前言
在采用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試多端口微波器件時(shí),測(cè)試過程中需要更換測(cè)試電纜和DUT不同端口之間的連接。如用兩端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量雙工器,除了第一次連接以外,在測(cè)試過程中還需要變換兩次連接,測(cè)試者要另外做出四次連接動(dòng)作(兩次接電纜,兩次接測(cè)試負(fù)載),然后再對(duì)儀器進(jìn)行手動(dòng)操作測(cè)試。在大批量生產(chǎn)情況下,這種傳統(tǒng)測(cè)試方法的測(cè)試效率較低,測(cè)試成本較高;尤其是高低溫試驗(yàn)時(shí),傳統(tǒng)的測(cè)試方法無法滿足需求。
本文討論了一種自動(dòng)化測(cè)試方法的實(shí)踐——通過開關(guān)矩陣和自動(dòng)化測(cè)試軟件來快速、高效地完成雙工器的大批量高低溫試驗(yàn)。
問題的來源
本文所討論的問題來自數(shù)百只雙工器的高低溫試驗(yàn),要求被測(cè)雙工器在-30°C和+60°C的試驗(yàn)箱里各放置60分鐘,用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試其S參數(shù),出廠要求100%全檢。
圖1為雙工器的電原理圖,其中TX/RX/ANT分別為發(fā)射/接收/天線端。雙工器的測(cè)試指標(biāo)包括ANT至TX之間、ANT至RX的插入損耗,TX和RX之間的隔離,以及三個(gè)端口的駐波。
圖1. 雙工器電原理圖
首先我們采用了傳統(tǒng)方法進(jìn)行高低溫試驗(yàn),表1顯示了測(cè)試流程和花費(fèi)時(shí)間。
表1. 傳統(tǒng)的高低溫試驗(yàn)方法及耗時(shí)
按照傳統(tǒng)的工藝流程,每只雙工器的高低溫試驗(yàn)需要耗時(shí)約3小時(shí)40分鐘,無論如何,這樣一天只能完成3只雙工器的高低溫試驗(yàn),如果是100只,需要花費(fèi)33個(gè)工作日,這顯然是不可接受的。
多端口微波器件的高效率測(cè)試解決方案
常溫測(cè)試方法介紹
我們采用2×N的全開關(guān)矩陣來擴(kuò)展矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試端口,以適應(yīng)多端口微波器件的測(cè)試。
圖2顯示了采用2×6開關(guān)矩陣進(jìn)行雙工器測(cè)試的系統(tǒng)連接圖,其中網(wǎng)絡(luò)分析儀通過開關(guān)矩陣后變成了“6端口”。采用開關(guān)矩陣后,測(cè)試參考面延伸至六條測(cè)試電纜的端口,開機(jī)后,首先對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn),自動(dòng)化測(cè)試軟件可以記錄并保存每個(gè)通路的校準(zhǔn)值,并在測(cè)試過程中調(diào)用;連接好被測(cè)件后,根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)置好測(cè)試條件,然后點(diǎn)擊“開始”鍵,軟件會(huì)自動(dòng)完成整個(gè)測(cè)試過程并生成測(cè)試報(bào)告。
通過自動(dòng)化測(cè)試軟件的指令,可以自動(dòng)切換不同的測(cè)試通路,依次完成雙工器1和雙工器2的各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試,而不需要手動(dòng)更換電纜和測(cè)試端口。
圖2. 采用開關(guān)矩陣進(jìn)行雙工器的自動(dòng)化測(cè)試
采用圖2的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),完成校準(zhǔn)、測(cè)試條件設(shè)置后,測(cè)試一只雙工器只要花費(fèi)幾秒鐘時(shí)間,常溫條件下,一天可以完成200-300只雙工器的測(cè)試,相比兩端口網(wǎng)絡(luò)分析儀直接測(cè)量法,測(cè)試效率至少提高了五倍。同時(shí)測(cè)試精度也是與采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一致的[1]。
表2. 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的高低溫試驗(yàn)方法及耗時(shí)
按照自動(dòng)化測(cè)試的工藝流程,八只雙工器的高低溫試驗(yàn)需要耗時(shí)約2小時(shí)51分鐘,這樣一天至少可以完成24只雙工器的高低溫試驗(yàn),如果是100只,只需要花費(fèi)4.2個(gè)工作日,這比傳統(tǒng)的工藝流程測(cè)試效率提高了8倍。
圖3. 采用開關(guān)矩陣進(jìn)行雙工器的自動(dòng)化測(cè)試
圖4.現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試場(chǎng)景
按照上述實(shí)驗(yàn)方法,我們總共完成了500只雙工器的高低溫及常溫的測(cè)試,花了不到20天時(shí)間。根據(jù)試驗(yàn)箱的容量以及開關(guān)矩陣的通路數(shù),測(cè)試效率還可以進(jìn)一步提高。