英國劍橋 — 2020年6月

UltraSoC日前推出了一種全新的USB解決方案，它支持系統(tǒng)級芯片（SoC）和系統(tǒng)開發(fā)團隊，即使是在已經部署于現場的系統(tǒng)中，仍能夠以高達10Gbps的速率在系統(tǒng)層面上實現功能強大的分析、優(yōu)化和調試。UltraSoC的USB 2.0半導體知識產權（IP）是一項基于硬件的、已獲得專利的裸機技術，無需運行任何軟件即可建立通信。當與第三方提供的高速USB 3.1 IP結合使用時，它可使工程師能夠有效地獲取大量豐富的系統(tǒng)性能數據，并在啟動時從“零周期”進行訪問，還支持eUSB訪問利用先進工藝節(jié)點來設計的器件。

這個經流片驗證的解決方案的設計目標是支持高速數據訪問且保持合理成本：該解決方案基于USB標準，不需要昂貴的調試探針，它可與任何PC相兼容，并且可以通過一個簡單的軟件驅動與任何開發(fā)工具一起使用。

對于開發(fā)人員來說，越來越重要的是能夠在系統(tǒng)層面“深入了解”產品，以優(yōu)化性能和調試解決問題。這一需求貫穿于產品的整個生命周期，包括在現場部署之后。在這種情況下，對電子設備物理層進行的訪問可能會受到限制，這時開發(fā)人員需要通過產品自身可用的接口來獲取大量的數據 — 這通常是指USB接口。將第三方的USB 3 IP和UltraSoC在此方面的解決方案相結合，為開發(fā)人員提供了一種理想的解決方案。

任何調試和分析接口都必須滿足兩個重要的設計要求。首先，在系統(tǒng)出現故障時，接口本身必須是強大且完好的：如果系統(tǒng)軟件在開啟時無法引導啟動，或在運行過程中發(fā)生無法恢復的崩潰，接口必須仍然能夠實現內部分析、診斷和調試功能。這就是所謂的“周期零要求”。其次，接口必須能夠滿足系統(tǒng)內生成的數據速率。CPU追蹤功能和嵌入式監(jiān)測器（例如UltraSoC提供的監(jiān)測器）可以生成大量的數據集，這些數據集需要被快速移出芯片以進行分析。隨著系統(tǒng)功能變得越來越強大和復雜，這會是一個日益嚴重的問題。UltraSoC的解決方案可以滿足這兩個關鍵的要求。

“USB作為調試接口的好處是眾所周知的：事實上，我們的客戶已經以這種方式使用USB很多年了；并且也告訴我們說：我們的解決方案是非常強大的”。UltraSoC首席執(zhí)行官Rupert Baines說，“USB在‘現存的’產品中可以很容易找到，而且不需要額外的芯片引腳就可提供高性能訪問，它與采用專用的調試接口（例如JTAG）或專用的高速調試端口（這需要一個專用的接口和一個昂貴的調試探針）等方式不同。因此，它是一種用于獲取電子產品分析數據的理想接口，而這些電子產品在整個生命周期中越來越需要對其進行持續(xù)的監(jiān)測和改進。”

UltraSoC的嵌入式分析技術實現了對SoC的分析和監(jiān)測，而且無需擔心被監(jiān)測的是何種CPU或體系架構。UltraSoC的嵌入式分析技術可適用于所有主流的指令集架構（ISA），包括開源RISC-V甚至是混合（異構）架構，并可與所有第三方工具完全兼容。

關于UltraSoC

UltraSoC是一家為系統(tǒng)級芯片（SoC）提供內部分析及監(jiān)測技術的先鋒企業(yè)，正是這些SoC驅動了當今的各種電子產品。公司的嵌入式分析技術可支持產品設計人員去增加先進的信息安全、功能安全以及性能微調等特性；與此同時該技術還能幫助企業(yè)更好地應對不斷升級的系統(tǒng)復雜性難題以及日益嚴苛的縮短上市時間需求。UltraSoC的技術以半導體知識產權（semiconductor IP）和軟件的形式提供給客戶，其最終應用覆蓋了消費電子、計算和通信等行業(yè)。