DB HiTek宣布, 公司已開發(fā)出基于110納米的全局快門(global shutter)和單光子雪崩二極管 (SPAD:single-photon avalanche diode)工藝,并將擴展其圖像傳感器市場。
全局快門能同時感應(yīng)所有像素的圖像信息,即使在拍攝快速移動的物體時,也能準(zhǔn)確記錄視頻和圖像而不會失真。此外,全局快門還能高度精確地識別物體形態(tài)。近來,全局快門廣泛應(yīng)用于工業(yè)機器視覺,此外還適用于汽車、無人機和機器視覺檢測用相機等各種應(yīng)用。
DB HiTek的全局快門基于110nm BSI工藝,并采用了遮光罩(light shield)和導(dǎo)光(light guide)技術(shù)。 擁有99.99%的全局快門效率(GSE)性能,并且能支持最小至2.8um的多種像素尺寸。
單光子雪崩二極管(SPAD)是一種傳感技術(shù),可以檢測到單光子水平的弱光信號。SPAD能夠識別從物體反射的光線到達(dá)傳感器的飛行時間(ToF),從而測量出與物體之間的距離。憑借長距離和高精度優(yōu)勢,SPAD被積極應(yīng)用于車載激光雷達(dá)(LiDAR)或 ToF 領(lǐng)域,同時也適用于智能手機、AR/VR可穿戴設(shè)備、監(jiān)控攝像頭和工業(yè)機器視覺等各種應(yīng)用。
DB HiTek以110納米FSI工藝為基礎(chǔ),確保了3.8%的@905納米光子探測概率 (PDP)性能,公司還計劃在今年內(nèi)實現(xiàn)BSI工藝,并完成PDP 7%@905納米的開發(fā)。
為了協(xié)助無晶圓廠客戶按時進(jìn)入市場并提高產(chǎn)品競爭力,DB HiTek將在今年9月提供專門為全球快門和SPAD運營的MPW(multi project wafer)服務(wù)。