文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211745
中文引用格式: 徐賢煒,郭履寶,劉子國(guó),等. 基于STM32的非接觸物體尺寸形態(tài)測(cè)量系統(tǒng)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2021,47(12):79-82.
英文引用格式: Xu Xianwei,Guo Lvbao,Liu Ziguo,et al. The measurement system of dimension and shape of non-contact object based on STM32[J]. Application of Electronic Technique,2021,47(12):79-82.
0 引言
工件尺寸檢測(cè)是工業(yè)生產(chǎn)中最基礎(chǔ)的質(zhì)量控制手段之一[1]。隨著電子信息地飛速發(fā)展,測(cè)量方法的換代越來(lái)越快。對(duì)于工件的檢測(cè),傳統(tǒng)的人工測(cè)量技術(shù)已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足所需要的工件的測(cè)量精確[2]。非接觸測(cè)量是以光電、電磁等技術(shù)為基礎(chǔ),在不接觸被測(cè)物體表面的情況下,得到物體表面參數(shù)信息的測(cè)量方法。典型的非接觸測(cè)量方法有激光三角法、電渦流法、超聲測(cè)量法、機(jī)器視覺(jué)測(cè)量等[3]。隨著機(jī)器視覺(jué)的發(fā)展,視覺(jué)測(cè)量由于其測(cè)量效率高,檢測(cè)范圍大逐漸被重視。但不可避免地,非接觸測(cè)量往往受環(huán)境因素的干擾極大,需要在特定的環(huán)境下才能完成精準(zhǔn)測(cè)量。
本文提出一種基于STM32單片機(jī)的非接觸物體尺寸形態(tài)測(cè)量系統(tǒng)。系統(tǒng)采用OpenMV作為視覺(jué)檢測(cè),云臺(tái)作為執(zhí)行機(jī)構(gòu),通過(guò)非接觸式傳感器,實(shí)現(xiàn)對(duì)物體尺寸和相對(duì)位置的快速測(cè)量,可以做到實(shí)時(shí)在線(xiàn)、非接觸和高精度測(cè)量;同時(shí)也可以避免測(cè)量過(guò)程中人為產(chǎn)生的錯(cuò)誤,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)的連續(xù)性,提高生產(chǎn)的自動(dòng)化程度。尤其在疫情爆發(fā)期間,非接觸式測(cè)量能夠大大提高使用安全性。
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作者信息:
徐賢煒,郭履寶,劉子國(guó),夏 鯤
(上海理工大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院,上海200093)

