《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于高端FPGA的IC驗(yàn)證平臺的電源完整性(PI)分析

2007-12-19
作者:郭敘海

摘? 要:通用的FPGA驗(yàn)證平臺" title="驗(yàn)證平臺">驗(yàn)證平臺在運(yùn)行不同的應(yīng)用時,其瞬態(tài)電流需求是不同的。本文以Xilinx Virtex-4千萬門級的FPGA高端IC驗(yàn)證平臺為例,采用Cadence SQ P1分析工具,對多種地電平面、電容值、電容的放置位置、電容的類型等進(jìn)行評估,然后通過修正電容數(shù)量和額定值,調(diào)整電容的布局以及封裝等,達(dá)到符合要求的電源-地平" title="地平">地平面目標(biāo)阻抗,從而將電源/地平面上的噪聲降低到電源的要求范圍。本文提出的電源完整性" title="電源完整性">電源完整性分析方法,對其他類型的系統(tǒng)板級" title="板級">板級設(shè)計也有一定的指導(dǎo)意義。

關(guān)鍵詞:瞬態(tài)電流 紋波電壓 目標(biāo)阻抗 去耦電容" title="去耦電容">去耦電容 電源完整性

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