全球領先的測試、測量與監(jiān)測儀器提供商—泰克公司日前宣布，TLA6000系列邏輯分析儀被EDN雜志評為2010年度Hot100產(chǎn)品。此項殊榮旨在表彰為推動電子工業(yè)進步做出的貢獻年度最佳產(chǎn)品。
　
　　本年度Hot100產(chǎn)品由EDN編委會評選出EDN編輯和讀者公認為電子界最熱門的新產(chǎn)品。2010年9月推出的TLA6000系列邏輯分析儀以其高性能和高度經(jīng)濟性，為主流嵌入式系統(tǒng)設計人員提供高端調(diào)試和分析功能而入選本屆Hot100。
　
　　“隨著信號傳輸速度的加快以及基板密度提高，使嵌入式系統(tǒng)工程師面臨大量信號完整性問題，如果不使用具有高端調(diào)試功能的工具幾乎不可能完成檢測，”泰克公司邏輯分析儀產(chǎn)品線總監(jiān)Dave Farrell說，“入選本年度Hot100產(chǎn)品表明，TLA6000系列邏輯分析儀以其先進的邏輯分析功能，極為經(jīng)濟的價位滿足實際的市場需求。”
　
　　TLA6000 系列邏輯分析儀可配置68、102和136個數(shù)字通道，所有通道定時分辨率高達125 ps，可實現(xiàn)高達450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲深度。這種性能水平實現(xiàn)了性價比的重大突破。
　
　　TLA6000系列通過多項先進的特性提高了工程設計效率，例如，iCaptureTM技術通過一只邏輯分析儀探頭同時提供數(shù)字采集和模擬采集，從而無須進行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲允許用戶觸發(fā)并顯示觀測到的信號完整性錯誤，而iViewTM顯示可在同一個顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數(shù)據(jù)的時間相關的有用視圖。簡單且直觀的儀器設置可幫助在繁忙的實驗室環(huán)境中加快設計過程，從而節(jié)約時間。
　
　　TLA6000系列邏輯分析儀適用于各種調(diào)試和分析應用，包括信號完整性分析、 現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(FPGA)調(diào)試和驗證、移動行業(yè)處理器接口(MIPI)協(xié)議分析、存儲系統(tǒng)驗證、嵌入式軟件集成與調(diào)試。TLA6000是泰克整個邏輯分析儀產(chǎn)品線的一員，整個系列還包括便攜式TLA5000系列、模塊化TLA7000系列，以及TLA7000系列中的TLA7SA00系列邏輯協(xié)議分析儀模塊。
　
　　更多泰克即時信息，請登錄Twitter (@tektronix)和Facebook。