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超1000萬顆!比亞迪半導(dǎo)體車規(guī)級MCU再顯強(qiáng)勁實(shí)力

2021-05-25
來源:比亞迪半導(dǎo)體

 隨著汽車自動(dòng)化、電動(dòng)化、智能化、網(wǎng)聯(lián)化推動(dòng)汽車行業(yè)快速發(fā)展,車規(guī)級MCU的市場需求不斷增加。根據(jù)國際知名分析機(jī)構(gòu)IC Insights預(yù)測,2021-2023年器件漲幅逐步加大,車規(guī)級MCU芯片年銷售額將達(dá)到81億美元。

  2007年,比亞迪半導(dǎo)體進(jìn)入工業(yè)MCU領(lǐng)域,工業(yè)級觸控MCU市場占有率國內(nèi)第一?;谛袠I(yè)深厚的積淀、高品質(zhì)的管控能力與強(qiáng)勁的研發(fā)實(shí)力,比亞迪半導(dǎo)體從工業(yè)級MCU跨越延伸到車規(guī)級MCU,并于2018年率先推出第一代8位車規(guī)級MCU芯片,2019年推出第一代32位車規(guī)級MCU芯片,批量裝載在比亞迪全系列車型,實(shí)現(xiàn)汽車整體智能化。比亞迪半導(dǎo)體車規(guī)級與工業(yè)級MCU芯片,至今累計(jì)出貨已突破20億顆。

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  值得一提的是,由比亞迪半導(dǎo)體生產(chǎn)的32位車規(guī)級MCU——BF7106AMXX系列產(chǎn)品,于去年11月榮獲2020全球電子成就獎(jiǎng)之“年度杰出產(chǎn)品表現(xiàn)獎(jiǎng)”。

  車規(guī)級MCU的研發(fā)難度具體表現(xiàn)在四個(gè)層面上:工作溫度-40℃~125/150℃,交付不良率0ppm,工作壽命大于15年,滿足ISO26262功能安全等級要求。因功能性、安全性、可靠性等要求嚴(yán)苛,車規(guī)級MCU的技術(shù)難度遠(yuǎn)大于消費(fèi)級MCU和工業(yè)級MCU,并存在較高技術(shù)壁壘,具有研發(fā)周期長、設(shè)計(jì)門檻高、資金投入大和認(rèn)證周期長等特點(diǎn)。

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  在研發(fā)與技術(shù)實(shí)力方面,比亞迪半導(dǎo)體MCU擁有300余人研發(fā)團(tuán)隊(duì),完全掌握8051/32位ARM處理器設(shè)計(jì)與應(yīng)用、電容傳感器技術(shù)、數(shù)字/模擬信號處理技術(shù),嚴(yán)格遵循IATF16949標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)管控流程。車規(guī)級MCU及電子產(chǎn)品品質(zhì)達(dá)到AEC-Q100 Grade1標(biāo)準(zhǔn),并且依據(jù)ISO26262標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì),降低汽車電子系統(tǒng)層級為滿足功能安全標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)復(fù)雜程度,提升可靠性。MCU產(chǎn)品現(xiàn)已申請328件國內(nèi)外專利、201件發(fā)明專利。

  未來,比亞迪半導(dǎo)體預(yù)計(jì)將推出車規(guī)級8位超低功耗系列MCU,及高端32位M4F內(nèi)核MCU等產(chǎn)品。

  在汽車芯片大規(guī)模缺貨的行情下,比亞迪半導(dǎo)體始終堅(jiān)持開拓創(chuàng)新,提升研發(fā)實(shí)力,精進(jìn)產(chǎn)品工藝,并致力突破高難度的技術(shù)瓶頸,打造高可靠性、高性能、高集成度的車規(guī)級MCU產(chǎn)品。

  注釋:

  ISO26262作為汽車電子功能安全標(biāo)準(zhǔn),旨在提高包括車規(guī)級MCU芯片的汽車電子電氣產(chǎn)品的功能安全性,最大限度地降低器件或系統(tǒng)失效而帶來的整車風(fēng)險(xiǎn),提升產(chǎn)品內(nèi)在價(jià)值和品牌形象。該標(biāo)準(zhǔn)區(qū)別于品質(zhì)要求,其對整個(gè)產(chǎn)品研發(fā)中的軟硬件設(shè)計(jì)、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證評估以及人員資質(zhì)等方面提出了系統(tǒng)化的、技術(shù)性的方法與要求,并形成嚴(yán)格的功能安全等級評定準(zhǔn)則。因此,ISO26262給國內(nèi)芯片企業(yè)提出了新的挑戰(zhàn)。

  AEC-Q100作為車載應(yīng)用集成電路產(chǎn)品的應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn),對提升產(chǎn)品可信度、保證產(chǎn)品品質(zhì)相當(dāng)重要。依據(jù)AEC- Q100標(biāo)準(zhǔn)要求,對每個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠性確認(rèn),特別是對產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范性測試,來預(yù)防產(chǎn)品發(fā)生故障或失效,提升整體產(chǎn)品良率,具有明顯的實(shí)際意義。




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