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目前市場上閃存芯片的一般篩選方法及利弊

2021-08-13
來源:粵訊

近兩年,掀起了“新基建”的又一輪熱潮,5G、人工智能、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、大數(shù)據(jù)中心等為代表的新技術備受矚目,新基建將帶動數(shù)據(jù)中心規(guī)模的增長,從而帶動整個數(shù)字產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

隨著國內(nèi)存儲市場的需求日趨增長,存在的問題也越來越凸顯。

閃存芯片存在著代碼丟失的可能性,芯片本身也有壽命限制。一旦有代碼丟失或是芯片壽命過短情況,電子產(chǎn)品將出現(xiàn)系統(tǒng)無法啟動、關鍵功能不能開啟等故障,給客戶帶來損失。

因此,閃存芯片產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量好壞將是客戶重點考核和關注的指標。

我國目前市場上現(xiàn)有的閃存篩選方法有以下幾種:

1、搭配Flash測試架進行測試

由于主控自身有較強的糾錯能力,其測試過程中會不斷糾正NAND的錯誤,暫時掩蓋Flash的質(zhì)量缺陷,導致短時間測試無法暴露SSD中具有潛在風險的壞塊。

2、成品測試壽命需要反復擦寫直至損壞

這樣的測試方法,雖然能有效測試Flash使用壽命,但是整個過程耗時極長,需將整個盤不斷循環(huán)擦寫直至損壞,耗時往往需要數(shù)月,會消耗大量的人力和時間成本。同時,因傳統(tǒng)測試技術具有破壞性,測試完成后,成品將無法使用。

3、一般不進行壽命測試,或者為抽樣測試

目前存儲市場需求不斷擴大,有些企業(yè)對產(chǎn)品都做不到全檢,只能抽檢甚至不檢。隨著數(shù)據(jù)的不斷寫入,閃存芯片使用壽命越來越短,若不進行壽命預測,將存在極大的數(shù)據(jù)安全隱患。其次即使是同一批次的產(chǎn)品,閃存芯片壽命也存在差異,抽樣檢測及樣本均無法保證整體Flash的壽命情況。

4、將閃存芯片生產(chǎn)成成品后測試

如因閃存質(zhì)量不一導致的不良或兼容性問題進行維修,會大大增加生產(chǎn)成本及出貨后的質(zhì)量風險。

因此,在目前市場的需求規(guī)模下,如何高效精準的甄別閃存芯片質(zhì)量成為不同領域存儲企業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。

面對市場挑戰(zhàn),置富科技表示將迎難而上,通過自主研發(fā)的存儲芯片智能測試系統(tǒng)和閃存測試技術,實現(xiàn)閃存可靠性壽命預測,為各領域應用提供可靠的存儲質(zhì)量保障。據(jù)悉,置富科技自2006年成立以來一直專注于存儲產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn),是國內(nèi)第一家專業(yè)的閃存芯片測試設備提供商。通過多年的技術積累,其閃存智能檢測技術及設備擁有以下四大優(yōu)勢:一,能對閃存進行顆粒級別的非破壞性測試;二,核心的人工智能算法技術,能高精準的預測閃存壽命;三,根據(jù)閃存的質(zhì)量特性將其劃分為不同等級;四,為閃存的產(chǎn)品應用提供直觀的數(shù)據(jù)參考,從而幫助客戶更好的應用到不同行業(yè)領域。

置富科技表示將繼續(xù)發(fā)揮“工匠精神”,加強科技研發(fā)投入,用科技武裝企業(yè),通過不斷自主創(chuàng)新,為各類存儲品牌提供定制化的服務,為我國存儲事業(yè)的發(fā)展添磚加瓦。

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(測試數(shù)據(jù)參考)




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