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高速數據轉換系統(tǒng)對時鐘和數據傳輸的性能要求
摘要: 隨著今天模數轉換器的數據轉換采樣速度進入到每秒千兆次采樣(GSPS),系統(tǒng)需要能夠支持這樣高的轉換速度,模擬器件必須產生和放大高頻信號。除了模擬信號路徑外,設計師需要完全了解采樣時鐘和高比特率數據獲取電路方面。信號路徑設計師將為這兩個關鍵的方面提供建議方案。下面的信息與需要高性能ADC的系統(tǒng)緊密相關。
Abstract:
Key words :

隨著今天模數轉換器的數據轉換采樣速度進入到每秒千兆次采樣(GSPS),系統(tǒng)需要能夠支持這樣高的轉換速度,模擬器件必須產生和放大高頻信號。除了模擬信號路徑外,設計師需要完全了解采樣時鐘和高比特率數據獲取電路方面。信號路徑設計師將為這兩個關鍵的方面提供建議方案。下面的信息與需要高性能ADC的系統(tǒng)緊密相關。

時鐘源

在高速數據轉換系統(tǒng)中一個最重要的子系統(tǒng)是時鐘源,這是因為時鐘信號的時序準確性可以直接影響ADC的動態(tài)特性。為減少這種影響,ADC時鐘源必須表現(xiàn)出非常低的時序抖動或相位噪聲。如果在選擇時鐘電路時沒有考慮到這種因素,無論前端模擬電路或者ADC的質量有多高,系統(tǒng)可能表現(xiàn)出很差的動態(tài)性能。優(yōu)良的時鐘將總能在精確的時鐘間隔內出現(xiàn)時鐘沿的轉換。實際上,時鐘邊沿到達的時間間隙總是在不斷變化的,這種時序的不確定性帶來的結果是采樣波形的信噪比會受到數據轉換過程的影響。

                                                                  圖1:PLL與VCO時鐘系統(tǒng)。

可以容忍的最大時鐘抖動為抖動噪聲超過量化噪聲(1/2LSB)前的時鐘抖動。這可以用下面的公式定義:

如果優(yōu)化輸入電壓(VIN)使之等于ADC的輸入電壓范圍(VINFSR),那么抖動要求成為ADC分辨率(N位)和被采樣的輸入頻率(fin)的一個因子。
對于達到奈奎斯特速率(對于1GSPS轉換速率為500MHz)的輸入頻率,總的抖動要求是:

這個值代表了來自所有抖動源的總抖動。ADC器件本身導致的一個抖動源稱為窗口抖動(aperture jitter),這是輸入采樣和器件的保持電路相關的一種時序不確定性,在確定時鐘源允許的最大時鐘抖動時,需要考慮這種不確定性。

時鐘電路抖動=(Tj(rms)2-(ADC(窗口抖動)2))1/2

以ADC08D1000為例,窗口抖動在數據手冊中給定的值為0.4ps,這個值將ADC時鐘的抖動標準限制到-1.1ps。

然而,當用在數據轉換系統(tǒng)中時,將振蕩器的性能數據與規(guī)范要求簡單地匹配或許并不足以獲得期望的結果。這是因為頻率分量也扮演著重要的作用。因此,用頻譜分析儀來對時鐘信號進行檢查很重要,并確保與基本頻率相關的能量沒有在很大的范圍內擴展。延伸到更高頻率的毛刺可能很明顯,也將會對性能產生直接的影響。

圖1顯示了針對ADC08D1000的推薦時鐘電路,由一個鎖相環(huán)器件(LMX2312)連接到可變電感壓控振蕩器(VCO)組成。PLL和VCO維持達到奈奎斯特輸入頻率ADC08D1000要求的信噪比(46dB)。

數據獲取

對信號進行高頻(1GSPS及以上)采樣意味著轉換所產生的數字輸出數據必須儲存起來,或者至少快速地轉移。處理每秒超過一億次轉換的兩個關鍵問題是系統(tǒng)中數字器件之間的信號完整性,以及每個時鐘周期數據轉移的速度。
為使數字輸出信號完整性最大化,高速ADC使用低電壓差分信號(或者LVDS)傳輸(見圖2)。

                                                                   圖2:典型的LVDS電路。

LVDS信號傳輸方法的主要優(yōu)點是以非常低的功率預算實現(xiàn)高數據速率,對每個將通過一個電路板或者電纜傳輸的分離信號采用兩條連線來實現(xiàn)這種低功耗。每條線上的電壓變化的方向互相相反,且與像CMOS或者TTL這樣的單端信號相比信號的強度比較小(一般為350mV)。這是因為差分電路固有的抗噪聲能力,因此可以使用低電壓擺幅信號。這反過來意味著信號頻率可以更快,因為信號的上升時間更短了。

電路板上傳輸差分波形的信號線應該設計成具有100Ω的特征阻抗(LVDS標準所定義的值),這些線在接收器端用100Ω的電阻來進行端接以與線路匹配。通過發(fā)射器電路上的電流源在100Ω的電阻上流過3.5mA的電流,產生一個信號電壓,提供350mV的信號擺幅,供接收電路檢測。

高速發(fā)送數據只是問題的一半,還需要考慮將數據存儲在存儲器陣列中以作后
續(xù)處理。ADC對其每個通道提供一個解復用的數據輸出。器件不是提供一個運行在等于采樣速度的單一8位總線,而是同時在兩個8位數據總線上輸出兩個連續(xù)采樣。這種方法將數據速率減半,但是增加了數據位數,對于一個1GSPS的采樣速率,來自ADC的轉換數據輸出速度為500MHz。即使在這種降低的速度下,大多數分立存儲器或者FPGA內部存儲器在可靠獲取這個數據上也存在問題。因此使用DDR非常有利,因為DDR在時鐘的上升和下降沿都輸出數據。盡管數據速率對于DDR信號傳輸來說不變,時鐘頻率減半,達到更便于管理的250MHz,這個頻率在CMOS存儲電路的范圍內。在數據能保存在存儲器之前,需要在輸入到FPGA器件中間采用一個數據鎖存器對。第一個鎖存器使用同步數據時鐘,而第二個鎖存器使用180度異相的時鐘,或者反向數據時鐘(見圖3)。

                                                                     圖3:FPGA數據獲取架構框圖。

為簡化這種時鐘要求,F(xiàn)PGA帶有一種以PLL(鎖相環(huán))或者DLL(延時鎖定環(huán))形式實現(xiàn)的數字時鐘管理器。這些器件允許在內部產生時鐘信號,這些時鐘信號能與輸入時鐘信號鎖定,提供相位延時間隔為0、90、180和270度。這種時鐘管理功能允許DDR時鐘方案通過提供一種精確的180度移相時鐘來有效工作。這反過來允許輸入數據與下降沿同步,以能可靠地獲取到數據鎖存器中。
在鎖存之后,輸入數據可以被傳輸到FIFO存儲器或者Block RAM。在這里,數據可以以很低的速度輕易地被系統(tǒng)微控制器獲得,以進行獲取后的處理。

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