《電子技術(shù)應用》
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4H-SiC無線無源高溫壓力傳感器設(shè)計
2014年電子技術(shù)應用第11期
喻蘭芳1,2,梁 庭1,2,熊繼軍1,2,崔海波1,2,劉雨濤1,2,張 瑞1,2
1.中北大學 儀器科學與動態(tài)測試教育部重點實驗室,山西 太原030051; 2.中北大學 電子測試技術(shù)國防科技重點實驗室,山西 太原030051
摘要: 高溫壓力傳感器研制的主要目的是解決高溫惡劣環(huán)境下的壓力測量問題,SiC是制造高溫壓力傳感器的理想材料,結(jié)合薄膜技術(shù)與陶瓷厚膜技術(shù),提出了一種新型的4H-SiC無線無源電容式高溫壓力傳感器設(shè)計方案。應用Ansys有限元分析軟件進行仿真, 600 ℃時靈敏度為2.65 MHz/bar,說明傳感器在高溫下具有較高的靈敏度,對制備過程中的關(guān)鍵工藝——SiC深刻蝕進行了驗證,刻蝕深度達到124 m,滿足傳感器制備要求。
中圖分類號: TN212
文獻標識碼: A
文章編號: 0258-7998(2014)11-0081-04
Design of 4H-SiC wireless passive high temperature pressure sensor
Yu Lanfang1,2,Liang Ting1,2,Xiong Jijun1,2,Cui Haibo1,2,Liu Yutao1,2,Zhang Rui1,2
1.Key Laboratory of Instrumentation Science & Dynamic Measurement,Ministry of Education,North University of China,Taiyuan 030051,China;2.Science and Technology on Electronic Test & Measurement Laboratory,North University of China,Taiyuan 030051,China
Abstract: The main purpose of the development of high-temperature pressure sensor is to solve the pressure measurement problems in high-temperature harsh environments, SiC is an ideal material for manufacturing high temperature pressure sensor. Combined the technology of thin film and ceramic thick-film technology, a new design of 4H-SiC capacitive wireless passive high temperature pressure sensor is introduced in this paper. The Ansys finite element analysis software is utilized to simulate, the sensitivity of the capacitance chip is 2.65 MHz/bar at 600 ℃, which proves that the sensor has relatively high sensitivity under high temperature. The key process of preparation—SiC deep etch is verified, etching depth reaches 124 um, meets the requirements of sensor preparation.
Key words : 4H-SiC;wireless passive;high temperature pressure sensor;Ansys;sensitivity;SiC deep etch

0 引言

  高溫壓力傳感器在民用和軍事上都有著十分廣泛的用途,然而高溫環(huán)境下的彈性結(jié)構(gòu)失穩(wěn)以及電引線性能退化是導致傳統(tǒng)MEMS壓力傳感器無法正常工作的關(guān)鍵原因。SiC是具有寬帶隙、高擊穿場強、高熱導率和高電子飽和速度及良好機械性能的材料,它的化學穩(wěn)定性和抗輻射能力等這些特性使SiC在制造高溫惡劣環(huán)境下的壓力傳感器中具有明顯的優(yōu)勢[1]。本文選擇SiC材料制備敏感結(jié)構(gòu),同時采用無線無源探測技術(shù)[2],從而實現(xiàn)高溫壓力測量。SiC是有許多同素異構(gòu)類型的化合物半導體,此處選擇4H-SiC進行研究,表1為4H-SiC與Si的主要特性比較。

1 工作原理


001.jpg

  壓力傳感器主要有壓阻式和電容式兩種結(jié)構(gòu),電容式壓力傳感器具備高靈敏度、高頻響、低溫漂等優(yōu)點,是SiC壓力傳感器更具潛力的研究方向[3]。電容式壓力傳感器的基本結(jié)構(gòu)如圖1所示,受到壓力作用時,薄膜產(chǎn)生形變,上下極板間距發(fā)生變化,從而改變電容器的容量。

  變化電容[4]:

  1.png

  其中2-.jpg,w棕為最大撓度,a為邊長,h為敏感膜厚度,d為空腔間距,r為SiC的相對介電常數(shù),0為真空介電常數(shù)。

  由平板熱彈性理論,在外部壓力和溫度載荷的共同作用下,膜片的變形積分方程[5]如下:

  2.png

  式中:p為外部壓力載荷,D為彎曲剛度,3+.jpg,E為楊氏模量泊松比,x、y、z分別為3個坐標軸,3++.png是熱膨脹系數(shù),為傳感器內(nèi)部溫度分布,穩(wěn)態(tài)傳熱過程中,熱傳導方程[6]如下:

  3.png

  其中,?籽為密度,Cp為比熱容,k為傳熱系數(shù)。

  由于高溫環(huán)境下引線性能退化,后續(xù)采用非接觸式無源技術(shù)進行測試。將電容與電感線圈串聯(lián)成LC諧振電路,利用互感耦合原理檢測頻率信號。原理圖如圖2所示。

002.jpg

  利用一個耦合線圈讀出電路(天線)在傳感器附近進行掃頻測量,當測量信號頻率與傳感器固有頻率耦合時發(fā)生共振,導致輸入阻抗發(fā)生明顯變化,從而推算其傳感器壓力相關(guān)的固有頻率。根據(jù)壓敏結(jié)構(gòu)的壓力-位移-電容-固有頻率傳輸函數(shù),可以計算出壓力的大小[7]。

  4.png

2 結(jié)構(gòu)設(shè)計

  陶瓷具有耐高溫、自封裝、絕緣、低成本等特性,低溫共燒陶瓷(LTCC)工藝在制作立體結(jié)構(gòu)方面具有特別的優(yōu)勢,使用LTCC材料和工藝來制作壓力傳感器,可滿足400~600 ℃左右高溫環(huán)境下的應用[8]。玻璃漿料鍵合是通過網(wǎng)印將玻璃漿料涂在鍵合面上,熔化所產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)并接觸第二個襯底,冷卻后會形成穩(wěn)定的機械性連接。它的優(yōu)勢在于其具有密封效果好,鍵合強度高,生產(chǎn)效率高,并且對于封接基板的表面沒有特殊要求[9]。利用玻璃漿料將SiC晶片制成的敏感膜與LTCC陶瓷鍵合制成電容,設(shè)計排氣管道,最后在真空環(huán)境下利用玻璃珠融化密封形成真空電容空腔,同時在陶瓷上印刷電感線圈,最后,引線鍵合串聯(lián)形成LC諧振電路。結(jié)構(gòu)如圖3所示。

003.jpg

  2.1 SiC晶片部分設(shè)計

  首先將SiC晶片減薄至一定厚度,在減薄后的晶片上刻蝕一定深度來構(gòu)成空腔,在另一面對應的位置刻蝕一定深度形成敏感膜。氧化一層二氧化硅絕緣層,在絕緣層上濺射一層Ti作為吸附層,再濺射一層Pt作為引線互聯(lián)層(中間可制備一層TiN擴散阻擋層,緩解層與層之間的動力學反應)[10],圖形化形成上電極,如圖4所示。

004.jpg

  2.2 陶瓷部分設(shè)計

  通過LTCC激光打孔、厚膜印刷技術(shù)和多層疊片技術(shù),經(jīng)過適當?shù)墓に嚥襟E制備出符合設(shè)計要求的電容下極板和鉑電感線圈。各層生瓷片打孔、印刷如圖5所示。

005.jpg

  3 仿真結(jié)果與分析

  對SiC薄膜進行仿真,由于SiC材料的彈性模量、泊松比、密度隨溫度的變化而變化[11],以及熱傳導、熱膨脹等現(xiàn)象的影響[12],傳感器在溫度改變時性能會發(fā)生變化,應用Ansys有限元分析軟件對傳感器薄膜作熱-結(jié)構(gòu)耦合場仿真分析。碳化硅在不同溫度下的特性參數(shù)如表2,仿真位移云圖如圖6所示。

010.jpg

006.jpg

  由仿真結(jié)果可知20 ℃、200 ℃、400 ℃、600 ℃溫度時2個大氣壓內(nèi)的最大撓度如表3所示。

011.jpg

  設(shè)計電感大小為2 H,由式(1)、式(4)可知諧振頻率變化如圖7所示。

007.jpg

  計算可得出20 ℃、200 ℃、400 ℃、600 ℃時的靈敏度分別2.35 MHz/bar、2.4 MHz/bar、2.55 MHz/bar、2.65 MHz/bar,可知傳感器在高溫下仍具有較高的靈敏度。

4 關(guān)鍵工藝驗證

  此方案中最關(guān)鍵的工藝是SiC的深刻蝕,由于SiC化學性質(zhì)十分穩(wěn)定,目前還未發(fā)現(xiàn)有哪種酸或堿能在室溫下對其起腐蝕作用,因此在SiC基體的加工工藝中常采用干法刻蝕[13]。由于Ni掩??涛g出的選擇比較大、臺階較直且表面狀況良好,此處選擇金屬Ni作為掩膜[14]。

  SiC中比較特殊的是C元素,采用SF6刻蝕時需要顧及到C,由于C和O能反應,因此加入O2是比較好的策略:

  SiC+O*+F*→SiF4↑+CO↑+CO2↑

  因此SiC刻蝕一般采用SF6+O2,再加入Ar輔助,提升物理性,角度垂直且速率較大,刻蝕掃描電子顯微鏡圖如圖8所示。

008.jpg

  刻蝕深度為124 m,滿足傳感器制備要求,底部形貌存在“sub-trench”現(xiàn)象,后續(xù)需進行工藝優(yōu)化。

5 結(jié)論

  通過對SiC電容式無線無源高溫壓力傳感器的設(shè)計和仿真分析可知,這種傳感器在600 ℃高溫時仍具有較高靈敏度,對傳感器制備過程中的關(guān)鍵工藝——SiC深刻蝕進行了驗證,滿足傳感器制備要求。后續(xù)將進行工藝優(yōu)化、傳感器的制備與測試。

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