代码审查缺陷密度量化模型研究
2021年电子技术应用第8期
鸦 文，杨沁梅
中国电子科技集团公司第二十八研究所，江苏 南京210007
摘要： 为通过代码审查活动达到对软件产品质量提升的作用，给出了代码审查平台搭建方案，并据此平台策划开展了多个工程的代码审查活动。利用首轮采集的数据，初步分析确立了代码审查缺陷密度模型和影响因子，计算得到了代码审查缺陷密度的基线目标值。该模型可以供研发团队和研发团队所属组织策划确定代码审查基线，并策划开展后续代码审查活动。
中圖分類號： TN9
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200912
中文引用格式： 鴉文，楊沁梅. 代碼審查缺陷密度量化模型研究[J].電子技術(shù)應用，2021，47(8)：106-109，115.
英文引用格式： Ya Wen，Yang Qinmei. Research on quantitative model of code review density[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(8)：106-109，115.
文獻標識碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200912
中文引用格式： 鴉文，楊沁梅. 代碼審查缺陷密度量化模型研究[J].電子技術(shù)應用，2021，47(8)：106-109，115.
英文引用格式： Ya Wen，Yang Qinmei. Research on quantitative model of code review density[J]. Application of Electronic Technique，2021，47(8)：106-109，115.
Research on quantitative model of code review density
Ya Wen，Yang Qinmei
The 28th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation，Nanjing 210007，China
Abstract： In order to improve the quality of software products by code review, this paper gives the construction scheme of code review platform which helps planning code review activities of several projects. Based on the data collected in the first run, the defect density model and influence factors of code review are preliminarily analyzed and established, moreover, the baseline target value of it is calculated. The research and development team and its organizations can use this model to determine the baseline of code review and plan subsequent code review activities.
Key words : code review；code review platform；defect density
0 引言
測試是“使用為發(fā)現(xiàn)錯誤所選擇的輸入和狀態(tài)的組合而執(zhí)行代碼的過程”[1-4]，代碼審查是軟件測試的手段之一，是在不執(zhí)行軟件的條件下有條理地仔細審查軟件代碼，從而找出軟件缺陷的過程。代碼審查必須依靠具有軟件系統(tǒng)開發(fā)經(jīng)驗、編程經(jīng)驗、測試經(jīng)驗的技術(shù)人員集體審查[5]。進行代碼審查的主要目的是提高軟件質(zhì)量，及早發(fā)現(xiàn)軟件缺陷，避免因這些缺陷造成更大的災難[6]。在開發(fā)過程初期進行軟件代碼審查非常有價值，不僅可以找出后期軟件測試階段難以發(fā)現(xiàn)或隔離的軟件缺陷，降低研發(fā)成本；同時還可以促進開發(fā)團隊內(nèi)部溝通和知識共享，提升團隊開發(fā)能力。
量化管理是CMMI的主要內(nèi)容之一，量化管理使得軟件管理者擁有決策的客觀基礎(chǔ)，能在量化的范圍內(nèi)預測性能，可以有效地監(jiān)控項目過程，處理過程偏差的特殊原因[7-12]。
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作者信息：
鴉 文，楊沁梅
(中國電子科技集團公司第二十八研究所，江蘇 南京210007)
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