文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2017.01.014
中文引用格式: 李夢(mèng)良,樂(lè)立鵬,張建軍,等. 星載65 nm抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC的SEFI實(shí)驗(yàn)方法[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2017,43(1):53-56,59.
英文引用格式: Li Mengliang,Yue Lipeng,Zhang Jianjun,et al. The SEFI test method of 65 nm radiation-hardened on-board GNSS receiver ASIC[J].Application of Electronic Technique,2017,43(1):53-56,59.
0 引言
全球?qū)Ш叫l(wèi)星系統(tǒng)(Global Navigation Satellite System,GNSS)是所有衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)的統(tǒng)稱,包括美國(guó)的GPS、中國(guó)的北斗、俄羅斯的格洛納斯以及歐盟的伽利略,它是面向全球的,利用其中一個(gè)或者多個(gè)系統(tǒng)的無(wú)線電導(dǎo)航信號(hào),為空間和地面用戶提供定位、定時(shí)、測(cè)距、導(dǎo)航等服務(wù)。隨著全球?qū)Ш叫l(wèi)星系統(tǒng)及其相關(guān)產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,GNSS技術(shù)得到了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用,而隨之不斷提升的是用戶對(duì)于GNSS終端性能的要求,特別是功耗、性能、體積方面的需求日益苛刻,對(duì)國(guó)產(chǎn)器件提出了新的挑戰(zhàn)。
星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC芯片是GNSS接收機(jī)小型化、低功耗與國(guó)產(chǎn)化的關(guān)鍵。隨著制造工藝的提高,ASIC的規(guī)模越來(lái)越大,功能越來(lái)越復(fù)雜,極限頻率也逐漸升高;但是與此同時(shí)ASIC的特征尺寸越來(lái)越小,柵長(zhǎng)度、節(jié)點(diǎn)尺寸、深度、氧化層的厚度等都相應(yīng)減小,PN結(jié)臨界電荷也大幅下降,更高的頻率、更低的工作電壓都使得ASIC對(duì)單粒子效應(yīng)(Single Event Effect,SEE)更加敏感[1]。軌道環(huán)境中充滿了來(lái)自宇宙的各種高能離子——質(zhì)子/電子/α離子/重離子/γ射線等,它們所帶來(lái)的SEE嚴(yán)重影響空間器件的可靠性。因此,在星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC研制過(guò)程中,空間器件的可靠性設(shè)計(jì),尤其是抗輻射加固設(shè)計(jì)與驗(yàn)證尤為重要。
在驗(yàn)證抗輻射加固器件的可靠性時(shí),對(duì)于SEFI的檢測(cè)往往比較困難。因?yàn)椴煌腁SIC其功能不一樣,沒(méi)有統(tǒng)一的判定方法。為此,本文根據(jù)產(chǎn)品設(shè)計(jì)功能和性能指標(biāo)要求,設(shè)計(jì)了一種針對(duì)65 nm星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC的SEFI實(shí)驗(yàn)方法。
1 設(shè)計(jì)原理
1.1 芯片工作原理
星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC在國(guó)內(nèi)首次采用65 nm七層金屬的硅柵CMOS工藝,抗輻射標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計(jì),包含SRAM 結(jié)構(gòu),主要完成導(dǎo)航信號(hào)的前置低通濾波、偽碼/載波捕獲、偽碼/載波剝離與相干積分、時(shí)鐘/同步信號(hào)等脈沖產(chǎn)生、串口通信等功能,為GNSS信號(hào)控制解算數(shù)字信號(hào)處理器(Digital Signal Processor,DSP)提供GNSS中頻信號(hào)的載波和偽碼觀測(cè)量,為其他芯片輸出同步時(shí)鐘脈沖。芯片兼容北斗和GPS導(dǎo)航信號(hào),內(nèi)部包含:一個(gè)GPS L1C/A信號(hào)捕獲引擎和一個(gè)北斗B1I信號(hào)捕獲引擎,16個(gè)北斗雙頻跟蹤通道(B1I和B3I),16個(gè)GPS雙頻通道(L1C/A和L2C/L2P)。外部DSP可以通過(guò)外部存儲(chǔ)器接口(External Memory Interface,EMIF)對(duì)芯片進(jìn)行參數(shù)配置,使得ASIC芯片的應(yīng)用變得更加靈活。星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC芯片結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。
1.2 測(cè)試輸入信號(hào)
根據(jù)1.1小節(jié)對(duì)芯片功能的描述,如果要讓ASIC正常工作,必須輸入的激勵(lì)信號(hào)包括:GPS L1C/A數(shù)字中頻信號(hào)、GPS L2C數(shù)字中頻信號(hào)、L2P數(shù)字中頻信號(hào)、B1I數(shù)字中頻信號(hào)、B3I數(shù)字中頻信號(hào)、全局配置信號(hào)(包括AD通道選擇)、RS422/RS232配置信號(hào)、時(shí)鐘配置信息、LVDS接口和前置低通濾波配置參數(shù)、捕獲/跟蹤引擎初始化參數(shù)。參數(shù)和控制寄存器的配置主要是通過(guò)EMIF接口,對(duì)ASIC內(nèi)部相應(yīng)的D觸發(fā)器或者SRAM寫入相應(yīng)的信息實(shí)現(xiàn)的,實(shí)現(xiàn)方法相對(duì)簡(jiǎn)單并且統(tǒng)一。為了能夠?qū)SIC芯片的核心功能——捕獲和跟蹤性能進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)時(shí)測(cè)試,芯片外部就需要產(chǎn)生5種模擬的數(shù)字中頻信號(hào),分4路進(jìn)入芯片內(nèi)部進(jìn)行處理。但是,實(shí)際上在某個(gè)參數(shù)條件下,一個(gè)跟蹤通道或者捕獲引擎只能對(duì)4路當(dāng)中的一路進(jìn)行處理。不失一般性,這里可以選擇第0路的5種數(shù)字中頻信號(hào)作為芯片輸入,并將芯片內(nèi)部所有跟蹤和捕獲引擎配置為處理第0路輸入的模式。這5種數(shù)字中頻輸入由FPGA實(shí)時(shí)發(fā)生,產(chǎn)生算法參考文獻(xiàn)[2-4],并連續(xù)不斷地送給待測(cè)芯片。
1.3 芯片內(nèi)部配置
對(duì)芯片內(nèi)部控制寄存器和數(shù)據(jù)SRAM的配置,主要是通過(guò)EMIF接口來(lái)實(shí)現(xiàn)的。EMIF接口可以對(duì)芯片內(nèi)部多個(gè)寄存器和SRAM的配置,寫入時(shí)序如圖2所示。圖中CS是片選使能信號(hào),WE為寫入使能,ADDR為15位地址總線,DB是32位數(shù)據(jù)總線,使能信號(hào)均為低電平有效。為了保證寫入數(shù)據(jù)的正確性,CS使能有效時(shí)間應(yīng)該寬于WE,避免寫入數(shù)據(jù)失敗。
1.4 數(shù)據(jù)判讀
對(duì)于芯片內(nèi)部數(shù)據(jù)的讀取,仍然通過(guò)EMIF接口進(jìn)行。通過(guò)對(duì)芯片內(nèi)部不同地址的寄存器組的讀取,可以獲知當(dāng)前芯片的工作狀態(tài),特別是捕獲和跟蹤通道的輸出數(shù)據(jù)是否因?yàn)閱瘟W有?yīng)而發(fā)生了異常。圖3給出了EMIF接口的數(shù)據(jù)讀取時(shí)序圖,其中OE是EMIF接口的輸出使能信號(hào),低有效。此時(shí),32位數(shù)據(jù)總線DB作為ASIC芯片的輸出,將會(huì)有一定的時(shí)延T_o,T_o可能會(huì)有2-3個(gè)時(shí)鐘周期。
在沒(méi)有輻照的條件下,兩片相同的ASIC芯片如果輸入相同,那么輸出也應(yīng)該是一樣的。在單粒子試驗(yàn)中,用兩片相同的ASIC芯片A和B,給A/B兩個(gè)芯片輸入相同的激勵(lì)。然后,用輻照源照射A芯片,同時(shí)讀取A/B兩個(gè)芯片的輸出數(shù)據(jù)。設(shè)A片輸出為yA,B片輸出為yB,則:
(1)若|yA|不等于|yB|,那么必定發(fā)生SEU事件;
(2)若|yA|>2|yB|或者|yA|<|yB|/2,且3秒內(nèi)無(wú)法恢復(fù),則發(fā)生一次SEFI。
2 實(shí)現(xiàn)方案
星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC芯片單粒子實(shí)驗(yàn)電路采用一片Altera公司的Cyclone IV系列FPGA進(jìn)行激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生以及芯片輸出判讀,當(dāng)發(fā)生一次SEU或SEFI時(shí),相應(yīng)計(jì)數(shù)器值加一;SEU和SEFI的次數(shù)計(jì)數(shù)值通過(guò)FPGA的RS232接口發(fā)送給上位機(jī);兩片相同的ASIC樣片分別作為實(shí)驗(yàn)片A和參考片B,整個(gè)實(shí)驗(yàn)用PCB板電路連接如圖4所示。對(duì)于芯片而言,在正常工作時(shí),可測(cè)性測(cè)試模式的控制端tst_rst和tst_set需要接3.3 V高電平。
在FPGA復(fù)位以后,F(xiàn)PGA給芯片A/B以及FPGA內(nèi)的測(cè)試激勵(lì)生成部分提供時(shí)鐘clk_in和復(fù)位信號(hào)GlbRst,復(fù)位完成后,測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程如下:
(1)FPGA配置兩個(gè)芯片的全局控制信號(hào),包括時(shí)鐘同步脈沖、捕獲/跟蹤通道選擇、RS422與RS232接口參數(shù)配置、LVDS接口參數(shù)配置、前置FIR濾波器系數(shù)配置;
(2)B1I捕獲引擎參數(shù)寄存器配置,本地偽碼存儲(chǔ)SRAM配置;
(3)B1I/B3I跟蹤通道參數(shù)寄存器配置,本地偽碼存儲(chǔ)SRAM配置;
(4)L1C/A捕獲引擎參數(shù)寄存器配置,本地偽碼存儲(chǔ)SRAM配置;
(5)L1C/A跟蹤通道參數(shù)寄存器配置;
(6)L2C和L2P跟蹤通道參數(shù)寄存器配置;
(7)使能芯片所有捕獲跟蹤通道,開(kāi)始進(jìn)入工作狀態(tài);
(8)FPGA開(kāi)始持續(xù)發(fā)送B1I/B3I/L1CA/L2P/L2C數(shù)字中頻輸入;
(9)FPGA每隔1.3 ms(系統(tǒng)時(shí)鐘61 MHz)讀取一次芯片A/B的所有通道的捕獲和跟蹤結(jié)果,并依照1.3小節(jié)所述判據(jù)進(jìn)行判別;
(10)FPGA每讀10輪,則同時(shí)對(duì)芯片A/B的捕獲引擎進(jìn)行一次初始化。
3 全功能SEFI實(shí)驗(yàn)測(cè)定
星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC單粒子輻照實(shí)驗(yàn)電路板模擬了芯片在用戶單機(jī)上的全功能工作狀態(tài),這保證了SEFI實(shí)驗(yàn)結(jié)果的可靠度,實(shí)驗(yàn)電路板實(shí)物圖如圖5所示,左邊是底視圖,右邊為頂視圖。
整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)由星載抗輻射GNSS接收機(jī)ASIC單粒子輻照實(shí)驗(yàn)電路板、電源控制模塊、多用表、路由器、安捷倫程控電源和兩臺(tái)筆記本PC機(jī)(PC1和PC2)組成。被測(cè)器件(芯片A/B)置于實(shí)驗(yàn)電路板上,實(shí)驗(yàn)電路板放在粒子加速器裝置上進(jìn)行輻照實(shí)驗(yàn);實(shí)驗(yàn)電路板通過(guò)串口與電源控制器以及PC1連接;程控電源、多用表、路由器通過(guò)網(wǎng)線與PC1相連;PC1控制電源設(shè)備、多用表、電源控制器和實(shí)驗(yàn)電路板上的FPGA以及接收實(shí)驗(yàn)電路板通過(guò)串口傳送來(lái)的信息;通過(guò)串聯(lián)多用表來(lái)檢測(cè)被測(cè)器件的工作電流,當(dāng)發(fā)生單粒子栓鎖事件時(shí),程控電源可自動(dòng)斷電;PC2通過(guò)網(wǎng)線與試驗(yàn)室內(nèi)的PC1相連并遠(yuǎn)程控制PC1;電源控制模塊通過(guò)USB數(shù)據(jù)線與PC1連接。系統(tǒng)連接圖如圖6所示。
單粒子功能中斷測(cè)試時(shí),電路工作頻率61.38 MHz或20 MHz,若SEFI功能中斷數(shù)達(dá)到規(guī)定值,或離子總注量達(dá)到107粒子/cm2(以先到者為準(zhǔn)),則停止輻照,變換試驗(yàn)粒子,繼續(xù)進(jìn)行輻照實(shí)驗(yàn)。
采用上述測(cè)試方案,通過(guò)輻照實(shí)驗(yàn),實(shí)際測(cè)得單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)閾值≥15 MeV·cm2/mg,單粒子鎖定(SEL)閾值≥91 MeV·cm2/mg,單粒子功能中斷(SEFI)錯(cuò)誤率:GEO軌道優(yōu)于5×10-5次/天·器件,滿足指標(biāo)要求。
4 結(jié)論
本文所述輻照實(shí)驗(yàn)方案電路簡(jiǎn)單可靠,易于實(shí)現(xiàn),不需要復(fù)雜的單機(jī)運(yùn)行設(shè)備就可以讓芯片正確地運(yùn)行在全功能狀態(tài),大大簡(jiǎn)化了SEFI實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜度,縮短了產(chǎn)品研發(fā)周期。實(shí)驗(yàn)證明:國(guó)內(nèi)首款星載65 nm抗輻射加固GNSS接收機(jī)基帶處理ASIC 芯片功能/性能滿足用戶設(shè)計(jì)預(yù)期,SEFI錯(cuò)誤率滿足指標(biāo)要求。
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作者信息:
李夢(mèng)良,樂(lè)立鵬,張建軍,鄭宏超
(中國(guó)航天電子技術(shù)研究院772所,北京100076)