文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.173132
中文引用格式: 楊建明. 小數(shù)分頻頻率合成器的Σ-Δ調(diào)制分析及優(yōu)化[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2018,44(3):19-21,30.
英文引用格式: Yang Jianming. Σ-Δ modulation analysis & optimization in fractional-N frequency synthesizer[J]. Application of Electronic Technique,2018,44(3):19-21,30.
0 引言
小數(shù)分頻頻率合成器的實(shí)現(xiàn)方法有多種,如Pulse swallowing、Pulse interpolatoin、Wheately random jittering、Σ-Δ modulation[1],其中Σ-Δ modulation架構(gòu)以其優(yōu)良的相噪指標(biāo)及全數(shù)字化而成為小數(shù)分頻頻率合成器的主流。本文旨在分析Σ-Δ量化噪聲對小數(shù)分頻頻率合成器相位噪聲及雜散的影響,找到適合于小數(shù)分頻頻率合成器的Σ-Δ調(diào)制器。
1 相位噪聲
基于鎖相環(huán)閉環(huán)回路實(shí)現(xiàn)小數(shù)分頻頻率合成器,建立線性數(shù)學(xué)模型,分析其相位噪聲源及傳遞函數(shù)。
1.1 相位噪聲模型
Rohde已經(jīng)闡明[2],PLL的每個(gè)組成部分都產(chǎn)生噪聲。小數(shù)分頻頻率合成器主要相位噪聲源有參考時(shí)鐘相位噪聲θref(t)、PFD相位噪聲θPFD(t)、VCO相位噪聲θVCO(t)、分頻器相位噪聲θdiv(t)、Σ-Δ量化噪聲。
基于鎖相環(huán)小數(shù)分頻頻率合成器如圖1所示。
定義τn為第n個(gè)參考時(shí)鐘的上升沿時(shí)刻,則:[3]
由相位誤差公式及圖1,可以推得圖2所示的Σ-Δ小數(shù)分頻頻率合成器相位噪聲線性模型。
1.2 相位噪聲分析
Σ-Δ小數(shù)分頻頻率合成器相位噪聲源到輸出端的傳遞函數(shù)除VCO相位噪聲傳遞函數(shù)為高通濾波傳遞函數(shù)外,其余噪聲源到輸出端的傳遞函數(shù)均為低通濾波傳遞函數(shù)。本文著重分析Σ-Δ量化噪聲對輸出相位噪聲的影響。
圖2中(y(k)-α)為Σ-Δ量化噪聲q(t),其Z域傳遞函數(shù)NTF(z)=(1-z-1)L[4]。由量化噪聲注入到PLL的相位噪聲為:
1.2.1 Σ-Δ量化器階數(shù)對相位噪聲的影響
MATLAB繪制不同Σ-Δ量化器階數(shù),量化噪聲引起的PLL輸出相位噪聲頻域響應(yīng),如圖3所示。曲線“.”為二階Σ-Δ量化器注入到頻率合成器的相位噪聲曲線“.-”為三階Σ-Δ量化器相位噪聲;曲線“--”為頻率合成器相位噪聲傳遞函數(shù); 曲線“+”為二階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲;實(shí)線為三階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲。
可見,Σ-Δ量化器階數(shù)越高,小數(shù)分頻頻率合成器帶內(nèi)相位噪聲越低。
1.2.2 環(huán)路帶寬對相位噪聲的影響
圖4為3階Σ-Δ量化器,在不同PLL環(huán)路濾波器帶寬條件下,小數(shù)分頻頻率合成器帶相位噪聲頻譜圖。曲線“.”為三階Σ-Δ量化器相位噪聲;曲線“.-”分別為帶寬10 kHz與1 MHz頻率合成器相位噪聲傳遞函數(shù);實(shí)線分別為帶寬10 kHz與1 MHz的三階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲。
由此可見,環(huán)路帶寬越小,由Σ-Δ量化引起的相位噪聲越低。
2 相位噪聲優(yōu)化
通過1.2.1分析,高階Σ-Δ量化器可以將量化噪聲推到高頻,使得帶內(nèi)量化噪聲降低,頻率合成器輸出相位噪聲也降低。
由一階調(diào)制器構(gòu)成的MASH高階Σ-Δ量化器,無條件穩(wěn)定,但是MASHΣ-Δ量化器存在的問題是它的輸出是多位,頻率合成器之分頻器設(shè)計(jì)復(fù)雜,且分頻比會(huì)在多模之間切換,會(huì)給鑒相器的輸出引入高頻抖動(dòng)。
高階單環(huán)路Σ-Δ量化器存在穩(wěn)定性問題。為使高階單環(huán)路Σ-Δ量化器穩(wěn)定工作,其噪聲傳遞函數(shù)增益需滿足[5]:
通過高階環(huán)路引入前饋通路,改變NTF增益,使其穩(wěn)定工作。但是帶來的缺點(diǎn)是NTF對量化噪聲的抑制低于理想NTF(z)=(1-z-1)L對量化噪聲的抑制。本文提出,信號在輸入Σ-Δ量化器之前,添加高頻零點(diǎn),從而使內(nèi)置二階Σ-Δ量化器的小數(shù)分頻頻率合成器獲得可以與高階Σ-Δ頻率合成器相當(dāng)?shù)南辔辉肼曋笜?biāo)。相位噪聲優(yōu)化如圖5所示。
圖5中,曲線“--”為三階Σ-Δ量化器相位噪聲;曲線“.-”相位噪聲傳遞函數(shù);曲線“+”為二階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲;曲線“.”為三階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲;實(shí)線為插入高階零點(diǎn)后的二階Σ-Δ頻率合成器相位噪聲。顯而易見,輸入信號插入高頻零點(diǎn)后,二階Σ-Δ頻率合成器可以獲得高階Σ-Δ量化頻率合成器性能。
另一種優(yōu)化相位噪聲的方法是降低頻率合成器環(huán)路帶寬,如1.2.2分析所示。但是為抑制VCO相位噪聲,需要增加頻率合成器帶寬[6]。設(shè)計(jì)中需要折中優(yōu)化,找到最優(yōu)帶寬。
需要注意的是,Σ-Δ頻率合成器鎖定后,Σ-Δ量化器輸出頻率等于參考時(shí)鐘頻率,提高參考時(shí)鐘頻率,量化器工作頻率也提高,可以把量化噪聲推到更高頻,進(jìn)入信號帶內(nèi)的相位噪聲更低,不需要通過壓低頻率合成器帶寬來降低相位噪聲,使得Σ-Δ頻率合成器帶寬提升。
3 雜散
分析Σ-Δ頻率合成器雜散產(chǎn)生機(jī)理,從優(yōu)化Σ-Δ調(diào)制器角度,提出雜散抑制措施。
3.1 雜散分析
Σ-Δ頻率合成器由于其反饋支路分頻器分頻比動(dòng)態(tài)切換,反饋信號上升沿時(shí)刻為:
此外,Σ-Δ量化器位數(shù)不夠,會(huì)導(dǎo)致量化器飽和,產(chǎn)生很大的雜散。同時(shí),量化器飽和也會(huì)惡化噪聲傳遞函數(shù)NTF,高頻量化噪聲會(huì)進(jìn)入信號帶內(nèi)。
三階Σ-Δ量化器時(shí)域表達(dá)式為:
歸一化量化噪聲|q[n]|≤0.5,可得|y[n]|≤|a|+4。
至少需要3 bit表示y[n],量化器才不會(huì)飽和[7]。
3.2 雜散抑制
優(yōu)化Σ-Δ量化器設(shè)計(jì),抑制雜散。
為抑制Σ-Δ頻率合成器固有雜散,可以在Σ-Δ量化器的輸入信號上迭加一個(gè)能量很低的白噪聲[8]。迭加白噪聲后的輸出頻率誤差部分可表達(dá)為(y[n]-α+qwhite)×fref。白噪聲的存在使得頻率誤差部分不再固定出現(xiàn)在α×fref與(1-α)×fref及其諧波處的雜散。
為降低Σ-Δ頻率合成器相位噪聲,需要高階Σ-Δ量化器。由3.1節(jié)分析可知,高階Σ-Δ量化器需要量化器位數(shù)高,才不至于導(dǎo)致量化器飽和而產(chǎn)生雜散。但是量化器位數(shù)高,y[n]取值范圍寬,輸出頻率雜散部分(y[n]-α)×fref會(huì)產(chǎn)生更多的諧波,會(huì)產(chǎn)生更大的瞬時(shí)相位差,要鑒相器具有很高的線性度[9]。從抑制雜散角度看,Σ-Δ量化器階數(shù)不宜高。對于二階Σ-Δ量化器,時(shí)域表達(dá)式為:
歸一化量化噪聲|q[n]|≤0.5,可得|y[n]|≤|a|+2。y[n]可由2 bit表示,量化器才不會(huì)飽和。相比于高階Σ-Δ頻率合成器,2階Σ-Δ頻率合成器雜散成分小。
4 芯片實(shí)現(xiàn)
基于SMIC0.13 μm RF制程,設(shè)計(jì)了1.575 GHz PLL IP。PLL之小數(shù)分頻通過數(shù)字二階Σ-Δ量化器的輸出動(dòng)態(tài)切換PLL反饋路徑分頻比實(shí)現(xiàn),滿足GPS時(shí)鐘超低相噪/雜散指標(biāo),該IP已量產(chǎn)于GPS接收機(jī)芯片,可獲得-150 dBm接收靈敏度。
5 結(jié)論
本文分析研究了Σ-Δ量化器對小數(shù)分頻頻率合成器相位噪聲及雜散的影響,并建立小數(shù)分頻頻率合成器線性數(shù)學(xué)模型,通過MATLAB驗(yàn)證理論分析的可靠性。同時(shí),提出優(yōu)化Σ-Δ量化器措施,以降低小數(shù)分頻頻率合成器相位噪聲與雜散。本文認(rèn)為,輸入信號預(yù)先插入高頻零點(diǎn),且迭加低能量白噪聲的二階Σ-Δ量化器適合于Σ-Δ頻率合成器。通過提高Σ-Δ駐量化器工作頻率可提升頻率合成器帶寬。
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[9] 池保勇,余志平,石秉學(xué).CMOS射頻集成電路分析與設(shè)計(jì)[M].北京:清華大學(xué)出版社,2006.
作者信息:
楊建明
(廣東中星電子有限公司,廣東 珠海519000)