本課題來源于一個(gè)無紙記錄儀的項(xiàng)目。在該項(xiàng)目中要求無紙記錄儀中有一路通道將工業(yè)現(xiàn)場采集到的頻率信號(hào)測量并顯示出來。傳統(tǒng)的 測頻系統(tǒng)大多采用單片機(jī)加邏輯器件構(gòu)成，而這類測頻系統(tǒng)存在測頻速度慢、準(zhǔn)確度低、可靠性差的缺點(diǎn)，故而使測量儀表達(dá)不到工業(yè)現(xiàn)場的要求。鑒于此，本文設(shè) 計(jì)了一種基于嵌入式微處理器SEP 3203和FPGA的測頻系統(tǒng)。將嵌入式微處理器靈活的控制功能與FPGA的設(shè)計(jì)靈活、高速和高可靠性的特點(diǎn)有機(jī)結(jié)合，從而達(dá)到工業(yè)現(xiàn)場的實(shí)時(shí)測量要求， 而且該測頻系統(tǒng)具有可重構(gòu)性。

2 測頻原理

常用的直接測頻方法主要有測頻法和測周期法2種。測頻法就是在確定的閘門時(shí)間 tw內(nèi)，記錄被測信號(hào)的變化周期數(shù)(或脈沖個(gè)數(shù))Nχ，被測信號(hào)的頻率為fχ＝Nχ／tw。測周期法需要有標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的頻率fs，在待測信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi) tχ，記錄標(biāo)準(zhǔn)頻率的周期數(shù)Ns，被測信號(hào)的頻率為fχ＝fs／Ns。這2種方法的計(jì)數(shù)值會(huì)產(chǎn)生±1個(gè)字的誤差，并且測試精度與計(jì)數(shù)器中記錄的數(shù)值Nχ或 Ns有關(guān)。為了保證測試精度，一般對(duì)于低頻信號(hào)采用測周期法，對(duì)于高頻信號(hào)采用測頻法，這樣測試時(shí)很不方便，所以人們提出了等精度測頻的方法。

等精度測頻方法是在直接測頻方法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，他的閘門時(shí)間不是固定的值，而是被測信號(hào)周期的整數(shù)倍，即與被測信號(hào)同步，消除了對(duì)被測信號(hào)計(jì)數(shù)所產(chǎn)生±1個(gè)字的誤差，達(dá)到了在整個(gè)測試頻段內(nèi)保持等精度測量。其測頻原理如圖1所示。




在 測量過程中，有2個(gè)計(jì)數(shù)器分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)和被測信號(hào)同時(shí)計(jì)數(shù)。首先給出閘門開啟信號(hào)(預(yù)置閘門上升沿)，此時(shí)計(jì)數(shù)器并不開始計(jì)數(shù)，而是等到被測信號(hào)的上升 沿到來時(shí)，計(jì)數(shù)器才真正開始計(jì)數(shù)。然后預(yù)置閘門關(guān)閉信號(hào)(下降沿)到時(shí)，計(jì)數(shù)器并不立即停止計(jì)數(shù)，而是等到被測信號(hào)的上升沿到來時(shí)才結(jié)束計(jì)數(shù)，完成1次測 量過程。從而實(shí)現(xiàn)了實(shí)際門控信號(hào)與被測信號(hào)的同步，進(jìn)而消除對(duì)被測信號(hào)計(jì)數(shù)產(chǎn)生的一個(gè)脈沖的誤差。

設(shè)在1次實(shí)際閘門時(shí)間τ中計(jì)數(shù)器對(duì)被測信號(hào)的計(jì)數(shù)值為Nχ，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的計(jì)數(shù)值為Ns。標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的頻率為fs，則被測信號(hào)的頻率為：

fχ＝(Nχ／Ns)×fs (1)

3 誤差分析

由式(1)可知，若忽略標(biāo)頻的誤差，則等精度測頻可能產(chǎn)生的相對(duì)誤差為：

δ＝(fχ－fe／fe)×100％ (2)

其中，fe為被測信號(hào)頻率的準(zhǔn)確值。在測量中，由于fχ計(jì)數(shù)的起停時(shí)間都是由該信號(hào)的上升沿觸發(fā)的，在閘門時(shí)間τ內(nèi)對(duì)fχ的計(jì)數(shù)Nχ無誤差(τ＝Nχtχ)；對(duì)fs的計(jì)數(shù)Ns最多相差1個(gè)數(shù)的誤差，即│△Ns│≤1，其測量頻率為：

fe＝[Nχ／(Ns＋△Ns)]／fs (3)

將式(1)和式(3)代入式(2)，并整理得：

δ＝│△Ns│／Ns≤1／Ns－1／(τ×fs) (4)

由 上式可以看出：測量頻率的相對(duì)誤差與被測信號(hào)頻率的大小無關(guān)，僅與閘門時(shí)間和標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)頻率有關(guān)，即實(shí)現(xiàn)了整個(gè)測試頻段的等精度測量。閘門時(shí)間越長，標(biāo)準(zhǔn)頻 率越高，測頻的相對(duì)誤差就越小。標(biāo)準(zhǔn)頻率可由穩(wěn)定度好、精度高的高頻晶體振蕩器產(chǎn)生，在保證測量精度不變的前提下，提高標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)頻率，可使閘門時(shí)間縮短， 即提高測試速度。

4設(shè)計(jì)框圖及實(shí)現(xiàn)

(1)前級(jí)電路

即首先對(duì)待測信號(hào)進(jìn)行處理使其達(dá)到與后級(jí)電路相兼容的脈沖信號(hào)。原理框圖如圖2所示。具體實(shí)現(xiàn)電路如圖3所示。








第 一級(jí)電路是由開關(guān)三極管組成的零偏置放大電路，以保證放大電路具有良好的高頻響應(yīng)，當(dāng)輸入信號(hào)為零或負(fù)電壓時(shí)，三極管工作在截止?fàn)顟B(tài)，輸出為高電平，當(dāng)輸 入為正電壓時(shí)，三極管工作在飽和狀態(tài)(導(dǎo)通)，輸出電壓隨輸入電壓上升而下降。零偏置放大電路把如正弦波樣的正負(fù)交替波形變換成單向脈沖，這使得該電路可 以測量任意方波信號(hào)、正弦波信號(hào)、鋸齒波信號(hào)、三角波信號(hào)等頻率。

第二級(jí)采用的是施密特非門觸發(fā)器CC74HC14，是對(duì)放大器輸出的信號(hào)進(jìn)行整形，使其輸出的信號(hào)成為與后級(jí)電路相兼容的脈沖信號(hào)。

(2)后級(jí)電路

圖4為測頻系統(tǒng)的主要模塊。圖4中各模塊用硬件描述語言Verilog HDL描述，通過EDA工具(ModelSim，Synplify，QuartusⅡ)進(jìn)行編譯、仿真、延時(shí)分析、管腳調(diào)整、綜合等步驟，最后燒錄到FPGA芯片中。將芯片與被測信號(hào)的放大整形模塊等外圍電路相連接，通過調(diào)試便完成了整個(gè)設(shè)計(jì)。




工作過程表示如下：

d_trigger 實(shí)體實(shí)現(xiàn)門控信號(hào)和被測信號(hào)TCLK同步控制功能，內(nèi)部有一個(gè)受被測信號(hào)TCLK上升沿同步的D觸發(fā)器和預(yù)置門控信號(hào)CL共同作用產(chǎn)生實(shí)際的門控信號(hào)。 counter32b1和counter32b2分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)頻率BCLK和被測頻率TCLK計(jì)數(shù)，內(nèi)部為帶異步復(fù)位的32位二進(jìn)制計(jì)數(shù)器的時(shí)序進(jìn)程。 mux64_8是數(shù)據(jù)選擇器，根據(jù)地址信號(hào)se1不同取值，64位數(shù)據(jù)依次從data_out[7：0]端輸出。

即當(dāng)CLR為1，D觸發(fā) 器及兩個(gè)計(jì)數(shù)器清零。當(dāng)預(yù)置門控信號(hào)CL為1時(shí)，及經(jīng)放大整形后的被測信號(hào)TCLK上升沿到來時(shí)，同步電路輸出dout＝1，帶使能端的2個(gè)計(jì)數(shù)器開始計(jì) 數(shù)；當(dāng)預(yù)置門控信號(hào)CL為0時(shí)，被測信號(hào)TCLK下一個(gè)上升沿到來時(shí)，同步電路輸出dout＝0，即ena1＝ena2＝0，2個(gè)計(jì)數(shù)器停止計(jì)數(shù)。然后根 據(jù)地址信號(hào)se1不同取值，64位數(shù)據(jù)依次從data_out[7：0]端輸出送入后端的乘法器和除法器模塊，按公式計(jì)算出被測頻率的值。

(3)嵌入式微處理器讀取測頻結(jié)果

本系統(tǒng)采用東南大學(xué)國家集成電路工程中心自主研發(fā)的嵌入式微處理器SEP 3203，并通過JTAG仿真器連接到PC機(jī)上的集成調(diào)試環(huán)境(IDE)軟件平臺(tái)，在IDE中統(tǒng)一完成C語言的編輯、編譯、連接。IDE選擇了ARM公司的開發(fā)軟件ADS 1．2，利用處理機(jī)的Embedded-ICE性能，通過JTAG接口實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)的仿真調(diào)試。整個(gè)系統(tǒng)具有高性能、低功耗、低成本的特點(diǎn)。本系統(tǒng)的平臺(tái)結(jié)構(gòu)如圖5所示：




FPGA與嵌入式微處理器SEP 3203之間采用總線的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，也就是將FPGA看作總線上的一個(gè)并行外部設(shè)備。FPGA通過一個(gè)SRAM接口與嵌入式微處理器SEP 3203相通信。即從嵌入式微處理器SEF'3203的角度來看，F(xiàn)PGA與嵌入式微處理器SEP3203之間的通信就相當(dāng)于SEP 3203與一個(gè)SRAM之間的通信。在程序中讀寫指定區(qū)域的地址，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)FPGA的讀寫操作。嵌入式微處理器的軟件流程圖如圖6所示：



處 理器SEP 3203的外部存儲(chǔ)器接口(EMI)提供了6個(gè)可配置的片選信號(hào)：CSA，CSB，CSC，CSD，CSE，CSF，用來實(shí)現(xiàn)對(duì)ROM，SRAM，NOR FLASH的片選。其中CSE，CSF、可以配置成SDRAM片選信號(hào)。FPGA模塊使用的是CSB片選信號(hào)。CSB片選的默認(rèn)地址范圍為 0x24000000～0x27FFFFFF，即FPGA組成的外設(shè)映射在SEP3203的地址空間為0x24000000～0x27FFFFFF，所以 SEP3203在訪問FPGA時(shí)只需讀寫該地址空間中的任何一個(gè)地址，SEP3203能自動(dòng)產(chǎn)生相應(yīng)的總線操作，從而讀取到FPGA的測頻結(jié)果。

5 仿真及驗(yàn)證

取fs＝1 MHz為例，實(shí)際仿真的結(jié)果如圖7，圖8所示，由此驗(yàn)證了等精度測頻的高精確度。


例1：標(biāo)準(zhǔn)頻率Fs為1 MHz；待測頻率Fχ為1 kHz。

由圖7看出Ns＝0x7DOH＝2 000；Nχ＝0x2H＝2，故測得頻率Fχ＝(N＝／Ns)*Fχ＝1 kHz。






例2：標(biāo)準(zhǔn)頻率Fs為1 MHz；待測頻率Fχ為7．288 kHz。

由圖8看出Ns＝0x80AH＝2 058；Nχ＝0xFH＝15，故測得頻率Fχ＝(Nχ／Ns)*Fs＝7 288．630 Hz。




采用等精度頻率測量方法測量精度保持恒定，不隨所測信號(hào)的變化而變化，再結(jié)合FPGA集成度高、高速和高可靠性的特點(diǎn)，使頻率的測頻范圍可達(dá)到0．1～1×10 8Hz，測頻全域的相對(duì)誤差恒定。

6 結(jié) 語

本測頻系統(tǒng)將嵌入式微處理器靈活的控制功能與FPGA器件的結(jié)合，突破了傳統(tǒng)電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)模式，使系統(tǒng)開發(fā)速度快、成本低、系統(tǒng)性能大幅度提高。因此，在目前的電子設(shè)計(jì)中，充分利用嵌入式微處理器＋FPGA結(jié)構(gòu)將起到事半功倍的效果。