底前進一步提升性能,在硬件仿真器、調(diào)試領域加快布局;在先進封裝設計領域,協(xié)同設計優(yōu)化持續(xù)進階。

在培養(yǎng)EDA人才方面,“合見工軟的團隊中有很多人在全球EDA領域打拼了二三十年,積累了很多前沿技術和行業(yè)實踐經(jīng)驗,我們很希望把這些經(jīng)驗分享給國內(nèi)熱愛半導體行業(yè)的莘莘學子,為國內(nèi)培養(yǎng)EDA專業(yè)人才。我非常愿意貢獻自己的一份力量,幫助他們學習、快速成長,打造EDA更好的未來。”


受訪嘉賓簡介:

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合見工軟首席技術官 賀培鑫博士

賀培鑫博士現(xiàn)任合見工軟CTO,并負責原型驗證和硬件仿真(Prototyping and Emulation)等產(chǎn)品的研發(fā)。他在EDA行業(yè)從業(yè)近30年,曾在國際知名公司擔任Fellow,負責過硬件仿真工具、物理實現(xiàn)工具的物理綜合和形式驗證工具的開發(fā),領導并管理中國、美國、法國、印度的大型研發(fā)團隊。賀培鑫先生于1995年獲得美國Cornell大學計算機科學博士學位,擁有12項美國專利,發(fā)表過30多篇學術論文,被其它一萬多篇論文引用(Google Scholar統(tǒng)計),并于1999年獲DAC(Design Automation Conference)最佳論文獎,2009年被選為DAC最佳論文獎候選人。

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