AN-397：標準線性集成電路的電誘發(fā)損壞：最常見起因和防止再發(fā)生的相關處理
所屬分類：解決方案
上傳者：ADI
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文檔介紹：電子器件對瞬態(tài)電氣過應力事件的靈敏度是眾所周知的問 題，隨著集成電路的不斷發(fā)展，這一問題日益嚴重。幾何 尺寸縮小，電路密度增加和分配給片內保護的面積有限都 會使此靈敏度趨于增加。為了將每一特定系統(tǒng)實施環(huán)節(jié)的 成本降至最低，瞬態(tài)保護的任務往往轉而采用其它效率更 低的方式。
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