新聞要點(diǎn)：

　　·作為超高功率可調(diào)諧激光源，可提供測(cè)試設(shè)置中更高的功率預(yù)算，可以更快探測(cè)到經(jīng)過被測(cè)器件的輸出光信號(hào)，加快了光纖或探頭對(duì)準(zhǔn)

　　·可對(duì)光器件進(jìn)行相對(duì)光信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試，甚至在探頭耦合或外調(diào)制的情況下

　　·提高 100GBASE-LR4 接收機(jī)光組件和光分路制造商的測(cè)試吞吐量

　　2016 年 3 月 23 日，北京——是德科技公司（NYSE：KEYS）今日宣布推出一款超高功率可調(diào)激光源 81602A。81602A 放寬了測(cè)試設(shè)置中對(duì)功率預(yù)算的限制，從而可以加大光器件輸出光功率以便光纖或者探頭可以更快對(duì)準(zhǔn)。是德科技還為最近推出的 8160xA 系列可調(diào)諧激光源模塊引入了新的波長(zhǎng)，適用于 8164B 光波測(cè)量系統(tǒng)。

　　新型 81602A 超高功率可調(diào)激光源的光功率達(dá)到了 +17 dBm（50 mW）以上。在驗(yàn)證光子集成設(shè)計(jì)的過程中，這種高輸出功率有助于為光學(xué)表面探頭的耦合損耗或外部調(diào)制器的插入損耗提供補(bǔ)償。這使其能以相對(duì)信號(hào)功率和波長(zhǎng)測(cè)試光子器件。憑借 1250 nm 至 1370 nm 的可調(diào)范圍，此激光源可用于最新的硅光子研究。

　　利用新的 8160xA型號(hào)，LR4 和 CWDM 接收機(jī)光組件（ROSA）和光分路器可顯著提高測(cè)試吞吐量。

　　81606A 和 81608A 可調(diào)激光源模塊配備新選件 113 后，可覆蓋從 1240 nm 至 1380 nm 的波長(zhǎng)范圍，并以低自發(fā)發(fā)射提供 +13 dBm 以上的峰值輸出功率。這使客戶可以測(cè)量遠(yuǎn)超于噪聲功率的 100GE 以太網(wǎng) ROSA 的頻譜響應(yīng)和靈敏度，并以高測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍驗(yàn)證多路復(fù)用器/多路隔離器的隔離度。

　　新選件 113 可在 81606A 上使用，該系列的高端型號(hào)具有低于信號(hào) 80 dB/nm 的自發(fā)輻射，即使采用 200-nm/s 雙向掃描時(shí)也能提供出色的可調(diào)精度和亞皮米可重復(fù)性。選件 113 也可用于 81608A 高性價(jià)比可調(diào)激光源，它在雙向掃描高達(dá) 200 nm/s 時(shí)擁有 ±1.5-pm 的波長(zhǎng)可重復(fù)性，并可提供低于信號(hào) 75 dB/nm 的自發(fā)發(fā)射功率，還可用于 81609A 基礎(chǔ)型步進(jìn)可調(diào)諧激光源。

　　所有的新可調(diào)激光源系列均可兼容當(dāng)前的 81600B 可調(diào)諧激光源系列 可編程命令以及 N7700A 光應(yīng)用套件。后者是可支持快速進(jìn)行精確光測(cè)量的軟件解決方案，能夠控制光纖光儀器并分析測(cè)量結(jié)果。這使工程師非常容易過渡到新模塊，或把新型號(hào)集成到他們的測(cè)試系統(tǒng)中。

　　是德科技副總裁兼數(shù)字與光子測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理 Juergen Beck 表示，“對(duì)于硅光子研究人員和集成光學(xué)設(shè)計(jì)人員，在廣泛的波長(zhǎng)范圍內(nèi)對(duì)晶圓進(jìn)行表面探測(cè)時(shí)，經(jīng)常會(huì)面臨信號(hào)衰減方面的挑戰(zhàn)。有了我們的新型超高功率 O 波段可調(diào)激光源，他們將能夠更好地對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行表征，并以實(shí)時(shí)信號(hào)電平進(jìn)行功能測(cè)試?！?/p>

　　“面對(duì)數(shù)據(jù)中心的大規(guī)模擴(kuò)建，收發(fā)模塊制造商幾乎沒有時(shí)間及時(shí)擴(kuò)充 100GbE 組件生產(chǎn)線來提高吞吐量?！笔堑驴萍紨?shù)字與光子測(cè)試事業(yè)部高級(jí)營(yíng)銷總監(jiān) Joachim Peerlings 博士補(bǔ)充道?！巴ㄟ^將快速掃描波長(zhǎng)解決方案擴(kuò)展到 O 波段，我們的新選件能夠以業(yè)經(jīng)驗(yàn)證的測(cè)量方法和軟件來加快接收機(jī)組件及其元器件的大批量測(cè)試。”