手機(jī)等電子設(shè)備的許多故障事實(shí)上是由于外太空的亞原子粒子造成的。

騰訊科學(xué)訊 據(jù)英國《每日快報(bào)》報(bào)道，美國范德堡大學(xué)的一項(xiàng)最新研究發(fā)現(xiàn)，計(jì)算機(jī)和手機(jī)的死機(jī)故障或許是由來自太陽系外的宇宙射線產(chǎn)生的帶電粒子造成的。范德堡大學(xué)的教授Bharat Bhuva稱這是一個(gè)大問題，但卻不為公眾了解。

研究發(fā)現(xiàn)，以接近光速傳輸?shù)挠钪嫔渚€撞擊地球大氣層，產(chǎn)生了次級粒子瀑布。Bhuva教授稱，每秒鐘有數(shù)百萬個(gè)這種粒子撞擊人體，但是我們卻無法感知它們，而且它們對于生物體的害處我們還不得而知。但是當(dāng)涉及到技術(shù)領(lǐng)域，它們就存在一定的消極影響了。

科學(xué)家們發(fā)現(xiàn)，只有一部分的帶電粒子能夠攜帶足夠的能量與微電子電路產(chǎn)生干涉。當(dāng)它們與集成電路產(chǎn)生交互作用，它們就能夠?qū)е聝?chǔ)存的數(shù)據(jù)信息產(chǎn)生單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）現(xiàn)象。研究中也提出，難以了解這些粒子何時(shí)何地會(huì)到來。它們的到來缺乏任何的有形破壞，它們引發(fā)的設(shè)備失靈也難以確定，因此確定SEU的發(fā)生幾率并不容易。

Bhuva教授解釋道：“當(dāng)你遭遇一次亞原子粒子的侵襲，它有可能成為任何故障的起因。有可能是軟件故障，也有可能是硬件問題。你唯一可以確定這是一次SEU的方法就是排除其它所有可能的原因。”

雖然這些故障原因難以識(shí)別，但是SEU導(dǎo)致的問題通常是極其嚴(yán)重的。比如說，2003年的一次SEU導(dǎo)致比利時(shí)斯哈爾貝克鎮(zhèn)的電子投票機(jī)將4096張投票全部投給了一位候選人。人們在后來發(fā)現(xiàn)這位候選人獲得驚人的投票數(shù)后才發(fā)現(xiàn)這一故障。

據(jù)Bhuva教授稱：“在航空公司已經(jīng)發(fā)生了許多無法解釋的小故障，其中一些被專家認(rèn)定為必然由SEU造成。這些故障導(dǎo)致數(shù)百次航班被取消，并且造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。半導(dǎo)體制造商也非常擔(dān)憂這一問題，因?yàn)楣收蠈τ谒麄儊碚f更加嚴(yán)重。除此之外，微電子電路可以說無處不在，我們的社會(huì)正變得越來越依賴于它們?！保ㄟ^客/編譯）