基于CompactPCI體系的高性能監(jiān)測(cè)測(cè)向處理平臺(tái)研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>303 K
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：提出一種新的高速并行采樣技術(shù)架構(gòu)以及基于可編程芯片技術(shù)和支持靈活配置的并行處理嵌入式硬件架構(gòu).該平臺(tái)集多通道高速采集、大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、高性能DSP與大規(guī)模FPGA緊耦合實(shí)時(shí)處理等功能于一體,在綜合集成與應(yīng)用方面具有創(chuàng)新性,能夠保障對(duì)多模式、多速率、多頻段信號(hào)分析在信號(hào)層上頻域的寬闊全覆蓋和時(shí)域的連續(xù)性,同時(shí)又因其硬件上提供了豐富的資源裕量,因而可以滿足信息層上對(duì)多種標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議分析的需求及應(yīng)對(duì)其未來(lái)的演進(jìn).
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。