科學儀器領域項目獲批立項

9月2日，復享光學承擔的上海市2022年度“科技創(chuàng)新行動計劃”科學儀器領域項目《堆疊環(huán)柵晶體管（GAA-FET）制程量測拉曼光譜儀》獲批立項。

面向先進制程，復享光學承擔大型科學儀器研制項目

本次復享光學承擔的項目，屬于“科學儀器研制開發(fā)”專題項目。該項目基于共焦拉曼光譜，發(fā)展面向GAA-FET制程檢測的拉曼光譜技術，探索在GAA-FET制備過程中多層納米薄膜的厚度、應力、界面起伏、橫向刻蝕和溝道載流子遷移率等關鍵參數(shù)的量測技術，形成一套具有重大產業(yè)應用前景的專業(yè)高端拉曼光譜設備。

通常來講，大型科學儀器研發(fā)制造，要求承擔單位具備堅實可靠的研發(fā)積累、制造工藝和應用經驗。同時，大型科學儀器的研制還涉及多學科領域的大量基礎研究，要求承擔單位從技術原理出發(fā)，探索前沿科學，深入創(chuàng)新源頭，才能形成原始技術突破，研制出創(chuàng)新型、突破型的高端科學儀器。

復享光學作為深度光譜技術創(chuàng)導者，始終回歸光與物質的相互作用原理，十年專注光譜技術的研發(fā)與應用，在光譜模組產品的研制基礎之上，先后向市場推出多款大型集成光譜系統(tǒng)，融合光學智能算法，解決了多項科研和先進制造中的復雜關鍵問題，是創(chuàng)新型光譜儀器的可靠的研制者。

在拉曼技術研發(fā)和應用領域，復享光學是國內較早研究拉曼技術的光學企業(yè)，已研發(fā)并向市場推出拉曼系列產品，涵蓋拉曼檢測模塊和拉曼檢測系統(tǒng)。尤其公司共焦光譜產品線中的gora系列顯微共焦拉曼光譜系統(tǒng)，融合拉曼光譜技術與共焦技術，實現(xiàn)衍射極限下的空間分辨率，獲取微觀層面的物質成分和結構信息，是復享光學拉曼光譜技術的代表產品。復享光學共焦光譜產品線已申請數(shù)十項相關專利，獲得上海市高新技術轉化項目“顯微共焦光譜系統(tǒng)”的認證，已服務于國內外眾多高校和科研院所，獲得良好的用戶反饋。

立足行業(yè)尖端，復享光學建立先進制造裝備世界品牌

科學儀器既是前沿科學研究的重要工具，也是集成電路等先進制造裝備的重要組成部分。該項目面向集成電路下一代的3nm 及以下制程，基于拉曼光譜技術，開發(fā)針對GAA-FET制備過程多層納米薄膜的量測設備，以保障芯片的最終良率，具有重大產業(yè)應用前景。

“一代制程，一代工藝，一代設備”，新一代GAA-FET制程即將打開新的全球技術格局，也將帶來產業(yè)布局新的變化。隨著制程不斷推進，芯片制備過程中的量測工序大幅增加，精密量測技術對于良率控制的重要性已經不言而喻。其中，占據(jù)全部檢測技術約70%的光學量測，是集成電路量測的關鍵，面臨著巨大的機遇和挑戰(zhàn)。

為響應半導體集成電路產業(yè)需求，需要建立多層次的研發(fā)平臺。為此，復享光學成立了對接產業(yè)需求的“上海微納制程智能檢測工程技術研究中心”，并與復旦大學共同建立了致力于研究微納制造前沿共性關鍵技術的“光檢測與光集成校企聯(lián)合研究中心”。

當前正處于GAA-FET技術規(guī)范形成的前期，復享光學攜兩個中心，主動參與全球產業(yè)技術的交流和競爭，抓住國內產業(yè)發(fā)展創(chuàng)造的市場空間和國際技術新老迭代的窗口機遇，通過深入產業(yè)供應鏈和承擔重大政府專項，致力于在GAA-FET微納制程量測領域取得重大突破，推動集成電路國產設備的跨越式發(fā)展。

同時，復享光學將以此為契機發(fā)展智能光譜技術，以深度算法為驅動，持續(xù)精研拉曼光譜、顯微光譜、相位光譜、角分辨光譜等分析技術，通過以科研應用為基礎和出發(fā)點，以產業(yè)需求為目標和落腳點，形成具有自主知識產權的高端科學檢測儀器系列產品，參與全球技術迭代，建立光學領域的先進制造世界品牌。

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