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解析電離層直接探測法

2017-07-15
關(guān)鍵詞: 電離層 直接探測法

  我們都知道,電離層是地球大氣的一個(gè)電離區(qū)域,離地面60公里以上的整個(gè)地球大氣層都處于部分電離或完全電離的狀態(tài)。電離層是部分電離的大氣區(qū)域,完全電離的大氣區(qū)域則稱為磁層。除地球外,金星、火星和木星都有電離層。那么,你是否又聽說過電離層直接探測法呢?

  所謂電離層直接探測是指利用火箭、衛(wèi)星等空間飛行器將探測裝置攜帶到電離層中,測量電離層介質(zhì)對(duì)裝置的直接作用,以獲得電離層參量的方法。根據(jù)測量的對(duì)象和目的,探測裝置主要有探針和磁力計(jì)。探針又分電子探針、離子探針和質(zhì)譜探針。

  其中,電子探針是用于測量電離層的電子密度及其能量分布裝置。離子探針是用于測量電離層的離子密度、離子溫度及能量分布的裝置。質(zhì)譜探針則是用于測量電離層的離子或中性粒子的質(zhì)量、成分的裝置。磁力儀是用于探測電離層發(fā)電機(jī)區(qū)附近的磁場和磁層頂附近磁場的裝置。


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