中文引用格式: 陶青平,沈婧. 基于UVM和C語言驗證JTAG調(diào)試協(xié)議的研究與實現(xiàn)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2023,49(10):112-117.
英文引用格式: Tao Qingping,Sheng Jing. Design and implementation for JTAG protocol test based on UVM and C[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(10):112-117.
0 引言
隨著集成電路工藝的快速發(fā)展,芯片的研究設(shè)計周期亦在不斷縮短[1]。四線制的JTAG接口調(diào)試依然是大多數(shù)芯片設(shè)計采用的調(diào)試手段。JTAG協(xié)議功能的好壞很大程度上決定了流片回來后的芯片是否具有可調(diào)試狀態(tài)。不同芯片的JTAG協(xié)議不盡相同,基于TestBench或者原型驗證的方式,在驗證JTAG協(xié)議上存在著驗證效率低下、可移植性差或者無法完全復(fù)制芯片的JTAG功能,這對JTAG協(xié)議驗證調(diào)試提出了巨大的挑戰(zhàn)。眾所周知,通用驗證方法學(xué)UVM在IC驗證領(lǐng)域得到了全面廣泛的運用[2-3],其所具有的封裝、繼承、面向?qū)ο蟮冗@些優(yōu)點,并且包含大量功能全面的組件和基類,同時又擁有factory、config、TLM等機制[4-8],使得其具有良好的移植特性。而C語言作為一種悠久且優(yōu)秀的語言,編寫測試用例較為便利。
綜合二者的優(yōu)勢,對比傳統(tǒng)的驗證方式,方案中驗證JTAG協(xié)議方式猶如上位機IDE通過JTAG仿真器調(diào)試芯片一樣便利。C語言編程可封裝大量函數(shù)供驗證人員調(diào)用,利于僅熟悉C語言編程的開發(fā)和驗證人員一同參與到驗證JTAG調(diào)試協(xié)議中。更有甚者IDE設(shè)計開發(fā)亦可同步進行開發(fā)。通過該種方法來驗證JTAG功能,明顯優(yōu)于依賴FPGA原型驗證或者設(shè)計驗證人員寫TestBench來驗證其功能的方法。
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作者信息:
陶青平,沈婧
(中國電子科技集團公司第五十八研究所,江蘇 無錫 214035)