除了成熟的PCIE3.0正在廣泛用于終端和SSD存儲設(shè)備之外，PCIE5.0也已經(jīng)蓄勢待發(fā)，除了在今年年中發(fā)布Base 1.0規(guī)范，近期Base RX夾具也已經(jīng)上線，提供給會員單位訂購：

　　訂購鏈接

　　https://pcisig.com/specifications/order-form

　　圖1 PCIE5.0夾具訂購表

　　而當下市場和產(chǎn)業(yè)界最翹首期待的PCIE4.0也在今年9月邁出了最堅實的一步。

　　9月中旬，在上海虹橋萬豪大酒店，業(yè)界上游公司召集產(chǎn)業(yè)界主要系統(tǒng)廠家和測量廠家進行了針對PCIE4.0的第一次Plugfest活動。

　　Keysight公司作為業(yè)界唯一一家提供完整測試方案公司獲邀參加，攜帶了高性能DSAZ594A及UXR0334A實時示波器, M8020A誤碼儀及 E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀參加了本次活動。

　　圖2  參會設(shè)備不完全照片

　　通過本次活動結(jié)合最近的標準發(fā)展情況和其它渠道信息，如下實戰(zhàn)經(jīng)驗，今天在這里與大家分享。

　　發(fā)送端(TX)測試

　　本次活動，針對TX測試，Keysight準備了UXR0334A和Z594A高性能實時示波器。這兩臺設(shè)備均為四通道25GHz帶寬以上實時示波器，專門針對System Board測試，特別是需要采用Dual Port測試方法。

　　圖3 PCIE4.0 Phy Test Spec 2.7.5測試項目說明

　　圖4 PCIE4.0 System Board Dual Port測試方法示意圖

　　最近也看到很多客戶反饋說，在PCIE4.0 Phy Test  Spec里，Appendix D有如下描述:

　　圖5 PCIE4.0 Test Spec Appendix D替代方法說明

　　注意上面黃色高亮文字，明確說明必須采用2.7.5描述方法。只有在采用2.7.5方法測試失敗后，才可以采用替代的數(shù)據(jù)和時鐘分開采集再對時鐘進行后處理的方法。

　　因此必須要補充說明的是：

　　1.雙端口測試始終是PCIe 4.0  System Board測試的必須方法。

　　2.添加了附錄D僅作為應(yīng)急。最初，如果啟用了最大SSC，Sigtest會顯示問題。開發(fā)人員用新方法最近已經(jīng)解決了Sigtest SSC問題。

　　3.在最近的WorkShop ＃110上測試的所有系統(tǒng)板均使用雙端口方法進行了測試。

　　4.雙端口方法同時使用時鐘和數(shù)據(jù)測試，基于End Device角度很好地詮釋了根組件的信號質(zhì)量。

　　5.系統(tǒng)板供應(yīng)商可以針對參考時鐘做抖動平衡或折中，以獲得更好的信號抖動，并且仍然符合規(guī)范。

　　接收端(RX)測試

　　PCIE4.0 RX測試，業(yè)界當前有3家廠家號稱可以支持，即Keysight公司，X公司和Y公司。

　　Keysight  M8020A誤碼儀作為本次活動的主力設(shè)備，以其業(yè)界卓越的集成度帶來的簡便連接，領(lǐng)先的信號完整性等特點成功圓滿完成了本次測試任務(wù)。成功地為多個被測設(shè)備進行鏈路協(xié)商訓(xùn)練進入環(huán)回模式，并順利進行了誤碼測試。

　　而X公司采用的第三方的壓力信號校準程序使用較小的抖動(Sj)和干擾(DMI)進行測試。從而導(dǎo)致被測設(shè)備未完全經(jīng)受符合規(guī)范的壓力信號的抖動容限測試，存在隱患！且針對某些設(shè)備在一些鏈路上不能全部確保鏈路協(xié)商和訓(xùn)練進入環(huán)回模式。

　　Y公司則由于其設(shè)備一直未能在業(yè)界主流平臺上進行過完整的全流程RX測試，因此沒有參加本次活動，也就是說在接收端測試上，Y公司已經(jīng)出局！從近期部分客戶反饋和本次活動中也看到，這些客戶在采用Y公司設(shè)備進行PCIE4.0接收端測試時存在完全不能進入環(huán)回狀態(tài)，因此目前看來深陷泥沼。

　　ISI夾具標定及鏈路測試

　　由于PCIE4.0規(guī)范里針對信號發(fā)送鏈路強調(diào)了全部Insertion Loss需滿足不高于 28dB@8GHz，而針對接收鏈路則強調(diào)全部Insertion Loss需滿足不高于30dB@8GHz，考慮到不同型號，批次產(chǎn)品和架構(gòu)以及材質(zhì)的差異性，為了在測試中滿足規(guī)范這一要求，PCI-Sig組織為此專門定義并設(shè)計了可變ISI夾具板，在板上設(shè)計了不同長度尺寸的差分走線配合滿足不同材質(zhì)等情況下全鏈路的整體損耗要求。

　　圖6 PCIE4.0標準協(xié)會夾具

　　特別是在進行接收端測試之前必須要對注入被測設(shè)備的RX端的壓力信號進行嚴格和準確的校準以確保符合規(guī)范。如下圖針對System Board的RX信號校準示意圖。

　　圖7 PCIE4.0 16GT/s System RX Cal示意圖

　　因此在進行RX測試前必須針對包括ISI夾具在內(nèi)的全鏈路進行標定并選擇總鏈路損耗在27-30dB。

　　在參加本次活動之前通常以為采用網(wǎng)絡(luò)分析儀標定之后即可，通過這次反復(fù)插拔活動發(fā)現(xiàn)：

　　反復(fù)多次插拔和連接之后夾具上的SMP連接頭容易出現(xiàn)過勞和損傷，因此在大批量測試情況下需要不定期采用網(wǎng)絡(luò)分析儀進行測試標定，目前看來至少1-2周需進行一次標定測試。也就是說，網(wǎng)絡(luò)分析儀已經(jīng)成為今天的典型高速標準如PCIExpress4.0研究開發(fā)的必備工具。

　　以上關(guān)于最新的PCIE4.0/5.0測試方法更新和最新進展，謝謝閱讀！未來將繼續(xù)更新，歡迎您的持續(xù)關(guān)注！