內(nèi)建自測試相移器設計算法的優(yōu)化
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
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文檔介紹：在原相移器設計算法的基礎上，通過增加一個偽隨機數(shù)生成函數(shù)來選擇異或節(jié)點的相移器設計算法。實驗結果表明，此算法不僅克服了原算法設計的相移器造成LFSR扇出過大的缺點，而且提高了偽隨機測試故障的覆蓋率。
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