絕大多數(shù)用戶在評測文章中最關心的還是產(chǎn)品的測試成績。有人就會問:平時SSD評測文章中的一些軟件的測試成績代表了什么?只有認識這些成績,才能利用這 些成績來正確判斷其產(chǎn)品的好壞。今天小編就以金勝E3000s為例為大家解讀SSD在AS SSD測試軟件所代表的成績。
金勝 E3000s-120采用了7mm超薄設計,內部構造也較為簡單,PCB僅一面貼有電子元件。SSD方案為:SF2281+英特爾同步MLC,由于采用如此方案,在速度和整體性能來說,相對來說成績比較突出。
AS SSD的主要測試,也是網(wǎng)上最常見得到測試成績的,是它主界面上持續(xù)、隨機、存取時間等8個相關測試,另外還有壓縮和文件復制測試。使用這個軟件可以評估這個SSD的傳輸速度好不好。
在SATA III接口上測試,讀寫成績分別為:481MB/s、419MB/s。讀取速度在這里表現(xiàn)還算正常,而持續(xù)寫入會受相當多的因素影響,包括盤內剩余空間的多寡、盤內數(shù)據(jù)分布、系統(tǒng)節(jié)能設置等等都會對測試成績產(chǎn)生顯著的影響。 首先是持續(xù)測試(Seq),AS SSD會先以16MB的尺寸為單位,持續(xù)向受測分區(qū)寫入生成1個達到1GB大小的文件,然后再以同樣的單位尺寸讀取這個,最后計算平均成績而給出結果。測試一完畢,測試文件會立刻刪除。
關于隨機測試,產(chǎn)生最多疑問的就是單隊列深度的隨機測試成績,經(jīng)常能見到有剛接觸SSD的人會問:為什么這個項目的成績低那么多?簡單的理解,持續(xù)測試是 整體跑分,而4K文件是同一時間處理一個小文件或者64個小文件。成績當然會看起來比較低。 再來是隨機單隊列深度測試(4K),測試軟件會以512KB的單位尺寸生成1GB大小的測試文件,然后在其地址范圍(LBA)內進行隨機4KB單位尺寸進 行寫入及讀取測試,直到跑遍這個范圍為止,最后同樣計算平均成績給出結果。由于有生成步驟,本測試對硬盤會產(chǎn)生一共2GB的數(shù)據(jù)寫入量。本測試完畢后,測 試文件會暫時保留。
64隊列深度的4KB測試,只是同時寫入和讀取的文件數(shù)量不同。單隊列正常情況下是寫入會比讀取成績高1.5倍(2倍)。而64隊列深度的正常情況讀寫都 要比持續(xù)低,如果出現(xiàn)相反的情況,純屬軟件“抽風”,不用搭理它。 到隨機64隊列深度測試(4K-64Thrd),軟件則會生成64個16MB大小的測試文件(共計1GB),然后同時以4KB的單位尺寸,同時在這64個 文件中進行寫入和讀取測試,最后依然以平均成績?yōu)榻Y果。本步驟也同樣產(chǎn)生2GB的數(shù)據(jù)寫入量。本測試一完畢,測試文件會立刻刪除。
一般普通用戶其實不太需要關心,只要看懂前面持續(xù)和隨機的測試已經(jīng)足以判斷SSD有沒有正常工作。如果采用橋接SATA接口數(shù)值上會比原生SATA接口高一些,和HDD相比,這個數(shù)值就能比較容易表現(xiàn)出SSD“快”的根本所在。 接著是數(shù)據(jù)存取時間測試(Acc.time),軟件會以4KB為單位尺寸,隨機讀取全盤地址范圍(LBA),寫入則以512B為單位尺寸,隨機寫入保留的1GB地址范圍內,最后以平均成績給出結果。
在選擇IOPS作為單位,金勝這款SSD在隨機測試中表現(xiàn)的成績就表現(xiàn)非常優(yōu)異。獲得以上所有成績后,AS SSD還會依據(jù)其公式計算得分,但AS SSD的分數(shù),并沒有很強的代表性,小編建議大家不需要關心。只要清楚以上8個成績就足夠了。以上主界面的幾個測試,完整測一次會產(chǎn)生共5GB的寫入量, 因此無必要就建議大家不要隨便跑。
文件復制測試,其中ISO測試是復制2個大文件的速度。(300MB和800MB各一)。Program測試是復制由許多小文件組成的典型程序文件夾。 (最小的512B,最大的70MB)。Game測試則復制由許多小文件和較大文件混合的文件夾。(512B~數(shù)十MB都有)。這個測試其實就等同在硬盤內 復制文件,處理速度越快,也說明其實際運用也能表現(xiàn)突出。
最后是AS SSD的壓縮率測試,這個測試是針對主控使用了壓縮功能的SSD而設的,通過不同可壓縮比率的測試文件來獲得壓縮性能曲線。在沒使用壓縮功能的SSD上, 成績就會如上圖中的那樣,曲線比較平直而不是隨壓縮率的變化而成為弧線。SSD在寫入上突然弧度變化大,可以理解為突發(fā)情況,壓縮測試也會生成1GB的測 試文件,所以會產(chǎn)生共2GB的寫入量。
編輯點評:通過上面簡單的介紹AS
SSD的測試原理和簡單的解說,相信許多朋友對于SSD評測性文章會有一個更具體的了解。由于測試數(shù)據(jù)需要經(jīng)過讀取和寫入的操作,所有測試數(shù)據(jù)都經(jīng)過了電
腦內所有跟存儲有關的配件包括CPU、內存、主板芯片和線路、硬盤,因此測試成績體現(xiàn)的是這些配件組成的存儲系統(tǒng)的綜合性能,而并非單只是硬盤本身的性能
表現(xiàn)。