NI發(fā)布《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》
2010-04-26
作者:NI
美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》,就創(chuàng)新技術(shù)對(duì)當(dāng)今測(cè)試測(cè)量應(yīng)用的影響發(fā)表了研究結(jié)果。報(bào)告涵蓋了通信、國防航空、半導(dǎo)體、汽車和消費(fèi)電子等眾多產(chǎn)業(yè),力圖幫助工程師和管理者了解自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的最新發(fā)展趨勢(shì)及其影響。
NI通過與眾多涉及不同領(lǐng)域的公司進(jìn)行交流,對(duì)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行了廣泛的研究,從獨(dú)特的視角觀察測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)?!?010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》結(jié)合了學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代表討論的結(jié)果。以此數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),該報(bào)告闡述了未來測(cè)試測(cè)量趨勢(shì)以及如何應(yīng)對(duì)測(cè)試測(cè)量行業(yè)所面臨的市場(chǎng)挑戰(zhàn)與技術(shù)挑戰(zhàn)。
《2010自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》從五個(gè)角度出發(fā)進(jìn)行闡述:這五個(gè)角度分別是商業(yè)策略、構(gòu)架、計(jì)算、軟件和硬件I/O。報(bào)告在每一類中詳細(xì)闡述了影響測(cè)試測(cè)量行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)、方法或技術(shù)。報(bào)告談?wù)摿艘韵挛鍌€(gè)主題:
•標(biāo)準(zhǔn)化:開發(fā)通用的平臺(tái),降低成本,在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期中可重復(fù)利用測(cè)試系統(tǒng)
•多通道RF測(cè)試:測(cè)試下一代無線設(shè)備需要一個(gè)從信號(hào)層面到軟件層面的并行測(cè)試架構(gòu)
•Peer-to-Peer計(jì)算:越來越復(fù)雜的測(cè)試要求需要更高的性能和點(diǎn)對(duì)點(diǎn)計(jì)算構(gòu)架
•嵌入式設(shè)計(jì)與測(cè)試:通過實(shí)時(shí)測(cè)試軟件,工程師可以在測(cè)試階段復(fù)用他們?cè)诋a(chǎn)品開發(fā)過程中建立的嵌入式系統(tǒng)模型
•可重配置的儀器:基于FPGA的儀器通過引入硬件級(jí)的自定義特性,進(jìn)一步提高了性能和靈活性
敬請(qǐng)?jiān)L問www.ni.com/ato,查看《2010 自動(dòng)化測(cè)試前景報(bào)告》。報(bào)告中文版將于近期推出,敬請(qǐng)關(guān)注。
此外,第七屆PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇將于今年5月28日在深圳召開,欲了解更多自動(dòng)化測(cè)試相關(guān)信息,可登陸http://www.epc.com.cn/pxitac2010/進(jìn)行報(bào)名。
關(guān)于NI
30多年來,美國國家儀器公司(NI)幫助測(cè)試、控制、設(shè)計(jì)領(lǐng)域的工程師與科學(xué)家解決了從設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)。通過現(xiàn)成可用的軟件,如LabVIEW, 以及高性價(jià)比的模塊化硬件,NI幫助各領(lǐng)域的工程師不斷創(chuàng)新,在縮短產(chǎn)品問世時(shí)間的同時(shí)有效降低開發(fā)成本。如今,NI為遍布全球各地的30,000家不同的客戶提供多種應(yīng)用選擇。NI總部設(shè)于美國德克薩斯州的奧斯汀市,在40多個(gè)國家中設(shè)有分支機(jī)構(gòu),共擁有5,000多名員工。在過去連續(xù)11年里,《財(cái)富》雜志評(píng)選NI為全美最適合工作的100家公司之一。作為最大的海外分支機(jī)構(gòu)之一,NI中國擁有完善的產(chǎn)品銷售、技術(shù)支持、售后服務(wù)和強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)。敬請(qǐng)?jiān)L問ni.com/china,或致電800-820-3622,了解更多NI專業(yè)產(chǎn)品及服務(wù)信息。