《電子技術(shù)應(yīng)用》
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中國射頻識別基準(zhǔn)測試論壇即將舉行 提升RFID應(yīng)用品質(zhì)

2008-12-10
作者:來源:國際電子商情

??? 經(jīng)過近5年多的發(fā)展,國內(nèi)RFID技術(shù)已由概念向政策、標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)業(yè)全面發(fā)展" title="全面發(fā)展">全面發(fā)展,在由實(shí)驗(yàn)室走向應(yīng)用場景的道理中,如何減少用戶和行業(yè)的“試用”成本,定于2008年12月15-16日中國射頻識別" title="射頻識別">射頻識別基準(zhǔn)測試" title="基準(zhǔn)測試">基準(zhǔn)測試發(fā)展論壇" title="發(fā)展論壇">發(fā)展論壇暨中國射頻識別基準(zhǔn)測試聯(lián)盟成立儀式以“協(xié)同發(fā)展;資源共享" title="資源共享">資源共享;展望未來”為宗旨,力圖破解產(chǎn)業(yè)共性問題。

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??? 近年來,中國RFID技術(shù)已由最初的物聯(lián)網(wǎng)概念向政策、標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)業(yè)全面發(fā)展,在由實(shí)驗(yàn)室走向應(yīng)用場景的道理中,如何減少用戶和行業(yè)的“試用”成本,定于2008年12月15-16日在北京中國科學(xué)院自動化研究所學(xué)術(shù)報(bào)告廳舉行的中國射頻識別基準(zhǔn)測試發(fā)展論壇暨中國射頻識別基準(zhǔn)測試聯(lián)盟成立儀式以“協(xié)同發(fā)展;資源共享;展望未來”為宗旨,力圖破解產(chǎn)業(yè)共性問題。


??? RFID技術(shù)被眾多媒體和專家認(rèn)為是21世紀(jì)的最有發(fā)展前景的信息技術(shù)之一。RFID技術(shù)以其獨(dú)特的優(yōu)勢,顯示出巨大的發(fā)展?jié)摿εc應(yīng)用空間,但在現(xiàn)實(shí)中RFID技術(shù)仍然尚未走向大規(guī)模應(yīng)用。造成這種現(xiàn)狀的根本原因在于,無論RFID技術(shù)本身或是針對這項(xiàng)技術(shù)所衍生出的各種應(yīng)用系統(tǒng)都還存在很多尚未解決的問題。


??? 我們?nèi)粘9ぷ骱蜕钪械母鞣N電磁干擾、使用環(huán)境中的液體、金屬、所識別物體的通過速度、讀寫器天線的角度,標(biāo)簽的貼覆位置都可能造成實(shí)驗(yàn)室中絕佳效果與現(xiàn)實(shí)場景中糟糕表現(xiàn)的反差。此外,RFID系統(tǒng)涉及微電子、通訊、自動控制、印刷、計(jì)算機(jī)硬件、軟件多個學(xué)科,系統(tǒng)本身的復(fù)雜性也會帶來的魯棒性和穩(wěn)定性的挑戰(zhàn)。因此,在實(shí)際應(yīng)用前對RFID設(shè)備性能、系統(tǒng)進(jìn)行測試、通過檢驗(yàn),對用戶最終的應(yīng)用體驗(yàn)、應(yīng)用效果和應(yīng)用廣度就顯得尤為重要。


??? 籌備成立的中國射頻識別基準(zhǔn)測試聯(lián)盟(China RFID Benchmarking Test Consortium)致力于推進(jìn)射頻識別技術(shù)在中國的應(yīng)用和發(fā)展,通過聯(lián)合實(shí)施RFID基準(zhǔn)測試,并對獲得的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行科學(xué)分析,發(fā)布中國射頻識別基準(zhǔn)測試聯(lián)盟測試報(bào)告,有利于加強(qiáng)我國射頻識別產(chǎn)業(yè)單位間交流與合作,避免重復(fù)工作,推進(jìn)RFID基準(zhǔn)測試標(biāo)準(zhǔn)的建立。


??? 聯(lián)盟的宗旨是聯(lián)合國內(nèi)致力于射頻識別與電子標(biāo)簽基準(zhǔn)測試的研究機(jī)構(gòu),與RFID行業(yè)制造商、集成商及用戶代表一道,共同推動定立相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),帶動產(chǎn)業(yè)發(fā)展與應(yīng)用推廣,在平等互利、優(yōu)勢互補(bǔ)、資源共享、合作共贏的原則下,積極推動射頻識別技術(shù)與電子標(biāo)簽產(chǎn)品的自主創(chuàng)新與科學(xué)發(fā)展。


??? 本次論壇將進(jìn)行業(yè)界的最新技術(shù)報(bào)告和產(chǎn)業(yè)界的情況報(bào)告,還將邀請國際知名儀器廠商Agilent、Tektronix、NI進(jìn)行RFID協(xié)議一致性測試解決方案的現(xiàn)場演示。


論壇時間:2008年12月15日,9:00-17:00,上午8:30報(bào)到。


????????? 2008年12月16日,9:00-13:00,上午8:50報(bào)到。


地????點(diǎn):北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路95號,中國科學(xué)院自動化研究所自動化大廈學(xué)術(shù)報(bào)告廳


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