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  • 溫控振蕩器的環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試技術(shù) aet 4 2010-07-05
    標(biāo)簽: 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
  • 一種高精度數(shù)字傾角測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì) aet 8 2010-07-03
  • 基于虛擬儀器技術(shù)的柴油發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)控系統(tǒng) aet 4 2010-07-02
  • 基于多MCU的自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì) aet 4 2010-07-02
  • ADI測(cè)試與儀器儀表IC解決方案 (2010年) ADI 23 2010-07-02
  • 基于動(dòng)態(tài)跟蹤的消除系統(tǒng)溫漂和時(shí)漂的解決方案 aet 3 2010-07-01
  • 基于LabVIEW的紗線動(dòng)態(tài)張力檢測(cè)系統(tǒng) bixd 6 2010-07-01
    標(biāo)簽: 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
  • 應(yīng)用NI技術(shù)構(gòu)建土木工程在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)解決方案 bixd 7 2010-07-01
    標(biāo)簽: 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
  • LabWindowsCVI協(xié)助Alcatel確保清晰的手機(jī)接收信號(hào) bixd 7 2010-06-30
    標(biāo)簽: 通信與網(wǎng)絡(luò)測(cè)試
  • 基于PXI總線的旋轉(zhuǎn)試驗(yàn)臺(tái)綜合測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) bixd 12 2010-06-30
    標(biāo)簽: 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
  • 電動(dòng)閥綜合測(cè)控儀的研究與設(shè)計(jì) aet 4 2010-06-30
    標(biāo)簽: 測(cè)試測(cè)量?jī)x器
  • 一種跟蹤接觸電阻變化趨勢(shì)的測(cè)量裝置 aet 4 2010-06-30
  • 基于LabVIEW 譜分析法求轉(zhuǎn)軸扭矩的原理研究 aet 2 2010-06-30
    標(biāo)簽: 虛擬儀器
  • 利用對(duì)數(shù)檢波器AD8318 構(gòu)建軟件校準(zhǔn)的1 MHz 至8 GHz、 70 dB RF 功率測(cè)量系統(tǒng) ADI 22 2010-06-29
    標(biāo)簽: 測(cè)試測(cè)量?jī)x器
  • 基于機(jī)器視覺的全自動(dòng)電池檢測(cè)系統(tǒng)的研究 aet 13 2010-06-28
    標(biāo)簽: 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
  • LabWindows/CVI在半實(shí)物分布式仿真系統(tǒng)中的應(yīng)用 aet 3 2010-06-25
  • PXI總線數(shù)字輸入/輸出模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) aet 3 2010-06-24
  • 神經(jīng)-運(yùn)動(dòng)反應(yīng)時(shí)無線測(cè)量系統(tǒng)的研究和實(shí)現(xiàn) aet 2 2010-06-24
  • 低功耗高性能無線溫濕度測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn) aet 8 2010-06-24
  • 軟磁環(huán)磁滯回線測(cè)量中的定標(biāo) aet 3 2010-06-24
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活動(dòng)

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  • 【通知】2025第三屆電子系統(tǒng)工程大會(huì)調(diào)整時(shí)間的通知
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  • 2023進(jìn)階電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器系列培訓(xùn)第十講下:數(shù)字源表的應(yīng)用與選型
  • 2023進(jìn)階電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器系列培訓(xùn)第十講:數(shù)字源表的原理與操作
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