| 基于機(jī)器視覺的LED芯片檢測(cè)方法 | |
| 所屬分類:技術(shù)論文 | |
| 上傳者:aet | |
| 文檔大小:1382 K | |
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| 文檔介紹: LED芯片檢測(cè)在LED生產(chǎn)過程中起到關(guān)鍵作用。為了達(dá)到生產(chǎn)過程完全自動(dòng)化的目的,首先用形態(tài)學(xué)方法對(duì)LED圖像進(jìn)行預(yù)處理,然后基于最小外接矩形獲取芯片傾斜角,基于霍夫變換獲取邊界信息,從而獲取生產(chǎn)所需的控制信息。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法適用于LED實(shí)際生產(chǎn)過程。 | |
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