數(shù)字電路中ΔI噪聲的產(chǎn)生與特點(diǎn) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大?。?span>2036 K | |
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文檔介紹:隨著數(shù)字電路的發(fā)展,△I噪聲正逐步成為數(shù)字電路中的主要噪聲源之一。從數(shù)字設(shè)計(jì)的核心——反相器入手,系統(tǒng)分析了TTL和CMOS中△I噪聲的產(chǎn)生過程與基本特點(diǎn)。結(jié)果表明,△I噪聲是由數(shù)字電路的電路結(jié)構(gòu)和工作過程決定的(是固有的);具有疊加性、為寬帶噪聲源;同時會產(chǎn)生傳導(dǎo)騷擾和輻射騷擾。 | |
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