Flash型ADC測(cè)試指南第一部分
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：ADI
文檔大?。?span>994 K
標(biāo)簽： 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換
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文檔介紹：為了利用Flash型ADC的高采樣速率構(gòu)建高性能電路，需要了解這種轉(zhuǎn)換器的許多奧妙之處。本系列文章分為三部分，第一部分討論Flash型ADC設(shè)計(jì)易犯的錯(cuò)誤，如何評(píng)估數(shù)據(jù)手冊(cè)的某些性能指標(biāo)，以及如何選擇與所用特定轉(zhuǎn)換器配套的外部器件。第二部分和第三部分討論用來(lái)在系統(tǒng)中驗(yàn)證轉(zhuǎn)換器性能的測(cè)試與測(cè)量方法。
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