陳誠，戴爾晗，馬亞男
?。暇┼]電大學 自動化學院，江蘇 南京 210023）
摘要：通過與傳統(tǒng)的過零點檢測方法作對比，設計出一種基于預測相位的二次平均法測量信號周期（簡稱預測相位積分法）的方法，通過其核心部件密勒積分器、比較器和計數(shù)器，對于每個周期信號盡可能準確地在相同相位點上開始進行積分，在標準時間內累計待測信號的脈沖個數(shù)，實現(xiàn)了頻率測量。該方法有較好干擾能力，結構簡單，測量精度高，成本低廉，具有較好的工程應用價值。
關鍵詞：過零檢測；頻率測量；相位積分
中圖分類號：TP353文獻標識碼：ADOI： 10.19358/j.issn.16747720.2016.20.022
引用格式：陳誠，戴爾晗，馬亞男. 基于過零點檢測方法的改進研究［J］.微型機與應用，2016,35（20）：79 81.
0引言
現(xiàn)代電子測量技術［1］主要實現(xiàn)了提高測量速度和降低測量噪聲。隨著微電子技術的進步，測量速度已經(jīng)有了明顯進步。但是由于噪聲的緣故，測量的準確度沒有得到相應的提高，特別是在時間頻率測量領域。
在過去的幾十年里，時間測量技術得到了快速的發(fā)展。計數(shù)式頻率和時間測量原理中，通過其核心部件比較器和計時器，在已知的標準時間內累計未知的待測信號的脈沖個數(shù)，就實現(xiàn)了頻率測量；在未知的待測時間間隔內累計已知的標準時間脈沖個數(shù)，就實現(xiàn)了周期或時間間隔的測量［2-3］。盡管市場上可以買到的頻率計的標準時間脈沖間隔可以達到20 pm，在實驗室，采用遠紫外光技術實現(xiàn)的標準時間脈沖間隔可以達到as（1 as=10-18 s)級，但是對于信號的時間間隔或周期測量的誤差仍然很大，這是由于將被測信號經(jīng)過整形后作為閘門信號引起的。
1過零檢測技術
過零檢測是測量周期信號的頻率和周期的最常用的方法［4-5］。過零點是為了測量相位和頻率而選擇的點。當測量信號的頻率時，通常測量參考信號的多個周期數(shù)的一個或多個時間段。測量多個時間段有利于減少相位噪聲引起的誤差。相位噪聲使得過零檢測點在總的測量時間內有小的擾動，最終結果是以緩慢的測量速率為代價獲得準確的結果。
過零檢測的作用可以理解為在交流系統(tǒng)中給主芯片提供一個標準，這個標準的起點是零電壓，可控硅導通角的大小就是依據(jù)這個標準。也就是說塑封電機高、中、低、微轉速都對應一個導通角，而每個導通角的導通時間是從零電壓開始計算的，導通時間不一樣，導通角度的大小就不一樣，因此電機的轉速就不一樣［6］。電路示意圖如圖1所示。
D5、D6電壓取自變壓器次級A、B兩點，經(jīng)過D5、D6全波整流，形成脈動直流波形，電阻分壓后，再經(jīng)過電容濾波，濾去高頻成分，形成C點電壓波形；當C點電壓大于0.7 V時，三極管Q2導通，在三極管集電極形成低電平；當C點電壓低于0.7 V時，三極管截止，三極管集電極通過上拉電阻R4，形成高電平。這樣通過三極管的反復導通、截止，在芯片過零檢測輸出端口形成100 Hz脈沖波形，芯片通過判斷，檢測電壓的零點。
當輸入頻率的變化反映在輸出時需要大量的加工方法來進行時間的很大延遲，通用的觸發(fā)誤差可以表示為：
觸發(fā)誤差=
其中X是計數(shù)器輸入通道帶來的噪聲（在某些計數(shù)器中小于數(shù)百微伏，在某些計數(shù)器中則可達數(shù)百毫伏），en表示在計數(shù)器帶寬內待測信號源帶來的噪聲有效值，ΔV/ΔT是信號在觸發(fā)點的斜率。
而所有的教科書和電子計數(shù)器對于單次周期測量誤差都描述為：
±計數(shù)誤差±觸發(fā)誤差±標準頻率誤差
理想情況下，如果被測信號存在一個斜率無窮大的觸發(fā)點位置，則被測信號的周期測量會非常準確；但實際情況下，大多數(shù)信號并不存在這樣的觸發(fā)點，反而由于公式（1）是假定被測信號在實際的觸發(fā)點和理想的觸發(fā)點之間是一根直線的情況下推導出來的，導致觸發(fā)誤差可能會更大［7］。
2改進的過零檢測研究
平均法用于測量領域由來已久，目前最準確的基本電參量測量方法是采用積分法實現(xiàn)的直流電壓測量，多周期平均測量技術也用于降低周期測量的誤差［8-9］。無論是測量周期、頻率或相位,錯誤的來源都是一樣的。當測量一個信號用于同步，快速和準確的測量是必需的。這也意味著通過頻率濾波和測量延遲可引入低頻相位失真。本文設計的目的是減少由于多次過零點（兩個以上的各時間段）引起的頻率誤差，并通過提前或延遲過零減少相位誤差［10-12］。
本系統(tǒng)的結構圖如圖2，主要包括密勒積分器、過零比較器、計數(shù)器及邏輯控制、晶體振蕩器電路、顯示電路等。
測量過程是初始化積分器，使積分輸出電壓回到零，根據(jù)計算得到的積分開始時間進行模擬積分，記錄積分開始時間，在積分器輸出電壓再次回到零時停止積分，記錄積分結束時間，由積分開始時間和積分結束時間計算電信號的零點，由一系列電信號的零點計算電信號的頻率。具體步驟如下：
?。?）獲取至少兩個周波過負（或者正）峰值后的過零點時間序列TZ1,TZ2,TZ3…；
（2）確定用于計算第i個過零點時間的起始積分點時間 TSi，其計算公式為TSi=TZ(i-1)+T×C，其中T是根據(jù)過零點TZ(i-1),TZ(i-2),TZ(i-3)，…計算得出的平均周期，C∈(0.5,1)；
（3）在起始積分點時間TSi前，邏輯控制電路給出控制信號使積分器接通內置開關，電容短接，輸出電壓回到零；
?。?）在起始積分點時間TSi，邏輯控制電路給出控制信號使積分器斷開內置開關S2，開始一次積分過程；
?。?）當積分器輸出電壓再次回到零時，記錄積分結束時間TEi ；
?。?）計算第i個過零點時間，在積分開始時間TSi和積分結束時間TEi之間存在一個過零點，該過零點時間表示為：
?。?）重復步驟（2）~（6），依次得到被測電信號的若干個過零點時間TZ1,TZ2,TZ3，…，TZi,TZ(i+1),TZ(i+2)，…，TZn ，其中，i=1，2，…，n，n為正整數(shù)；被測電信號的周期為：Tpi=TZ(i+1)-TZ(i)，被測電信號的頻率為
起始積分時間等同于信號的相位，該方法的核心思想是在一個盡可能準確的相位上開始進行積分。
具體的積分過程可以參見圖3和圖4。圖3是采用傳統(tǒng)的過零點比較法獲取了兩個過零點后，采用本文所述方法獲取第3個過零點的示意圖。圖4是獲得第7個和第8個過零點的示意圖。
本文的方法中使用了兩次平均的方法。第一次是對被測信號的平均(積分)。對被測信號的積分可以將起始積分時間和結束積分時間之間均值為零的噪聲濾除；起始積分時間和結束積分時間之間均值不為零的噪聲對本系統(tǒng)而言相當于在原始信號中疊加的直流電平，不影響周期測量的準確度。第二次是對起始積分時間和結束積分時間取平均。由于預測的積分時間Tsi（相位）和理想的積分時間之間可能存在一些偏差，導致可能會在理想的積分時間之前或者之后開始積分，但是對于任何一個從負電平到正電平或者從正電平到負電平的信號進行積分，在輸出為零的時候停止積分，其過程可以參見圖3、圖4?？梢钥闯鲞^早的開始積分時間會導致積分時間延長，過晚的開始積分時間會導致積分時間縮短，因此采用了針對起始積分時間和結束積分時間取平均的方法來獲取過零點從而降低過早積分或過晚積分產(chǎn)生的誤差。其中第一次平均消除了噪聲峰值的影響，使得周期測量的誤差和噪聲均值相關；第二次平均消除了部分過早或過晚積分引起的誤差，這里稱之為預測誤差。預測誤差總會存在，但選擇適當?shù)拈_始積分時間可以降低預測誤差。
為了衡量系統(tǒng)的優(yōu)劣，針對以上問題通過實驗來進行驗證，模擬噪聲環(huán)境，采用了采樣頻率為50 MHz的采樣數(shù)據(jù)來描述被測模擬信號。信號基波頻率為50 Hz，幅值為100 V；添加2、3、5、7次諧波，其幅值分別為31 V、10 V、32 V、25 V和10 V，諧波的相位隨機生成；添加幅值為10 V的隨機噪聲。
由于在在實際系統(tǒng)中獲取每個周期信號的理想的相同相位點并開始積分實現(xiàn)難度較大，而在此仿真系統(tǒng)中，可以在一個數(shù)字模擬環(huán)境下直接獲取基波的相位，然而起始積分點和結束積分點的電平的絕對值的差值較大會引起測量結果不準確的，因此接下來的工作就需要大量的數(shù)據(jù)去驗證這樣的方法，保守估計在采用優(yōu)化數(shù)據(jù)時，推測相位積分法獲取的周期數(shù)據(jù)的準確度比傳統(tǒng)電子計數(shù)器的準確度高50~100倍。
3結論
相位積分法可以獲得傳統(tǒng)電子計數(shù)器高倍度精度，可以大大提高周期測量的準確度。更大或者更小的噪聲對系統(tǒng)測量精度影響的數(shù)據(jù)這里不一一列出，噪聲均值大小會影響固定相位積分法的測量結果，無論噪聲大小如何，優(yōu)化后的相位積分法獲得的測量結果精度非常接近固定相位積分法的測量精度，如圖5所示。
采用此種方法的測量結果大致和噪聲的均值成正比，積分法的直流電壓測量精度仍然受到均值不為零的噪聲影響，而均值不為零的噪聲對本系統(tǒng)而言相當于在原始信號上疊加的直流電平。由于均值不為零的噪聲在某一段時間內的均值與其數(shù)學期望也會不相等，因此均值不為零的噪聲也會影響測量結果。到目前為止，已知的均值不為零的噪聲主要分布在非常低的頻段，其影響幾乎可以忽略不計。相比較于直流電壓測量，本文所述的方法對均值不為零的噪聲仍然有一定的抑制能力，但希望下一步的研究能使其有更進一步的提高。
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