NIDays 2012再掀測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域新浪潮
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文檔介紹：2012年11月16日， 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)舉辦的一年一度的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。本屆NIDays吸引了近千名來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體到會(huì)，通過(guò)精心挑選的技術(shù)講座、最新的產(chǎn)品與創(chuàng)新應(yīng)用展示、精彩的互動(dòng)交流等環(huán)節(jié)，向工程師們傳達(dá)了最新前沿技術(shù)信息以及NI在測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域的應(yīng)用革新。
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