基于IEEE P1500芯核測試控制結構設計
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大小：358 K
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文檔介紹：討論了IEEE P1500測試架構，詳細分析并實現(xiàn)了IP核的測試環(huán)（Wrapper）結構，給出了一種支持該標準的芯片級測試控制結構。該結構能控制基于總線結構的 TAM以及P1500 Wrapper，通過芯片級CTAP控制器，支持串行或并行測試訪問，實現(xiàn)了核內(nèi)測試以及核間互連測試。同時該結構只需5根額外測試管腳。
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