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硅基彩色濾光片可突破像素縮小限制

2017-05-02

過去十年來,雖然像素尺寸已經(jīng)大幅縮小了,但要設(shè)計(jì)出能因應(yīng)像素尺寸縮小的高效率彩色濾光片仍然是一大挑戰(zhàn)…

由美國和韓國三星先進(jìn)技術(shù)研究院(Samsung Advanced Institute of Technology;SAIT)的研究人員組成的跨國研究團(tuán)隊(duì)共同開發(fā)一款新型的硅基RGB彩色濾光片,可用于配合CMOS影像傳感器持續(xù)縮小的像素尺寸要求。

過去十年來,雖然像素尺寸已經(jīng)大幅縮小了(從超過10μm縮至不到2μm),但要設(shè)計(jì)出能因應(yīng)像素尺寸縮小的高效率彩色濾光片仍然是一大挑戰(zhàn)。

研究人員在《奈米通訊》(Nano Letters)期刊發(fā)表的“可見波長彩色濾光片以介電質(zhì)次波長光閘實(shí)現(xiàn)背照式CMOS影像傳感器技術(shù)”(Visible Wavelength Color Filters Using Dielectric Subwavelength Gratings for Backside-Illuminated CMOS Image Sensor Technologies)一文中強(qiáng)調(diào),在數(shù)位彩色成像中的RGB彩色濾光片經(jīng)常使用摻雜染料的聚合物,并棄置絕對效率較低(約40-50%)的等離子彩色濾光片,而以簡單的電介質(zhì)次波長光閘來取代,這種傳統(tǒng)途徑的效果十分有限。

因此,研究人員以5μm至1μm范圍的不同像素尺寸創(chuàng)造了幾種彩色濾光片設(shè)計(jì)(硅光電二極體上的RGB貝爾圖案)。這種微型光柵采用硅光電二極體層上SO2隔離層頂部的多晶硅(poly-Si)制造的,經(jīng)證實(shí)能實(shí)現(xiàn)高效率的傳輸,而幾乎不受光入射角度的影響。 對光入射角度較不敏感。

研究人員以不同的電洞氣孔圖案進(jìn)行實(shí)驗(yàn)后發(fā)現(xiàn),最佳化的RGB彩色濾光片結(jié)構(gòu)是由80nm厚多晶硅板與氣孔組成,并在背照式(BSI)硅光電二極體上放置一層115nm厚的SiO2隔離層。紅色部份是由六邊形晶格上的90nm直徑氣孔與250nm周期組成,綠色部份采用在方形晶格上的180nm周期與140nm直徑氣孔設(shè)計(jì),而藍(lán)色的設(shè)計(jì)則是在六角形晶格上的240nm直徑氣孔與270nm周期。

根據(jù)該論文解釋,相較于基于染料的濾光片,基于電介質(zhì)的濾光片在紫外線照射和高溫下可提供更好的可靠性。同時(shí),“由于該結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)對稱特性,光譜響應(yīng)對于一般入射的偏振較不敏感,而且,對每一種顏色來說,重要的是在縮小像素尺寸的同時(shí)必須維持所傳送的色彩,但濾光片對于角度響應(yīng)相對較不敏感。”

更重要的是,電介質(zhì)光柵彩色濾光片更易于進(jìn)行客制化,且相容于微米級與次微米級像素尺寸。為了讓濾光片的制造更相容于CMOS后端制程,可以采用脈沖雷射低溫退火過程,制備低損耗的多晶硅層,以取代研究人員在其實(shí)驗(yàn)中使用的高溫退火過程。

研究人員表示,“再者,借由利用空間設(shè)計(jì)的自由度改變相位、振幅以及次波長光閘所能傳輸?shù)钠瘢湍芤怨韫怆姸O體層頂部的一層電介質(zhì)次波長光閘,取代傳統(tǒng)染料摻雜的彩色濾光片以及CIS像素頂部的微鏡?!?/p>

最終,三星(Samsung)是否將會(huì)授權(quán)該IP,或者保留于其產(chǎn)品組合,并用于自家的傳感器解決方案中,則有待時(shí)間的證明。

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