| 惡劣工作環(huán)境中的開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計考慮 | |
| 所屬分類:技術(shù)論文 | |
| 上傳者:ADI | |
| 文檔大小:856 K | |
| 標(biāo)簽: 接口IC | |
| 所需積分:0分積分不夠怎么辦? | |
| 文檔介紹:隨著精密電子器件的使用日益增加,系統(tǒng)也變得越來越復(fù)雜,而且更易受到電子干擾,其中包括過壓、閂鎖狀況和靜電放電(ESD)事件。這些應(yīng)用中采用的電子電路需要具有高可靠性和對系統(tǒng)故障的高耐受性,因此設(shè)計人員在選擇器件時必須考慮到環(huán)境因素和器件自身限制。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會員,AET專家下載不扣分;重復(fù)下載不扣分,本人上傳資源不扣分。 | |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號-2