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PCIExpress 4.0/5.0測(cè)試方法最新更新和市場(chǎng)進(jìn)展

2019-11-22
來源:是德科技KEYSIGHT
關(guān)鍵詞: 5G PCIe3.0

  除了成熟的PCIE3.0正在廣泛用于終端和SSD存儲(chǔ)設(shè)備之外,PCIE5.0也已經(jīng)蓄勢(shì)待發(fā),除了在今年年中發(fā)布Base 1.0規(guī)范,近期Base RX夾具也已經(jīng)上線,提供給會(huì)員單位訂購:

  訂購鏈接

  https://pcisig.com/specifications/order-form

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  圖1 PCIE5.0夾具訂購表

  而當(dāng)下市場(chǎng)和產(chǎn)業(yè)界最翹首期待的PCIE4.0也在今年9月邁出了最堅(jiān)實(shí)的一步。

  9月中旬,在上海虹橋萬豪大酒店,業(yè)界上游公司召集產(chǎn)業(yè)界主要系統(tǒng)廠家和測(cè)量廠家進(jìn)行了針對(duì)PCIE4.0的第一次Plugfest活動(dòng)。

  Keysight公司作為業(yè)界唯一一家提供完整測(cè)試方案公司獲邀參加,攜帶了高性能DSAZ594A及UXR0334A實(shí)時(shí)示波器, M8020A誤碼儀及 E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀參加了本次活動(dòng)。

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  圖2  參會(huì)設(shè)備不完全照片

  通過本次活動(dòng)結(jié)合最近的標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展情況和其它渠道信息,如下實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),今天在這里與大家分享。

  發(fā)送端(TX)測(cè)試

  本次活動(dòng),針對(duì)TX測(cè)試,Keysight準(zhǔn)備了UXR0334A和Z594A高性能實(shí)時(shí)示波器。這兩臺(tái)設(shè)備均為四通道25GHz帶寬以上實(shí)時(shí)示波器,專門針對(duì)System Board測(cè)試,特別是需要采用Dual Port測(cè)試方法。

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  圖3 PCIE4.0 Phy Test Spec 2.7.5測(cè)試項(xiàng)目說明

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  圖4 PCIE4.0 System Board Dual Port測(cè)試方法示意圖

  最近也看到很多客戶反饋說,在PCIE4.0 Phy Test  Spec里,Appendix D有如下描述:

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  圖5 PCIE4.0 Test Spec Appendix D替代方法說明

  注意上面黃色高亮文字,明確說明必須采用2.7.5描述方法。只有在采用2.7.5方法測(cè)試失敗后,才可以采用替代的數(shù)據(jù)和時(shí)鐘分開采集再對(duì)時(shí)鐘進(jìn)行后處理的方法。

  因此必須要補(bǔ)充說明的是:

  1.雙端口測(cè)試始終是PCIe 4.0  System Board測(cè)試的必須方法。

  2.添加了附錄D僅作為應(yīng)急。最初,如果啟用了最大SSC,Sigtest會(huì)顯示問題。開發(fā)人員用新方法最近已經(jīng)解決了Sigtest SSC問題。

  3.在最近的WorkShop #110上測(cè)試的所有系統(tǒng)板均使用雙端口方法進(jìn)行了測(cè)試。

  4.雙端口方法同時(shí)使用時(shí)鐘和數(shù)據(jù)測(cè)試,基于End Device角度很好地詮釋了根組件的信號(hào)質(zhì)量。

  5.系統(tǒng)板供應(yīng)商可以針對(duì)參考時(shí)鐘做抖動(dòng)平衡或折中,以獲得更好的信號(hào)抖動(dòng),并且仍然符合規(guī)范。

  接收端(RX)測(cè)試

  PCIE4.0 RX測(cè)試,業(yè)界當(dāng)前有3家廠家號(hào)稱可以支持,即Keysight公司,X公司和Y公司。

  Keysight  M8020A誤碼儀作為本次活動(dòng)的主力設(shè)備,以其業(yè)界卓越的集成度帶來的簡(jiǎn)便連接,領(lǐng)先的信號(hào)完整性等特點(diǎn)成功圓滿完成了本次測(cè)試任務(wù)。成功地為多個(gè)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行鏈路協(xié)商訓(xùn)練進(jìn)入環(huán)回模式,并順利進(jìn)行了誤碼測(cè)試。

  而X公司采用的第三方的壓力信號(hào)校準(zhǔn)程序使用較小的抖動(dòng)(Sj)和干擾(DMI)進(jìn)行測(cè)試。從而導(dǎo)致被測(cè)設(shè)備未完全經(jīng)受符合規(guī)范的壓力信號(hào)的抖動(dòng)容限測(cè)試,存在隱患!且針對(duì)某些設(shè)備在一些鏈路上不能全部確保鏈路協(xié)商和訓(xùn)練進(jìn)入環(huán)回模式。

  Y公司則由于其設(shè)備一直未能在業(yè)界主流平臺(tái)上進(jìn)行過完整的全流程RX測(cè)試,因此沒有參加本次活動(dòng),也就是說在接收端測(cè)試上,Y公司已經(jīng)出局!從近期部分客戶反饋和本次活動(dòng)中也看到,這些客戶在采用Y公司設(shè)備進(jìn)行PCIE4.0接收端測(cè)試時(shí)存在完全不能進(jìn)入環(huán)回狀態(tài),因此目前看來深陷泥沼。

  ISI夾具標(biāo)定及鏈路測(cè)試

  由于PCIE4.0規(guī)范里針對(duì)信號(hào)發(fā)送鏈路強(qiáng)調(diào)了全部Insertion Loss需滿足不高于 28dB@8GHz,而針對(duì)接收鏈路則強(qiáng)調(diào)全部Insertion Loss需滿足不高于30dB@8GHz,考慮到不同型號(hào),批次產(chǎn)品和架構(gòu)以及材質(zhì)的差異性,為了在測(cè)試中滿足規(guī)范這一要求,PCI-Sig組織為此專門定義并設(shè)計(jì)了可變ISI夾具板,在板上設(shè)計(jì)了不同長(zhǎng)度尺寸的差分走線配合滿足不同材質(zhì)等情況下全鏈路的整體損耗要求。

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  圖6 PCIE4.0標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)夾具

  特別是在進(jìn)行接收端測(cè)試之前必須要對(duì)注入被測(cè)設(shè)備的RX端的壓力信號(hào)進(jìn)行嚴(yán)格和準(zhǔn)確的校準(zhǔn)以確保符合規(guī)范。如下圖針對(duì)System Board的RX信號(hào)校準(zhǔn)示意圖。

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  圖7 PCIE4.0 16GT/s System RX Cal示意圖

  因此在進(jìn)行RX測(cè)試前必須針對(duì)包括ISI夾具在內(nèi)的全鏈路進(jìn)行標(biāo)定并選擇總鏈路損耗在27-30dB。

  在參加本次活動(dòng)之前通常以為采用網(wǎng)絡(luò)分析儀標(biāo)定之后即可,通過這次反復(fù)插拔活動(dòng)發(fā)現(xiàn):

  反復(fù)多次插拔和連接之后夾具上的SMP連接頭容易出現(xiàn)過勞和損傷,因此在大批量測(cè)試情況下需要不定期采用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測(cè)試標(biāo)定,目前看來至少1-2周需進(jìn)行一次標(biāo)定測(cè)試。也就是說,網(wǎng)絡(luò)分析儀已經(jīng)成為今天的典型高速標(biāo)準(zhǔn)如PCIExpress4.0研究開發(fā)的必備工具。

  以上關(guān)于最新的PCIE4.0/5.0測(cè)試方法更新和最新進(jìn)展,謝謝閱讀!未來將繼續(xù)更新,歡迎您的持續(xù)關(guān)注!


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