惡劣工作環(huán)境中的開關(guān)和多路復(fù)用器設(shè)計(jì)考慮 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:ADI | |
文檔大?。?span>856 K | |
標(biāo)簽: 接口IC | |
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文檔介紹:隨著精密電子器件的使用日益增加,系統(tǒng)也變得越來越復(fù)雜,而且更易受到電子干擾,其中包括過壓、閂鎖狀況和靜電放電(ESD)事件。這些應(yīng)用中采用的電子電路需要具有高可靠性和對(duì)系統(tǒng)故障的高耐受性,因此設(shè)計(jì)人員在選擇器件時(shí)必須考慮到環(huán)境因素和器件自身限制。 | |
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