作為自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)先供應(yīng)商,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試擁有全球半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)中超過(guò)三分之一的市場(chǎng)份額,而在存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)市場(chǎng)中,則幾乎占據(jù)半壁江山。
日前,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試于北京舉辦媒體會(huì),公司高層介紹了愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的最新發(fā)展情況,以及針對(duì)存儲(chǔ)、汽車等領(lǐng)域發(fā)展所推出的最新測(cè)試技術(shù)及產(chǎn)品。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司副總裁 封薛明
“ THE BEST”殊榮彰顯用戶滿意度
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司副總裁夏克金博士介紹了愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的近期發(fā)展情況。夏博士表示,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試始創(chuàng)于1954年,五十多年來(lái),愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試致力研發(fā)、不斷追求創(chuàng)新,至今成為全球電子產(chǎn)業(yè)晶圓測(cè)試與分類解決方案領(lǐng)導(dǎo)者。為滿足客戶對(duì)于先進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)的需求,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在技術(shù)研發(fā)、產(chǎn)品商業(yè)化、支持與服務(wù)等方面所做的努力,亦備受全球半導(dǎo)體大廠一致肯定。在國(guó)際知名資訊機(jī)構(gòu)VLSIreseach2018客戶滿意度調(diào)查中,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試獲得5-star最佳供應(yīng)商評(píng)價(jià)。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司副總裁 夏克金
夏博士表示,IoT、人工智能、5G、自動(dòng)駕駛等等行業(yè)熱點(diǎn)都為半導(dǎo)體行業(yè)帶來(lái)了強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)力,也相應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備提出新的挑戰(zhàn),更多的數(shù)據(jù)、更高的傳輸速率成為對(duì)測(cè)試方案中所面臨的重要需求。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試憑借在測(cè)試領(lǐng)域的深厚積淀以及領(lǐng)先一步的創(chuàng)新研究,始終走在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的前沿,幫助諸多半導(dǎo)體設(shè)計(jì)及生產(chǎn)企業(yè)解決了測(cè)試難題。
近年來(lái),隨著我國(guó)集成電路行業(yè)的快速發(fā)展,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在中國(guó)本土的市場(chǎng)份額也不斷增長(zhǎng),2018年第一季度,在中國(guó)本土銷售額占全球銷售額的14.7%。
領(lǐng)先解決方案迎接下一代存儲(chǔ)測(cè)試
媒體會(huì)上,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司高級(jí)測(cè)試工程師陳郝介紹了愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試新近推出的兩項(xiàng)產(chǎn)品。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司高級(jí)測(cè)試工程師 陳郝
第一是全球首發(fā)的最新PCIe Gen 4固態(tài)驅(qū)動(dòng)器的整體測(cè)試解決方案MPT3000平臺(tái)。該方案可以用于開(kāi)發(fā)、調(diào)試以及量產(chǎn)PCIe Gen 4固態(tài)驅(qū)動(dòng)器(SSD),并且MPT3000平臺(tái)也可以同時(shí)兼容PCIe Gen 3、SATA和SAS 等協(xié)議的固態(tài)硬盤的測(cè)試開(kāi)發(fā)以及量產(chǎn)。這套全方位的新的測(cè)試解決方案可以使SSD制造商加快其新產(chǎn)品上市的時(shí)間。
MPT3000HVM
MPT3000平臺(tái)現(xiàn)在可以覆蓋PCIe Gen 4設(shè)備的所有測(cè)試需求——從支持工程使用的MPT3000ES,到支持可靠性驗(yàn)證測(cè)試(RDT)的MPT3000ENV,再到支持量產(chǎn)的MPT3000HVM,用戶可以在MPT3000上直接開(kāi)發(fā)PCIE Gen4,而不用等待第三方廠商提供測(cè)試方案。它向用戶提供一套從設(shè)計(jì)到制造的測(cè)試流程,并使用與愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試已經(jīng)投入市場(chǎng)的 PCIe Gen 3解決方案相同的測(cè)試架構(gòu)和軟件,從而簡(jiǎn)化了向下一代產(chǎn)品升級(jí)的過(guò)程。這一整體解決方案為SSD制造商提供了市場(chǎng)最快、風(fēng)險(xiǎn)最低的路徑。
另一項(xiàng)針對(duì)存儲(chǔ)領(lǐng)域的產(chǎn)品是T5503HS2高速存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅能為當(dāng)前最高速存儲(chǔ)器芯片提供業(yè)界最高效的量產(chǎn)測(cè)試解決方案,同時(shí)也可以覆蓋下一代超高速DRAMs存儲(chǔ)芯片。在目前全球?qū)Υ鎯?chǔ)器需求飛速增長(zhǎng)的時(shí)代背景下,T5503HS2全新測(cè)試系統(tǒng)的靈活性擴(kuò)展了T5503系列產(chǎn)品在當(dāng)前“超級(jí)周期”中的功能。
T5503HS2
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的T5503HS2是設(shè)計(jì)用于提供針對(duì)新型存儲(chǔ)器和現(xiàn)有器件的測(cè)試解決方案。它的測(cè)試速率最快能達(dá)到8 Gbps同時(shí)測(cè)試精度在±45皮秒。充分利用其16,256的數(shù)據(jù)通道,這個(gè)全能型測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試下一代LP-DDR5和DDR5器件的同時(shí)也允許使用者兼容測(cè)試現(xiàn)今的DDR4,LP-DDR4及高帶寬存儲(chǔ)器器件,實(shí)現(xiàn)了半導(dǎo)體業(yè)界最高的同測(cè)數(shù)和最優(yōu)利潤(rùn)率。配置的4.5GHz高速時(shí)鐘選配模塊使新測(cè)試機(jī)擁有了以超過(guò)8 Gbps的數(shù)據(jù)傳輸速率來(lái)應(yīng)對(duì)未來(lái)存儲(chǔ)器芯片測(cè)試的可擴(kuò)展性。
FVI16浮動(dòng)電源VI板卡使V93000平臺(tái)如虎添翼
除了存儲(chǔ)測(cè)試,SoC測(cè)試是半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的重要應(yīng)用。V93000平臺(tái)則是愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在SoC測(cè)試領(lǐng)域的主打平臺(tái)。日前,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試推出了應(yīng)用于V93000平臺(tái)的FVI16浮動(dòng)電源板卡,使V93000能夠從容應(yīng)對(duì)電動(dòng)汽車、快充等新興測(cè)試需求。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司高級(jí)測(cè)試應(yīng)用工程師陳競(jìng)遠(yuǎn)對(duì)這一產(chǎn)品作了深入介紹。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司高級(jí)測(cè)試應(yīng)用工程師 陳競(jìng)遠(yuǎn)
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試推出的FVI16浮動(dòng)電源VI板卡,可搭載在V93000單一可擴(kuò)展平臺(tái)上,擴(kuò)展其性能,使設(shè)備可用于測(cè)試汽車,工業(yè)和消費(fèi)類移動(dòng)充電用電源和模擬芯片,讓用戶可以自如應(yīng)對(duì)不斷發(fā)展的電動(dòng)汽車和快充電器市場(chǎng)。通過(guò)提供250瓦的高脈沖功率和高達(dá)40瓦的直流電源,新的電源有助于提供足夠的功率測(cè)試最新一代芯片,同時(shí)進(jìn)行重復(fù)穩(wěn)定的測(cè)量。
與采用傳統(tǒng)模擬反饋的其它測(cè)試系統(tǒng)相比,搭載FVI16板卡的V93000測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字反饋回路設(shè)計(jì)提供了市場(chǎng)上最佳的信號(hào)源,測(cè)量精度和模擬/功率性能。 數(shù)字反饋技術(shù)提供多種獨(dú)特功能,包括無(wú)毛刺的“智能連接”和恒定的開(kāi)爾文監(jiān)控,實(shí)現(xiàn)可靠的和高精度的測(cè)量。 用戶控制的斜率和帶寬設(shè)置可以實(shí)現(xiàn)快速建立穩(wěn)定時(shí)間以適應(yīng)各自的負(fù)載條件。
FVI16浮動(dòng)電源VI板卡
FVI16板卡具有業(yè)界最高的儀器通道密度,配置在愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 A-Class測(cè)試頭內(nèi)可以使其作為小型系統(tǒng),從而降低測(cè)試成本。 具有四象限操作的16個(gè)通道允許在高電流測(cè)試中將每塊板卡的通道并聯(lián)到高達(dá)155安培。 對(duì)于高壓測(cè)試,每塊板卡可以實(shí)現(xiàn)在+ 200伏的浮動(dòng)范圍內(nèi)高達(dá)+ 180伏的串聯(lián)。