《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 4200A-CVIV多開關(guān)使測試時間縮短30倍

4200A-CVIV多開關(guān)使測試時間縮短30倍

2017-04-27

  把各種測量集成到器件特性分析中最困難的問題之一,是每種測量類型基本上都要求不同的線纜。選擇與測量類型配套的線纜增強(qiáng)了測量完整性。但是,改變每種測量類型的電纜耗時很長,許多用戶只能接受次優(yōu)結(jié)果。此外,在重新連接電纜時,用戶會面臨電纜重連不正確的風(fēng)險,進(jìn)而導(dǎo)致錯誤,需要額外的調(diào)試時間。更糟糕的是,這些錯誤在很長時間內(nèi)都可能注意不到。

  針對這些開關(guān)測試的困擾,泰克圍繞客戶應(yīng)用需求進(jìn)行創(chuàng)新,其新型吉時利高速度、高完整性開關(guān)解決方案幫助客戶輕松完成復(fù)雜測試。4200A-CVIV多通道開關(guān)在I-V測量和C-V測量之間自動切換,C-V測量可以移動到任何輸出通道上,而不需重新布線。這種4通道開關(guān)允許用戶在I-V和C-V測試期間保持相同的阻抗,可以把探針保留在晶圓測試站上。另外,用戶不需要改變測試設(shè)置和電纜連接,從而增強(qiáng)測量的準(zhǔn)確性。

  雙像素二極管特性分析應(yīng)用

  伯克利國家實(shí)驗(yàn)室檢測器部門的科研人員正在開發(fā)更高效的硅檢測器,用來監(jiān)測空基應(yīng)用中使用的各種放射信號,如X射線。其檢測器是一種雙像素二極管傳感器。雙像素二極管由兩個PIN二極管組成,每個二極管的陽極相連。開發(fā)工作包括在工廠鑄造晶圓。晶圓鑄造工藝一般要求在晶圓制作的各個階段及在晶圓完工時進(jìn)行測試,以保證工藝完整性,確保原型器件滿足設(shè)計規(guī)范。

  典型的器件特性分析包括在高達(dá)100V和CV (電容-電壓)的正向和逆向偏置條件下分析IV特性。由于器件是雙二極管排列,因此每個器件要執(zhí)行兩次IV和CV測試,一對二極管中每個二極管測試一次。在使用老式測試配置和設(shè)備時,整個器件特性分析中每個器件需要長達(dá)10分鐘才能完成IV和CV測試。

  將老式IV/CV測試設(shè)備換上吉時利Model 4200A和最新CVIV多開關(guān)后,客戶的測試時間明顯縮短,因?yàn)椴恍枰獮槊糠N測試類型手動重新配置測試,大大改善了數(shù)據(jù)采集和管理工作。

  通過利用4200A-CVIV多開關(guān)來消除測試站重新配置,并在Clarius測試軟件內(nèi)部綜合執(zhí)行所有測試,總體測試時間從6分鐘縮短到僅12秒。盡管這不是生產(chǎn)環(huán)境,但測試時間縮短到幾秒仍令科研人員非常高興,因?yàn)樗麄兛梢园阎攸c(diǎn)放在研究上,更快地了解器件特點(diǎn)。

1.png

  圖1:4200A-CVIV多開關(guān)。

2.png

  圖2:使用傳統(tǒng)設(shè)備所需的測試時間與使用4200A-SCS參數(shù)分析儀及CVIV多開關(guān)所需的測試時間。

  泰克高性能4200A-SCS 是一個模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀,可同時進(jìn)行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學(xué)測試。使用其可選的 4200A-CVIV 多通道開關(guān)模塊,可輕松地在 I-V 和 C-V 測量之間切換,而無需重新布線或抬起探針。4200A-SCS參數(shù)分析儀可大大加快客戶的測試速度,廣泛用于材料研究、半導(dǎo)體器件設(shè)計、工藝開發(fā)或生產(chǎn)的復(fù)雜器件。


本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。