近兩年，掀起了“新基建”的又一輪熱潮，5G、人工智能、工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)、大數(shù)據(jù)中心等為代表的新技術(shù)備受矚目，新基建將帶動(dòng)數(shù)據(jù)中心規(guī)模的增長(zhǎng)，從而帶動(dòng)整個(gè)數(shù)字產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
隨著國(guó)內(nèi)存儲(chǔ)市場(chǎng)的需求日趨增長(zhǎng)，存在的問(wèn)題也越來(lái)越凸顯。
閃存芯片存在著代碼丟失的可能性，芯片本身也有壽命限制。一旦有代碼丟失或是芯片壽命過(guò)短情況，電子產(chǎn)品將出現(xiàn)系統(tǒng)無(wú)法啟動(dòng)、關(guān)鍵功能不能開(kāi)啟等故障，給客戶(hù)帶來(lái)?yè)p失。
因此，閃存芯片產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量好壞將是客戶(hù)重點(diǎn)考核和關(guān)注的指標(biāo)。
我國(guó)目前市場(chǎng)上現(xiàn)有的閃存篩選方法有以下幾種：
1、搭配Flash測(cè)試架進(jìn)行測(cè)試
由于主控自身有較強(qiáng)的糾錯(cuò)能力，其測(cè)試過(guò)程中會(huì)不斷糾正NAND的錯(cuò)誤，暫時(shí)掩蓋Flash的質(zhì)量缺陷，導(dǎo)致短時(shí)間測(cè)試無(wú)法暴露SSD中具有潛在風(fēng)險(xiǎn)的壞塊。
2、成品測(cè)試壽命需要反復(fù)擦寫(xiě)直至損壞
這樣的測(cè)試方法，雖然能有效測(cè)試Flash使用壽命，但是整個(gè)過(guò)程耗時(shí)極長(zhǎng)，需將整個(gè)盤(pán)不斷循環(huán)擦寫(xiě)直至損壞，耗時(shí)往往需要數(shù)月，會(huì)消耗大量的人力和時(shí)間成本。同時(shí)，因傳統(tǒng)測(cè)試技術(shù)具有破壞性，測(cè)試完成后，成品將無(wú)法使用。
3、一般不進(jìn)行壽命測(cè)試，或者為抽樣測(cè)試
目前存儲(chǔ)市場(chǎng)需求不斷擴(kuò)大，有些企業(yè)對(duì)產(chǎn)品都做不到全檢，只能抽檢甚至不檢。隨著數(shù)據(jù)的不斷寫(xiě)入，閃存芯片使用壽命越來(lái)越短，若不進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)，將存在極大的數(shù)據(jù)安全隱患。其次即使是同一批次的產(chǎn)品，閃存芯片壽命也存在差異，抽樣檢測(cè)及樣本均無(wú)法保證整體Flash的壽命情況。
4、將閃存芯片生產(chǎn)成成品后測(cè)試
如因閃存質(zhì)量不一導(dǎo)致的不良或兼容性問(wèn)題進(jìn)行維修，會(huì)大大增加生產(chǎn)成本及出貨后的質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
因此，在目前市場(chǎng)的需求規(guī)模下，如何高效精準(zhǔn)的甄別閃存芯片質(zhì)量成為不同領(lǐng)域存儲(chǔ)企業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。
面對(duì)市場(chǎng)挑戰(zhàn)，置富科技表示將迎難而上，通過(guò)自主研發(fā)的存儲(chǔ)芯片智能測(cè)試系統(tǒng)和閃存測(cè)試技術(shù)，實(shí)現(xiàn)閃存可靠性壽命預(yù)測(cè)，為各領(lǐng)域應(yīng)用提供可靠的存儲(chǔ)質(zhì)量保障。據(jù)悉，置富科技自2006年成立以來(lái)一直專(zhuān)注于存儲(chǔ)產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)，是國(guó)內(nèi)第一家專(zhuān)業(yè)的閃存芯片測(cè)試設(shè)備提供商。通過(guò)多年的技術(shù)積累，其閃存智能檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備擁有以下四大優(yōu)勢(shì)：一，能對(duì)閃存進(jìn)行顆粒級(jí)別的非破壞性測(cè)試；二，核心的人工智能算法技術(shù)，能高精準(zhǔn)的預(yù)測(cè)閃存壽命；三，根據(jù)閃存的質(zhì)量特性將其劃分為不同等級(jí)；四，為閃存的產(chǎn)品應(yīng)用提供直觀的數(shù)據(jù)參考，從而幫助客戶(hù)更好的應(yīng)用到不同行業(yè)領(lǐng)域。
置富科技表示將繼續(xù)發(fā)揮“工匠精神”，加強(qiáng)科技研發(fā)投入，用科技武裝企業(yè)，通過(guò)不斷自主創(chuàng)新，為各類(lèi)存儲(chǔ)品牌提供定制化的服務(wù)，為我國(guó)存儲(chǔ)事業(yè)的發(fā)展添磚加瓦。
（測(cè)試數(shù)據(jù)參考）
