基于BIFs方法的量子目標(biāo)檢測(cè) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大小:1376 K | |
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文檔介紹:檢測(cè)和跟蹤附著在神經(jīng)元表面的量子的活動(dòng)信息對(duì)于全面理解神經(jīng)系統(tǒng)的工作機(jī)制具有重要意義。使用BIFs方法提取圖像中的量子目標(biāo),并通過(guò)優(yōu)化BIFs參數(shù)配置和融合高斯濾波預(yù)處理提高算法性能。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法對(duì)強(qiáng)雜波干擾下的量子目標(biāo)具有較高的檢測(cè)率。 | |
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