泰克實(shí)驗(yàn)室開放日活動(dòng)【PCIe4/PCIe5專題】于9月17~19日在泰克上海辦公室舉行，活動(dòng)首日的公開課環(huán)節(jié)，特邀PCI-SIG 前Chairman - Dan Froelish擔(dān)任PCIe5專題的導(dǎo)師，為工程師們帶來PCIe的最新信息。Dan與參會工程師分享了PCI5.0以及PCIe6.0規(guī)范的最新進(jìn)展，設(shè)計(jì)和測試將面臨的挑戰(zhàn)，測試方法論的邏輯及其實(shí)現(xiàn)方法。

　　加入泰克前，Dan曾擔(dān)任PCI-SIG電氣工作組聯(lián)合主席(co-chair)和技術(shù)編輯，負(fù)責(zé)PCIe4.0和PCIe5.0電氣規(guī)范部分的開發(fā)。在2005-2018年間，Dan還擔(dān)任PCI-SIG CEM 工作組的主席和技術(shù)編輯，負(fù)責(zé)PCIe2.0/3.0/4.0以及PCIe5.0 CEM規(guī)范的早期開發(fā)。此外，在2007-2018年間，Dan作為Serial Enabling 工作組(一致性測試)的聯(lián)合主席和技術(shù)編輯，領(lǐng)導(dǎo)并達(dá)成多個(gè)測試規(guī)范的技術(shù)攻堅(jiān)，推動(dòng)PCI-SIG一致性測試規(guī)范的進(jìn)程。Dan 曾獲得Intel成就獎(jiǎng) ，以表彰他在USB2.0和USB3.0規(guī)范及一致性測試開發(fā)中所作出的卓越貢獻(xiàn)。

　　Dan侃侃而談兩小時(shí)，其深厚的技術(shù)功底和獨(dú)到的見解讓與會工程師深受啟發(fā)。除了規(guī)范最新進(jìn)展、測試方法論邏輯及其實(shí)現(xiàn)，公開課環(huán)節(jié)還詳細(xì)介紹了當(dāng)前大熱的PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)，泰克公司對發(fā)送端測試、接收端測試、LinkEQ、PLL Bandwidth等測試項(xiàng)目的完整解決方案，并做了現(xiàn)場實(shí)測演示。來自14家業(yè)內(nèi)知名公司共20位工程師參加了此次的公開課。

　　泰克卓越的PCIE測試方案如下。開放日活動(dòng)的第二日和第三日 (9月18-19日)，實(shí)驗(yàn)室接待PCIe4開發(fā)者攜帶自己的產(chǎn)品前來實(shí)測和體驗(yàn)，為產(chǎn)品的開發(fā)和驗(yàn)證帶來信心。

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