《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于位線循環(huán)充電SRAM模式的自定時(shí)電路設(shè)計(jì)
馬 晨 劉博楠
摘要: 隨著集成電路的密度和工作頻率按照摩爾定律所描述的那樣持續(xù)增長(zhǎng),使得高性能和低功耗設(shè)計(jì)已成為芯片設(shè)計(jì)的主流。在微處理器和SoC中,存儲(chǔ)器占據(jù)了大部分的芯片面積,而且還有持續(xù)增加的趨勢(shì)。這使存儲(chǔ)器中的字線長(zhǎng)度和位線長(zhǎng)度不斷增加,增加了延時(shí)和功耗。因此,研究高速低功耗存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)技術(shù)對(duì)集成電路的發(fā)展具有重要意義。對(duì)SRAM存儲(chǔ)器的低功耗設(shè)計(jì)技術(shù)進(jìn)行研究,在多級(jí)位線位SRAM結(jié)構(gòu)及工作原理基礎(chǔ)上,以改善SRAM速度和功耗特性為目的,設(shè)計(jì)了基于位線循環(huán)充電結(jié)構(gòu)的雙模式自定時(shí)SRAM,其容量為8K×32b。
Abstract:
Key words :

引言
    近些年來(lái),隨著集成電路制造工藝和制造技術(shù)的發(fā)展,SRAM存儲(chǔ)芯片在整個(gè)SoC芯片面積中所占比例越來(lái)越大,而SRAM的功耗也成為整個(gè)SoC芯片的主要部分。同時(shí),CPU的工作頻率逐年提高,從1999年的1.2 GHz增長(zhǎng)到2010年的3.4 GHz。而且,這一趨勢(shì)還在進(jìn)一步加強(qiáng)。CPU工作頻率的增加對(duì)SRAM的工作頻率提出很高的要求。
    針對(duì)以上,提出位線循環(huán)充電(CRSRAM)SRAM結(jié)構(gòu),它主要是通過(guò)降低位線電壓的擺幅來(lái)降低功耗。采用雙模式自定時(shí)電路(DMST)則主要是根據(jù)讀寫(xiě)周期的不同來(lái)產(chǎn)生不同的時(shí)序信號(hào),從而提高讀寫(xiě)速度?;诓煌琒RAM存儲(chǔ)陣列結(jié)構(gòu),雖然這種技術(shù)能有效地改善SRAM的功耗和速度,但它們卻從來(lái)沒(méi)有被有效地結(jié)合在一起。
    本文的主要內(nèi)容就是設(shè)計(jì)并仿真基于位線循環(huán)充電SRAM結(jié)構(gòu)的雙模式自定時(shí)電路(DMST CRSRAM),并將其仿真結(jié)果與傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)相比較,由此可以看出這兩種結(jié)構(gòu)在速度和功耗方面的優(yōu)勢(shì)。

1 多級(jí)位線位SRAM結(jié)構(gòu)及工作原理
   
如圖1所示,多級(jí)位線SRAM(HBLSA-SRAM)的主要原理是利用兩級(jí)位線和局部靈敏放大器來(lái)使主位線寫(xiě)入周期中的,BL和BLB上的電壓擺幅是一個(gè)很小值,而通過(guò)局部靈敏放大器將這個(gè)電壓放大為VDD到0的大擺幅信號(hào)輸入到局部位線上。這樣,位線的電壓擺幅減少,而且VDD到O的大擺幅寫(xiě)入保證了足夠的寫(xiě)裕度。


    HBLSA-SRAM不僅可以降低位線的電壓擺幅,還可以有效地減小位線的電容負(fù)載。位線的負(fù)載電容很大程度上取決于位線上連接的MOS管數(shù)量。如圖1所示,在每一個(gè)Group中有M個(gè)存儲(chǔ)單元,而一共有N個(gè)Group,所以總共有M×N個(gè)存儲(chǔ)單元。對(duì)于一個(gè)傳統(tǒng)的SRAM結(jié)構(gòu)有如此的容量,那么其位線上一共會(huì)接M×N個(gè)MOS管。但對(duì)于HBLSA-SRAM來(lái)說(shuō),將連接到主位線和局部位線的MOS管加在一起也不過(guò)N+M+5個(gè)。其中,對(duì)于主位線一共連接N個(gè)MOS管,而局部位線一共連接M+5個(gè)MOS管,M為M個(gè)存儲(chǔ)單元的傳輸管,有1個(gè)來(lái)自與主位線連接的MOS管,另外4個(gè)來(lái)自局部的靈敏放大器。所以,不但位線擺幅顯著下降,而且位線電容負(fù)載也下降了。
    HBLSA-SRAM的讀寫(xiě)功耗與傳統(tǒng)的SRAM比較如下:
    (1)對(duì)于寫(xiě)入功耗
    傳統(tǒng)的SRAM:

    式中:PBL代表主位線上的功耗;PSBL代表局部位線上的功耗;CBL代表局部位線的電容負(fù)載;CSBL代表主位線的電容負(fù)載;CCVBL代表傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)位線的電容負(fù)載;VBL代表局部位線的電壓擺幅。通過(guò)之前的分析,有(CBL+CSBL)     (2)對(duì)于讀出功耗
    傳統(tǒng)的SRAM:

    式中:VCVBL代表讀出傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的位線電壓擺幅??梢哉J(rèn)為,VCVBL和VBL近似相等,所以HBLSA-SRAM的讀出功耗也小于傳統(tǒng)的SRAM。

2 基于位線循環(huán)充電SRAM模式的自定時(shí)電路設(shè)計(jì)
   
將位線循環(huán)充電SRAM的結(jié)構(gòu)與雙模式自定時(shí)電路相結(jié)合,為了進(jìn)一步減小CRSRAM的功耗和優(yōu)化器讀寫(xiě)延時(shí),提出基于位線循環(huán)充電SRAM的雙模式自定時(shí)電路結(jié)構(gòu)(DMST CRSRAM)。其時(shí)序控制電路如圖2所示。


    為了使CRSRAM和雙模式自定時(shí)電路更有效地結(jié)合起來(lái),對(duì)CRSRAM的基本結(jié)構(gòu)做了三個(gè)主要的改變。
    (1)傳統(tǒng)CRSRAM結(jié)構(gòu)中,位線電壓在每次讀操作之前都要被預(yù)充到VDD。這樣有兩個(gè)缺點(diǎn):一是增加了額外的讀寫(xiě)操作轉(zhuǎn)換的控制電路,以及將位線電壓預(yù)充到不同電壓的電路。二是預(yù)充電到VDD增加了額外的位線擺幅。如果讀寫(xiě)操作交替出現(xiàn)的話,那么預(yù)充電會(huì)消耗很大的功耗。
    這里設(shè)計(jì)的電路結(jié)構(gòu)中,不論讀操作還是寫(xiě)操作都是以同樣的位線電壓開(kāi)始的。這樣做會(huì)導(dǎo)致在讀操作中,從存儲(chǔ)單元到位線的充放電電流會(huì)使位線上的電壓出現(xiàn)浮動(dòng),位線上的電荷會(huì)有無(wú)法完全預(yù)計(jì)的損失或增加,由于沒(méi)有了預(yù)充電電路,位線的電荷不可完全預(yù)計(jì)的變化會(huì)對(duì)電路的讀寫(xiě)能力產(chǎn)生影響。但是,由于位線的電容負(fù)載較大,而存儲(chǔ)管的驅(qū)動(dòng)能力較小,所以讀操作對(duì)位線的電荷的影響不會(huì)使電路功能出現(xiàn)問(wèn)題。
    (2)為了使控制電路變得簡(jiǎn)潔,把求值模式放在平衡模式的前面。這樣,時(shí)序控制時(shí)只要控制求值模式的時(shí)間長(zhǎng)度,而將時(shí)鐘周期的剩余時(shí)間直接作為平衡模式的時(shí)間長(zhǎng)度。因?yàn)?,平衡模式與求值模式不同,過(guò)長(zhǎng)的平衡模式時(shí)間不會(huì)增加額外的功耗。
    (3)由于寫(xiě)入時(shí)CRSRAM的位線電壓是小擺幅,所以為了確保寫(xiě)入操作的正確和提高寫(xiě)入的速度,用7管結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)單元代替?zhèn)鹘y(tǒng)的6管單元結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)單元。7管結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)單元的結(jié)構(gòu)如圖2所示。其工作原理:每次在讀操作中,先是QE=1,將存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)消掉,再將Q0和Q1的點(diǎn)位拉到同一值。這樣,小的位線電壓擺幅可以順利寫(xiě)入。
    如圖2所示,DMST CRSRAM的時(shí)序控制電路包括四個(gè)部分:復(fù)制陣列、雙模式電壓監(jiān)測(cè)器(DMVD)、時(shí)序控制單元(TCU)和QE信號(hào)產(chǎn)生電路(QEG)。
    在復(fù)制列上,原本的Exchanger被化簡(jiǎn)成DIN均為1時(shí)的情況,而且復(fù)制列上所有的虛擬存儲(chǔ)管的Q0被強(qiáng)制為0,Q1被強(qiáng)制為1。所以在求值模式中,DBL的電壓被上拉,而DBLB的電壓被下拉。那么Q0的邏輯0會(huì)提供給DBL一個(gè)下拉電流,以減緩其電壓的上升,同樣Q1的邏輯1會(huì)提供給DBLB一個(gè)上拉電流,以減緩其電壓的下降。所以,這樣就在虛擬位線上模擬了位線電壓在最慢情況下的變化過(guò)程,即可以確保真實(shí)位線上的電壓在DMVD觸發(fā)前就已經(jīng)達(dá)到了操作所需的電壓值。
    DMVD由兩個(gè)參考電壓不同的比較器以及由讀寫(xiě)使能信號(hào)WEN控制的兩個(gè)傳輸管組成。靈敏放大器用來(lái)監(jiān)測(cè)DBL和DBLB上的電壓差,一旦達(dá)到了預(yù)定的參考電壓值便被觸發(fā),而WEN控制的傳輸管負(fù)載分別在讀周期和寫(xiě)周期,使其對(duì)應(yīng)的靈敏放大器被觸發(fā)后,其輸出作為信號(hào)P輸入到時(shí)序控制單元TCU。
    TCU本質(zhì)是一個(gè)異步電平觸發(fā)電路,其工作情況如下:當(dāng)CLK上升沿到來(lái)后,GTC也隨之上升;而當(dāng)P信號(hào)上升沿到來(lái),GTC信號(hào)則回落到低電平。GTCN為GTC的反向信號(hào)。QE信號(hào)產(chǎn)生電路(QEG),當(dāng)只有CLK上升沿時(shí),由于延時(shí)單元的作用,QEN信號(hào)為高電平,脈寬為延時(shí)時(shí)間。而WEN控制QEN信號(hào)只有在WEN=1時(shí)(寫(xiě)周期)才輸出QE信號(hào)。接下來(lái),可以利用GTC和GTCN去控制整個(gè)電路。其中,A[i]代表行譯碼;A[j]代表列譯碼。在寫(xiě)周期之中,CLK上升輸入到TCU之中,GTC變?yōu)楦唠娖?,同時(shí)GTCN變?yōu)榈碗娖剑浑S后EQ變?yōu)榈碗娖?,平衡模式結(jié)束。對(duì)于列選中的位線,EV和WL變?yōu)楦唠娖?,進(jìn)入求值模式。寫(xiě)周期EV信號(hào)也作用在虛擬位線上,使其產(chǎn)生電壓差,當(dāng)虛擬位線上的電壓差到達(dá)足以寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí),DMVD被觸發(fā)產(chǎn)生P信號(hào),P信號(hào)輸入到TCU之中,使GTC再次變?yōu)榈碗娖?,GTCN變回高電平;隨即,EV和WL變?yōu)榈碗娖?,EQ變回高電平,電路從求值模式轉(zhuǎn)變?yōu)槠胶饽J?。在平衡模式中,所有的位線包括虛擬位線的電壓都被充放電回到初始值。這次寫(xiě)操作結(jié)束,電路對(duì)下一次的操作做好準(zhǔn)備。
    在讀操作中,這個(gè)過(guò)程是類似的。CLK上升輸入到TCU之中,GTC變?yōu)楦唠娖?,同時(shí)GTCN變?yōu)榈碗娖?;隨后EQ變?yōu)榈碗娖?,平衡模式結(jié)束。不同的是,讀周期中,EV信號(hào)一直為低電平,所以只有WL上升到高電平,才進(jìn)入求值模式。此時(shí),DWL信號(hào)也上升到高電平,使虛擬存儲(chǔ)單元下拉DBL上的電壓,當(dāng)DBL上的電壓足夠低時(shí),DMVD被觸發(fā)產(chǎn)生P信號(hào),信號(hào)輸入到TCU中,使GTC再次變?yōu)榈碗娖?,GTCN變回高電平;隨后,D-WL和WL變?yōu)榈碗娖?,EQ變回高電平,電路從求值模式轉(zhuǎn)變?yōu)槠胶饽J?。在平衡模式中,所有的位線包括虛擬位線的電壓都被充放電回到初始值。這次讀操作結(jié)束,電路對(duì)下一次的操作做好準(zhǔn)備。

3 結(jié)語(yǔ)
   
雙模式自定時(shí)技術(shù)分別針對(duì)讀寫(xiě)周期產(chǎn)生不同的時(shí)序信號(hào),并借此來(lái)改善SRAM的時(shí)鐘周期和功耗。雙模式自定時(shí)技術(shù)考慮了位線上的寄生電容和電阻,存儲(chǔ)單元不同的寫(xiě)入響應(yīng)時(shí)間,以及依賴于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的位線的漏電流。仿真結(jié)果說(shuō)明,這種雙模式自定時(shí)技術(shù)使時(shí)鐘周期降低了16%~30.7%,寫(xiě)入功耗降低了15%~22.7%。

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