《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)
摘要:   2M 測(cè)試系統(tǒng)在我國(guó)電信、網(wǎng)絡(luò)相關(guān)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。本文介紹的基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)具有體積小、功耗低、功能豐富等優(yōu)點(diǎn),特別是能夠語(yǔ)音監(jiān)聽,并且各時(shí)隙可選,能夠滿足對(duì)2M口性能的測(cè)試和分析。ARM處理器以其高性價(jià)比,在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
關(guān)鍵詞: ARM 2M測(cè)試系統(tǒng) S3C2410
Abstract:
Key words :

1引言
  數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天, 2M口日益成為重要的設(shè)備投入業(yè)務(wù)測(cè)試點(diǎn)和運(yùn)營(yíng)維護(hù)測(cè)試點(diǎn)。數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天,建立綜合業(yè)務(wù)數(shù)字網(wǎng)正成為電信經(jīng)營(yíng)者努力的方向。差錯(cuò)(誤碼、誤塊)性能作為數(shù)字網(wǎng)的重要傳輸性能指標(biāo),是網(wǎng)絡(luò)營(yíng)運(yùn)者進(jìn)行數(shù)字網(wǎng)建設(shè)、維護(hù)的重要依據(jù);也是評(píng)估電信業(yè)務(wù)性能優(yōu)劣的標(biāo)準(zhǔn)之一。 因此,國(guó)際電聯(lián)(ITU-T)極為重視對(duì)差錯(cuò)的研究,近年來(lái),針對(duì)數(shù)字網(wǎng)的設(shè)計(jì)、安裝、維護(hù)的要求,推出了一系列有關(guān)誤碼性能的建議。目前我國(guó)工程技術(shù)人員所使用的測(cè)試儀多為國(guó)外進(jìn)口產(chǎn)品,產(chǎn)品價(jià)格昂貴。而國(guó)產(chǎn)的測(cè)試儀功能相對(duì)簡(jiǎn)單。為此我們研究設(shè)計(jì)了一款基于 ARM的2M傳輸口測(cè)試系統(tǒng)。2Mb/s是我國(guó)數(shù)字時(shí)分復(fù)用基群2048kbit/s 的簡(jiǎn)稱,是PCM傳輸與交換的基礎(chǔ)。本文涉及的2M傳輸口測(cè)試系統(tǒng)為手持式PCM 2M綜合測(cè)試儀器。
  2系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
  根據(jù)2M測(cè)試系統(tǒng)的性能要求,硬件層主要由系統(tǒng)核心部分、檢測(cè)模塊部分和語(yǔ)音監(jiān)聽部分組成。硬件原理框圖如圖1。

        


  2.1 系統(tǒng)核心組成設(shè)計(jì)
  在此系統(tǒng)中我們選用三星公司的S3C2410[1]微控制器芯片,內(nèi)含一個(gè)由ARM公司設(shè)計(jì)的16/32位ARM920T RISC處理器核,ARM920T為低功耗、高性能的16/32核。S3C2410微控制器芯片在本系統(tǒng)中的主要作用是:(1)讀寫和控制各模塊芯片;(2)讀取鍵值;(3)控制液晶屏的顯示;(4)在測(cè)量時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取和處理;(5)對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀寫;(6)通過(guò)串行口與微機(jī)進(jìn)行通訊,將測(cè)試結(jié)果上傳微機(jī)。存儲(chǔ)器以HY29LV160 FLASH作為程序存儲(chǔ)器,以HY57V641620SDRAM作內(nèi)存,構(gòu)成嵌入式系統(tǒng)核心。S3C2410芯片內(nèi)含一個(gè)IIC總線控制器,可方便的與各種帶有IIC接口的器件相連。在該系統(tǒng)中,外擴(kuò)一片AT24C01作為IIC存儲(chǔ)器。可存放在系統(tǒng)掉電時(shí)需要保存的數(shù)據(jù)。
  2.2 檢測(cè)模塊部分的設(shè)計(jì)
  檢測(cè)模塊部分由芯片DS21354[2]和芯片DS21372組成,這兩塊芯片協(xié)同工作共同完成檢測(cè)功能。DS21354芯片主要完成發(fā)送和接收2048kbit/s 的PCM 信號(hào),并從中檢測(cè)誤碼和告警狀態(tài)。DS21372是一種軟件可編程的測(cè)試圖樣產(chǎn)生、接收、分析器,能適用于對(duì)差錯(cuò)性能要求最嚴(yán)格的數(shù)字傳輸設(shè)備的能力。具有兩種測(cè)試圖樣的生成方式(偽隨機(jī)序列和重復(fù)序列)。符合CCITT/ITU O.151,O.152,O.153和 O.161標(biāo)準(zhǔn)。DS2172 可以工作在直流到20MHz,這樣寬的頻率工作范圍使它可以靈活地使用在現(xiàn)有的設(shè)備和處于測(cè)試階段的新設(shè)備中,如:傳輸設(shè)備,交換設(shè)備,復(fù)用器,DAC,路由器,橋設(shè)備等。
  DS21372[3]中包含有4個(gè)功能塊:圖樣產(chǎn)生,圖樣檢測(cè),差錯(cuò)計(jì)數(shù)和控制接口,具有完全獨(dú)立的傳輸和接收部分,8bit的并行處理器接口,可以編程產(chǎn)生最大長(zhǎng)度為(232-1)bits的偽隨機(jī)序列圖樣,可編程的多項(xiàng)式長(zhǎng)度和反饋量可以用于任意偽隨機(jī)序列圖樣的生成,包括:26-1、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1和232-1。或者用戶編程的自定義長(zhǎng)度從1到32bits的重復(fù)序列圖樣。擁有32bit差錯(cuò)計(jì)數(shù)器和比特計(jì)數(shù)器。軟件編程的比特差錯(cuò)插入,最大比特差錯(cuò)率圖樣的檢測(cè)可達(dá)10-2。DS21372能向線路插入單個(gè)bit或從10-1bit到10-7bit誤碼率的誤碼,以檢驗(yàn)設(shè)備的操作狀態(tài)和連通性。用于分析、評(píng)測(cè)、解決數(shù)字通信系統(tǒng)中出現(xiàn)的問(wèn)題。
  2.3 語(yǔ)音監(jiān)聽模塊部分的設(shè)計(jì)
  語(yǔ)音監(jiān)聽部分采用時(shí)隙交換電路和語(yǔ)音檢測(cè)模塊組成,語(yǔ)音檢測(cè)模塊采用ZARLINK的3.3V多功能CODEC  MT91L60[4]。這款芯片能實(shí)現(xiàn)聲音信號(hào)的A/D、D/A轉(zhuǎn)換,并為標(biāo)準(zhǔn)的電話機(jī)手柄等接收發(fā)送裝置提供模擬接口。當(dāng)E1接口電路與2M實(shí)際線路連通后,2M 鏈路上的話音時(shí)隙要通過(guò)時(shí)隙交換電路與MT91L60電路相連,構(gòu)成了話音時(shí)隙收發(fā)的通道。在這個(gè)過(guò)程中要初始化時(shí)隙交換電路,將2M鏈路上的需要監(jiān)測(cè)的話音時(shí)隙交換至MT91L60。打開MT91L60接收通路至電話機(jī)手柄輸出,設(shè)置ITU-T A-law話音編碼方式,設(shè)置接收增益+6dB,設(shè)置非消側(cè)音非環(huán)回模式等。這些設(shè)置是通過(guò)設(shè)置MT91L60內(nèi)部寄存器完成的,完成這一系列設(shè)置后,語(yǔ)音測(cè)試就可以開始了,語(yǔ)音可以通過(guò)電話機(jī)手柄聽到,其他測(cè)試內(nèi)容可以從MT91L60內(nèi)部寄存器讀到結(jié)果。
  3系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
  軟件部分主要由啟動(dòng)代碼的設(shè)計(jì)和應(yīng)用程序的設(shè)計(jì),基于ARM是復(fù)雜的片上系統(tǒng)(SOC),這種復(fù)雜系統(tǒng)里的多數(shù)硬件模塊都是可配置的,需要由軟件來(lái)設(shè)置其需要的工作狀態(tài)。因此在用戶的應(yīng)用程序啟動(dòng)之前,需要有專門的一段啟動(dòng)代碼來(lái)完成對(duì)系統(tǒng)的初始化。由于這類代碼直接面對(duì)處理器內(nèi)核和硬件控制器進(jìn)行編程,一般都是用匯編語(yǔ)言寫的。啟動(dòng)代碼就是完成各種初始化工作,并引導(dǎo)進(jìn)入C程序。
  
3.1 bootloader設(shè)計(jì)
  啟動(dòng)代碼[5]的主要實(shí)現(xiàn)功能包括以下部分:
  (1)設(shè)置程序入口指針;
  (2)設(shè)置中斷向量表;
  (3)初始化存儲(chǔ)器系統(tǒng);
  (4)初始化CPU各種模式的堆棧和寄存器;
  (5)初始化目標(biāo)系統(tǒng)中要使用的各種片內(nèi)外設(shè);
  (6)初始化用戶程序執(zhí)行環(huán)境;
  (7)引導(dǎo)主應(yīng)用程
  具體實(shí)現(xiàn)的部分代碼如下:                       
  AERA Init, CODE,READONLY
  ENTRY             ;定義入口點(diǎn)
  B SYS_RST_HANDLER ;系統(tǒng)上電復(fù)位操作
  B UDF_INS_HANDLER ;處理未定義中斷模式
  B SWI_SVC_HANDLER ;處理軟件中斷
  B INS_ABT_HANDLER
  B DAT_ABT_HANDLER ;處理中止異常
  B .
  B IRQ_SVC_HANDLER ;處理IRQ 中斷
  B FIQ_SVC_HANDLER ;處理FIQ中斷
  SYS_RST_HANDLER
  MSR R0, CPSR      ;禁止中斷
  ORR R0,R0,#0XC0
  MSR CPSR_C,R0
  BL initcpu        ;調(diào)整PLL和時(shí)鐘
  BL initmem        ;初始化存儲(chǔ)器
  BL initstack      ;設(shè)置堆棧
  …                   …
  …                   …
  …                   …                                             
  B main           ; 跳轉(zhuǎn)到主應(yīng)用程序        
  3.2應(yīng)用程序的設(shè)計(jì)
  應(yīng)用程序采用C語(yǔ)言編寫,由其實(shí)現(xiàn)本系統(tǒng)中所需的各種功能。根據(jù)系統(tǒng)功能需求,軟件劃分為以下模塊:液晶顯示模塊、測(cè)試設(shè)置模塊、測(cè)試指標(biāo)計(jì)算模塊等部分。軟件設(shè)計(jì)思想是利用S3C2410的中斷控制整個(gè)軟件的流程。共使用4個(gè)硬件中斷來(lái)完成系統(tǒng)的功能:一個(gè)內(nèi)部硬件定時(shí)中斷,3個(gè)外部硬件中斷(鍵盤中斷、串口中斷、E1測(cè)試中斷)。主程序流程圖如圖2所示。
 

        


  根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)功能的要求, 在程序中定義了2個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),一個(gè)是用來(lái)存放程序中需要用到的各種測(cè)試設(shè)置值的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)SetUp_struct;另一個(gè)是用于存放測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)Data_struct。這兩個(gè)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是連接各個(gè)功能函數(shù)的橋梁,通過(guò)判斷SetUp_struct中各個(gè)變量的值可以使程序做出相應(yīng)的操作,并改變相應(yīng)Data_struct值,從而實(shí)現(xiàn)在不同的測(cè)試環(huán)境下對(duì)不同指標(biāo)的測(cè)試。
  3.3 2M測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試指標(biāo)的測(cè)量與計(jì)算
  2M測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)所能達(dá)到的測(cè)試指標(biāo)如下:
  (1)、在線和中斷業(yè)務(wù)測(cè)試,可選接口阻抗:75Ω、120Ω、高阻(≥2KΩ)。
  (2)、統(tǒng)計(jì)分析功能: G.826測(cè)試分析誤塊秒、嚴(yán)重誤塊秒、背景誤塊、不可用秒、誤塊秒率、嚴(yán)重誤塊秒率、背景誤塊率;G.821測(cè)試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、 不可用秒;M.2100測(cè)試分析誤碼秒、嚴(yán)重誤碼秒、不可用秒。
  (3)、差錯(cuò)(誤碼、誤塊)監(jiān)測(cè)比特誤碼、編碼誤碼、幀字差錯(cuò)、CRC差錯(cuò)。
  (4)、告警監(jiān)測(cè)。
  (5)、同時(shí)顯示幀開銷及30個(gè)話路數(shù)字型線路信號(hào)(a.b.c.d)的狀態(tài)。
  (6)、話音監(jiān)聽,各話音時(shí)隙可選。
  (7)、測(cè)試結(jié)果掉電可記憶,可上傳微機(jī)。
  上述各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)量由檢測(cè)模塊和語(yǔ)音監(jiān)聽模塊實(shí)現(xiàn),指標(biāo)的(3)、(4)項(xiàng)可通過(guò)對(duì)ds21354和ds21372的相關(guān)寄存器的設(shè)置和對(duì)線路狀態(tài)寄存器的讀取并對(duì)數(shù)據(jù)簡(jiǎn)單處理可實(shí)現(xiàn)。指標(biāo)的(5)、(6)項(xiàng)可通過(guò)對(duì)時(shí)隙交換電路相關(guān)寄存器的設(shè)置和讀取對(duì)數(shù)據(jù)簡(jiǎn)單處理實(shí)現(xiàn)。第(2)項(xiàng)的指標(biāo)參數(shù)是統(tǒng)計(jì)指標(biāo),需要在讀取DS21372寄存器的原始測(cè)試數(shù)據(jù)之后,經(jīng)過(guò)計(jì)算得到。統(tǒng)計(jì)指標(biāo)以秒為單位,程序設(shè)置了周期為1s的中斷定時(shí)讀取ds21372的寄存器值,調(diào)用計(jì)算函數(shù)計(jì)算統(tǒng)計(jì)指標(biāo)。圖3是在G.821分析模式下的統(tǒng)計(jì)指標(biāo)算法流程圖,其余分析模式下與此相似。
 



 

  圖3 G.821分析模式下測(cè)試指標(biāo)計(jì)算流程圖


  4 結(jié)束語(yǔ)
  2M 測(cè)試系統(tǒng)在我國(guó)電信、網(wǎng)絡(luò)相關(guān)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。本文介紹的基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)具有體積小、功耗低、功能豐富等優(yōu)點(diǎn),特別是能夠語(yǔ)音監(jiān)聽,并且各時(shí)隙可選,能夠滿足對(duì)2M口性能的測(cè)試和分析。ARM處理器以其高性價(jià)比,在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
  本文作者創(chuàng)新點(diǎn):在2M測(cè)試系統(tǒng)中采用時(shí)隙交換芯片與語(yǔ)音檢測(cè)芯片組合成語(yǔ)音在線監(jiān)聽模塊,能實(shí)現(xiàn)任一時(shí)隙的語(yǔ)音監(jiān)聽,以及任一時(shí)隙的線路信號(hào)狀態(tài)檢測(cè),能更好的幫助工程技術(shù)人員對(duì)2M線路的測(cè)試和維護(hù)。

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