??? 經過近5年多的發(fā)展,國內RFID技術已由概念向政策、標準、產業(yè)全面發(fā)展" title="全面發(fā)展">全面發(fā)展,在由實驗室走向應用場景的道理中,如何減少用戶和行業(yè)的“試用”成本,定于2008年12月15-16日中國射頻識別" title="射頻識別">射頻識別基準測試" title="基準測試">基準測試發(fā)展論壇" title="發(fā)展論壇">發(fā)展論壇暨中國射頻識別基準測試聯(lián)盟成立儀式以“協(xié)同發(fā)展;資源共享" title="資源共享">資源共享;展望未來”為宗旨,力圖破解產業(yè)共性問題。
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??? 近年來,中國RFID技術已由最初的物聯(lián)網概念向政策、標準、產業(yè)全面發(fā)展,在由實驗室走向應用場景的道理中,如何減少用戶和行業(yè)的“試用”成本,定于2008年12月15-16日在北京中國科學院自動化研究所學術報告廳舉行的中國射頻識別基準測試發(fā)展論壇暨中國射頻識別基準測試聯(lián)盟成立儀式以“協(xié)同發(fā)展;資源共享;展望未來”為宗旨,力圖破解產業(yè)共性問題。
??? RFID技術被眾多媒體和專家認為是21世紀的最有發(fā)展前景的信息技術之一。RFID技術以其獨特的優(yōu)勢,顯示出巨大的發(fā)展?jié)摿εc應用空間,但在現(xiàn)實中RFID技術仍然尚未走向大規(guī)模應用。造成這種現(xiàn)狀的根本原因在于,無論RFID技術本身或是針對這項技術所衍生出的各種應用系統(tǒng)都還存在很多尚未解決的問題。
??? 我們日常工作和生活中的各種電磁干擾、使用環(huán)境中的液體、金屬、所識別物體的通過速度、讀寫器天線的角度,標簽的貼覆位置都可能造成實驗室中絕佳效果與現(xiàn)實場景中糟糕表現(xiàn)的反差。此外,RFID系統(tǒng)涉及微電子、通訊、自動控制、印刷、計算機硬件、軟件多個學科,系統(tǒng)本身的復雜性也會帶來的魯棒性和穩(wěn)定性的挑戰(zhàn)。因此,在實際應用前對RFID設備性能、系統(tǒng)進行測試、通過檢驗,對用戶最終的應用體驗、應用效果和應用廣度就顯得尤為重要。
??? 籌備成立的中國射頻識別基準測試聯(lián)盟(China RFID Benchmarking Test Consortium)致力于推進射頻識別技術在中國的應用和發(fā)展,通過聯(lián)合實施RFID基準測試,并對獲得的測試數據進行科學分析,發(fā)布中國射頻識別基準測試聯(lián)盟測試報告,有利于加強我國射頻識別產業(yè)單位間交流與合作,避免重復工作,推進RFID基準測試標準的建立。
??? 聯(lián)盟的宗旨是聯(lián)合國內致力于射頻識別與電子標簽基準測試的研究機構,與RFID行業(yè)制造商、集成商及用戶代表一道,共同推動定立相關的技術標準,帶動產業(yè)發(fā)展與應用推廣,在平等互利、優(yōu)勢互補、資源共享、合作共贏的原則下,積極推動射頻識別技術與電子標簽產品的自主創(chuàng)新與科學發(fā)展。
??? 本次論壇將進行業(yè)界的最新技術報告和產業(yè)界的情況報告,還將邀請國際知名儀器廠商Agilent、Tektronix、NI進行RFID協(xié)議一致性測試解決方案的現(xiàn)場演示。
論壇時間:2008年12月15日,9:00-17:00,上午8:30報到。
????????? 2008年12月16日,9:00-13:00,上午8:50報到。
地????點:北京市海淀區(qū)中關村東路95號,中國科學院自動化研究所自動化大廈學術報告廳
